降低液晶面板水平黑白线不良发生率的方法技术

本发明专利技术公开了一种降低液晶面板水平黑白线不良发生率的方法，涉及液晶面板生产技术领域。该方法在检测或切割工序后，对液晶面板进行老化处理。本发明专利技术的方法既能够降低水平黑白线不良的发生率，提高产品品质，且方便实施、易于工艺控制；此外，还能充分利用现有的限制设备，降低工艺成本，实现优化配置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶面板生产
，尤其涉及一种。
技术介绍
在液晶面板的生产中，聚酰亚胺(Polyimide，PI)エ序分为PI涂敷(Coating)以及摩擦(Rubbing)两道エ序。其中，Rubbingエ艺是指为了形成一定的预倾角(PretiltAngle),并且按照一定方向排列液晶分子，以摩擦布(Rubbing Cloth)对基板上已经印刷好的PI膜进行摩擦，在PI膜上形成具有一定方向性沟痕的エ艺。以Rubbing产生的Pretilt角度的大小，随Rubbing的条件(Roller的转速、使用布料、布的压カ等)、以及取向膜材料的不同而有所改变。因此Rubbing在液晶面板的制造工程中非常重要的部分。目前在液晶面板的生产中，水平黑白线不良严重影响了产品的品质。水平黑线和水平白线从本质上讲是同一种不良，以水平黑线不良为例，如图1(a)所示，为水平黑线为沿摩擦载台(Rubbing Stage)前进方向(箭头所示方向)的、贯穿整张玻璃基板的黑线。造成液晶面板上会显示出水平黑白线不良的主要原因为Rubbing Cloth的不均匀(图1(b)中虚线所示为Rubbing Cloth上有一条线上的Rubbing毛不均勻),该不均勻产生的原因主要包括I. Rubbing Cloth本身缺陷，如多毛、少毛、少线等造成Rubbing效果不均勻。多毛、少毛可看成Cloth上的点缺陷；少线相当于一整圈少毛，由于摩擦转轴(RubbingRoller) 45°左右倾斜，少线在基板的效果会形成波高IOcm左右的波浪线，如图I (a)中线I所示。2.Pad(阵列端子)等各种端差对布的影响pad等因为高度比有效区高，长期作用可能使Cloth上相应区域的毛产生记忆，不能恢复到正常区域的程度，从而造成Rubbing效果不均匀，Pad等端差造成的后果在基板上应为直线，如图I (a)中线II所示，非波浪线；另外Rubbing过程中产生大量静电,可能在pad区域集中，也可能影响到相应的布毛的状态。3. Rubbing过程中毛上吸附的威力也可能造成Rubbing效果不均勻(此因素具有随机性)。Rubbing Cloth的不均匀性造成在该区域内取向层无法对液晶分子进行正常的取向或者是取向杂乱。而液晶分子之间的相互作用与液晶分子与取向层分子间的相互作用相比要小的多，液晶分子与取向层分子的相互作用是主要因素。在加电时该区域内液晶分子不能正常偏转，光的透过率就会偏低或者偏高，进而显示出水平黑白线不良。Rubbing强度对取向层表面液晶取向度也有影响，取向层表面的液晶分子取向度随摩擦强度的增加而增加，由于Rubbing Cloth的不均勻会造成不均勻区域的Rubbing强度会偏大或者偏小，取向层表面的液晶分子取向度就会因Cloth的均一程度而发生变化。经测量,水平黑线区域的方位角(Azimuth angle/deg)相对于正常区域会有所不 同，而Pretilt Angle并没有出现异常。Azimuthangle/deg就是液晶分子的长轴与Rubbing方向的夹角。从微观角度分析，当液晶长轴在一个圆锥面内旋转时，PretiltAngle不会变而方位角会一直变化。对于P I膜,Rubbing均勻性越好,Azimuth angle/deg分布所呈现出的正态分布图就会越集中在0度附近，而对于面板上的水平黑线区域的方位角主要分布在远离0度的区域，使得Azimuth angle/deg的正态分布图不再陆峭。而Azimuth angle/deg异常会造成该区域的液晶偏转出现异常，光透过率偏大或者偏小，从而显现出Mura不良。虽然现有的Rubbingエ艺已通过加强对Rubbing Cloth的分拣カ度、エ艺改善等方式将水平黑白线不良水平已降至了 0.8%，但仍无法完全消除。在现有的エ艺条件下，核检测(Cell Test)完毕后直接进行模组投入，水平黑白线作为ー种Mura性不良。被判定为水平黑白线不良的面板在Cell Test和模组检测(ModuleTest)均判为次级产品，严重制约着高质量级的显示屏数量的提高，同时对整个产品良率的提闻有着极大的影响。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本专利技术要解决的技术问题是提供一种降低液晶面板水平黑白线不良的发生率、提闻广品品质的。(ニ)技术方案为解决上述问题，本专利技术提供了一种，在核检测或切割エ序后，对液晶面板进行老化处理。其中，该方法使用老化试验机对所述液晶面板进行老化处理。其中，使用红外或激光制热方式对所述液晶面板进行老化处理。其中，所述老化处理为对所述液晶面板进行设定时间及设定温度的加热。其中，所述设定时间为16小时，设定温度为60°C。(三)有益效果本专利技术的方法既能够降低水平黑白线不良的发生率，提高产品品质，且方便实施、易于エ艺控制；此外，还能充分利用现有的限制设备，降低エ艺成本，实现优化配置。附图说明图1(a)为不均勻的Rubbing Cloth安装到Rubbing Roller前的状态示意图；图I (b)为不均勻的Rubbing Cloth安装到Rubbing Roller后对玻璃基板造成的影响示意图；图2 (a)-2(b)分别为使用Oven Aging对液晶面板进行老化处理前后的液晶分子排列示意图。具体实施例方式本专利技术提出的，结合附图及实施例详细说明如下。本专利技术所提出的为在核检测或切割エ序后，对液晶面板进行老化处理。实施例I在液晶面板的生产过程中，Cell产线内的老化试验机(Aging Oven)设备只用于对新产品进行高温气泡测试时才会用到，利用率较低。因此，本实施例中，使用Aging Oven对液晶面板进行老化处理。液晶分子之间的相互作用与液晶分子与取向层分子间的相互作用相比要小的多，液晶分子与取向层分子的相互作用是主要因素。在液晶分子的工作温度范围内，液晶分子在加热后恢复到常态时，液晶分子间的相互作用力能得到完全恢复，而当Aging Oven设备设置加热温度为60度，时间为16小时时，加热后PI膜能对液晶分子进行重新取向，PI膜分子与液晶分子间原有的作用カ发生了变化，使得因Cloth引起的摩擦不均匀区域的液晶分子取向变得更加规则，该区域内液晶分子的方位角恢复到正常状态，服从严格的正态分布。对液晶分子加电时，异常区域因取向已变得更规则而使该区域的光透过率趋于正常，使得某些异常区域显示出与正常区域相同的显示效果。具体地，在Cell Test增加该Aging Oven设备，对Cell Test检测完毕后的液晶面板(含有水平黑白线不良)进行老化处理，待充分冷却后再将该面板送到模组，这样，水平黑白线不良能在一定程度上得到降低，从整体上降低了水平黑白线不良的发生率。如图2所示，分别为Aging Oven老化处理前后液晶分子的排列状况示意图(沿垂直于水平黑白线方向的截面图)，图中，箭头所示为摩擦方向，附图标记I所示为基板，角0为预倾角。其中，在图2(a)中，水平黑白线区域(第二列)液晶不能正常取向，方位角异常；第三列为正常取向的液晶分子。在图2(b)中，老化处理后，PI膜对液晶分子重新取向，水平黑白线区域(第二列)液晶重新取向，方位角恢复正常。实施例2本实施与实施例I基本相同,均使用Aging Oven对液晶面板进行本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种降低液晶面板水平黒白线不良发生率的方法，其特征在干，在核检测或切割エ序后，对液晶面板进行老化处理。2.如权利要求I所述的降低液晶面板水平黑白线不良发生率的方法，其特征在于，该方法使用老化试验机对所述液晶面板进行老化处理。3.如权利要求I所述的降低液晶面板水平黑白线不良发生率的方法，其特征在于，使用红...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨端，郭红光，汪剑成，张龙，胡勇，王彪，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：