一种气氛环境下材料光电流谱高通量测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术属于材料性能分析测试技术，可以测试多种材料在气氛中的光电流性能，为评价材料在光激发下的气敏性能以及评价材料的光电催化性能提供依据。本发明专利技术方法由光源部分、环境控制组件、测试腔、信号采集部分和控制部分组成。本发明专利技术方法测试多种材料在特定环境中、全光谱范围内光电流变化，为材料光电响应最佳响应范围和材料本征以及缺陷能级与含量的确定提供依据。本发明专利技术方法具有可控环境多，系统自动化程度高，单次测试样本多的特点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于材料性能分析测试技术，可以测试多种材料在气氛中的光电流性能，为评价材料在光激发下的气敏性能以及评价材料的光电催化性能提供依据，具体涉及一种气氛环境下材料光电流谱高通量测试装置。
技术介绍
金属氧化物半导体材料具有良好的光响应性能，因此被广泛应用于光催化材料、光电导器件、光激发气敏、光储能材料以及太阳能电池等领域。在这些应用中，当光源发射的光子被金属氧化物半导体材料吸收后，会在材料的导带和禁带产生电子和空穴。光生电子和空穴会改变材料的电学性能。因此，光对金属氧化物半导体材料的影响主要体现在对 其电学性能的影响，特别是对其电导变化的影响。同时，材料对光的吸收有其特定波长范围，在这个范围内，材料具有良好的性能。通过确定材料对光响应的最佳波长范围，对材料的使用条件提供建议。由于材料中还含有缺陷，缺陷受到光照射后也会释放所捕获的电子和空穴，但缺陷产生这个过程中所需要的光源波长与上述描述的本征激发不同。通过材料在全光谱范围内的光电流响应可以分离出本征的响应与缺陷的响应，进而间接的获得材料缺陷的种类和相对含量。在国内外已经有很多科研团体对材料在特定波长光源下的响应进行了深入的研究。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种气氛环境下材料光电流谱测试装置，其特征在于，该装置包括光源组件，环境控制组件，测试腔，信号采集模块和控制単元； 光源组件用于原来测试腔提供200 IlOOnm连续变化波长的単色光； 测试腔用于提供放置样本的空间，以及用于温度、湿度、光强以及波长的检测； 测试腔位于环境控制组件所提供的环境气氛中，环境气氛包括真空、氮气气氛、氧气气氛、干燥空气、可控湿度气氛、挥发性气氛； 信号采集模块用于多通道采集测试腔中所测试试样的信号，并对采集的信号进行预处理，并将所测试的模拟信号转换为数字信号传递给控制单元； 控制单元根据测量的需要发送控制命令至光源组件，光源组件接受信号后控制其光源按照命令的要求变化；控制单元根据测量的需要发送控制命令至环境控制组件，环境控制组件接受信号后控制测试腔中环境的变化；同时控制単元接收信号采集模块提供的数字信号，并进行显示。2.根据权利要求I所述的气氛环境下材料光电流谱测试装置，其特征在于，所述可控湿度气氛中湿度气氛的相対湿度可控范围为10% 100%RH。3.根据权利要求I所述的气氛环境下材料光电流谱测试装置，其特征在于，所述挥发性气氛的浓度可控，其范围为IOppm 3000ppm。4.根据权利要求I所述的气氛环境下材料光电流谱测试装置，其特征在于，単色光波长步进最小值在O. 5 2nm之间，单色光峰形半高宽小于5nm ;単色光步...

【专利技术属性】
技术研发人员：李华曜，谢长生，杨其成，张顺平，
申请(专利权)人：华中科技大学，
类型：发明
国别省市：