一种放射图像检测设备和放射摄影成像盒，包括：放射图像检测设备主体，其包括闪烁器和光电探测单元，闪烁器将经由被摄体发射的辐射转变成荧光，光电探测单元设置在闪烁器的辐射进入侧上；以及支持件，其设置在放射图像检测设备主体的辐射进入侧上以支持被摄体，其中光电探测单元包括薄膜部和加强构件，薄膜部将荧光检测为电信号，加强构件设置在薄膜部的相对于其面向闪烁器的一侧的另一侧上；并且加强构件和支持件结合在一起并沿其间的接合平面保持相互紧密接触。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及用在医学X射线成像系统等中的放射图像检测设备和放射摄影成像盒。
技术介绍
采用放射图像检测设备，比如将诸如X射线图像的放射图像转变成数字数据的FPD(平板检测器)的DR(数字式放射摄影)最近已经投入实用。当与采用由光激励荧光体(累积性荧光体)制成的成像板的相关技术的CR(计算机放射摄影)系统相比时，放射图像检测设备的优点是能够即时确认成像。因而，DR已经迅速地普及。 已经提出各种类型的放射图像检测设备。放射图像检测设备之ー是已知的间接转变类型。该类型的放射图像检测设备借助闪烁器，比如CsI:Tl闪烁器和GOS(Gd2O2S = Tb)闪烁器，将X辐射暂时地转变成可见光，并且半导体层将可见光转变成电荷并且累积所得到的电荷(參见，比如，专利文献1(JP-A-2011-17683))。在关于专利文献I描述的X射线图像检测设备中，X辐射从光电探测单元发射到闪烁器。具体地，光电探测単元布置在闪烁器的面向被摄体(患者)的ー侧上，而光检测器布置成与支持被摄体的支持构件的背侧相対。而且，如专利文献I中所描述的，由光检测器和闪烁器构成的面板可直接地贴附到支持构件。然而，在支持构件和面板贴附在一起的情况下，必须注意使支持构件可容易地被更换。此外，在X射线图像检测设备的主体容纳在壳体中以从而形成为盒的情况下，光检测器与壳体的顶板的背侧相対。盒通过将由此定位的光检测器直接地贴附到顶板而成为细长的。在其中光检测器放置在比如上面提到的闪烁器的X辐射进入侧(即，被摄体侧)上的构造中，在闪烁器的X辐射进入侧上的主要光发射区域与光电探测単元之间具有较短的距离，获得高清晰度的检测图像。同时，放置在闪烁器的X辐射进入侧上的光电探测単元的基板不可避免地吸收X辐射。因此，存在入射在闪烁器上的X辐射的量因X辐射被基板吸收导致减少的缺点。光电探测单元通过包含光电ニ极管(PD)和TFT(薄膜晶体管)而构建，光电ニ极管(PD)和TFT (薄膜晶体管)各自由a-Si等形成。无碱玻璃通常用于支持I3D和TFT的基板。此原因在于当采用钠玻璃吋，a-Si可被在存在高温的情况下a-Si膜形成期间来自玻璃的Na污染，这则使元件的性能劣化。然而，无碱玻璃比钠玻璃更昂贵，而且也比钠玻璃吸收更大量的X辐射。例如，当通过将具有Al当量2_的滤波器应用到光电探测单元而使用在50kV的管电压下产生的X射线成形束吋，由无碱玻璃基板呈现的X射线吸收因子高达16.8%。具体地，光到达闪烁器，同时已经用于辐射光电探测単元的X辐射的15%或更多因X辐射被基板吸收而损失。如上面提到的，当考虑维持a-Si膜的性能吋，将无碱玻璃用于基板是必要的。由于X辐射被基板吸收的結果，X辐射进入闪烁器的量的大量下降是不可避免的。具体地，当闪烁器被曝光于从光电探测单元的方向发散的X放射线时产生的高图像质量特征被减弱。附帯地，如果在光电探测単元中不具有基板的放射图像检测设备可被构建，则放射图像检测设备将是更优选的，其能避免辐射的吸收，该吸收否则将由基板引起。在专利文献2 (JP-A-2009-133837)和专利文献3 (JP-A-2008-235649)中，在薄膜部比如PD和TFT已经形成在基板上之后，基板被剥离且除去。在该情形中，为由闪烁器和薄膜部构成的层积物的面板将在闪烁器的重量下而变得容易挠曲。如果面板保持挠曲，则将在支持构件和面板之间产生间隙。当受到冲击时，面板将变得振颤，这又可能使闪烁器遭受破坏。为防止面板挠曲，支持被摄体的支持构件和薄膜部必须基本上整个地牢固地结合在一起
技术实现思路
如上面提到的，为了更大程度地提高辐射从闪烁器的光电探测单元的方向发射的类型的X射线图像检测设备的图像质量，包括无基板的光电探测単元的放射图像检测设备是期望的。然而，如果基板被分离，如在专利文献2和3中描述的，则闪烁器、薄膜部和支持构件必须整个地牢固地结合以便防止发生挠曲。如果它们整个地牢固地结合，则支持构件的更换将变得困难。而且，当支持构件和面板彼此分离时，薄膜部将被破坏。CFRP (碳纤维增强塑料)比如用于支持构件。当支持构件的表面有损伤时，纤维断裂，从而变得细微地分裂。因而分裂的支持构件可使患者不舒适或易于变得不卫生。支持构件中的损伤也导致检测到的图像中出现缺陷。面板与支持构件相比是昂贵的。每当支持构件被更换时丢弃面板是不经济的。为此，支持构件的更换是不可缺少的。具体地，面板与支持构件的可容易分离的结合是重要的。本专利技术的目的是提供ー种放射图像检测设备和放射摄影成像盒，其能够通过解决当光电探测単元不具有任何基板时会引起的缺陷来提高耐冲击性和便利支持构件的返修(rework)比如更换,并且还能够进ー步改进图像质量。根据本专利技术的一方面，ー种放射图像检测设备包括放射图像检测设备主体，其包括闪烁器和光电探测単元，闪烁器将经由被摄体发射的辐射转变成荧光，光电探测单元设置在闪烁器的辐射进入侧上；支持件，其设置在放射图像检测设备主体的辐射进入侧上以支持被摄体。光电探测単元包括薄膜部和加强构件，薄膜部将荧光检测为电信号，加强构件设置在薄膜部的相对于其面向闪烁器的ー侧的另ー侧上。加强构件和支持件结合在一起并沿其间的接合平面保持相互紧密接触。根据本专利技术的另一方面，ー种放射摄影成像盒包括前述的放射图像检测设备。放射图像检测设备主体容纳在通过包含支持件而形成的壳体中。根据本专利技术的另一方面，ー种放射摄影成像系统包括辐射源，其向被摄体发射辐射；支持件；以及前述的放射图像检测设备。根据本专利技术的另一方面，ー种放射图像检测设备包括闪烁器，其将经由被摄体发射的辐射转变成荧光；以及光电探测単元，其设置在闪烁器的辐射进入侧上。光电探测単元具有薄膜部和加强构件，薄膜部用于将荧光检测为电信号，加强构件设置在薄膜部的相对于其面向闪烁器的ー侧的另ー侧上。加强构件和用于支持被摄体的支持件结合在一起并沿其间的接合平面保持相互紧密接触。利用上面讨论的构造，即便当基板从光电探测单元的薄膜部剥离时，薄膜部由加强构件支持，从而被加強。作为提供这种加强构件的結果，闪烁器和薄膜部不会经历无意的挠曲。闪烁器、薄膜部、加强构件的层叠物(面板)和支持构件沿接合平面一体化，同时保持相互紧密接触。从而可以防止闪烁器、薄膜部和支持构件的相对表面之间出现间隙。可防止使闪烁器等遭受破坏，该破坏否则将在闪烁器由干与支持件碰撞而经历冲击时引起，从而可提高放射图像检测设备的耐冲击性。根据本专利技术，因为加强构件被置于支持构件和薄膜部之间，所以面板和支持构件可容易地彼此分离而不损坏薄膜部。进ー步地，当包括加强构件的面板和支持构件实现沿接合平面彼此紧密接触时，可以避免对将面板整个地牢固地结合到支持构件的需要，使得可进ー步便利面板与支持构件的分离。从而可提高放射图像检测设备的返修方便性。 如上面提到的，解决了在光电探测単元的基板被分离时将引起的问题。因此，可充分地实现当闪烁器被曝光于从光电探测単元的方向发射的X放射线时产生的图像质量的改进的效果。附图说明图I是示意性地显示了 X射线成像盒的一般构造的侧剖视图。图2是示意性地显示了光电探测単元的一般构造的侧剖视图。图3是示意性地显示了光电探测単元的构造的平面图。图4是示意性地显示了闪烁器的晶体结构的侧剖视图。图5是显示了柱状晶体的剖本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
2011.02.24 JP 2011-0389531.ー种放射图像检测设备，其包括 放射图像检测设备主体，其包括闪烁器和光电探测単元，所述闪烁器将经由被摄体发射的辐射转变成荧光，所述光电探測单元设置在所述闪烁器的辐射进入侧上；以及 支持件，其设置在所述放射图像检测设备主体的辐射进入侧上以支持被摄体，其中 所述光电探测单元包括薄膜部和加强构件，所述薄膜部将荧光检测为电信号，所述加强构件设置在所述薄膜部的相对于其面向所述闪烁器的ー侧的另ー侧上；并且 所述加强构件和所述支持件结合在一起并沿其间的接合平面保持相 互紧密接触。2.根据权利要求I所述的放射图像检测设备，其中 所述加强构件和所述薄膜部结合在一起；并且 施加在所述加强构件和所述薄膜部之间的结合強度大于施加在所述加强构件和所述支持件之间的结合強度。3.根据权利要求2所述的放射图像检测设备，其中 所述加强构件和所述薄膜部的相互相対的表面基本上整个地结合；并且 所述加强构件的面向所述支持件的相对表面的一部分结合到所述支持件。4.根据权利要求2或3所述的放射图像检测设备，其中 所述加强构件和所述薄膜部通过第一粘合剂结合在一起；并且 所述加强构件和所述支持件通过第二粘合剂结合在一起，所述第二粘合剂的结合力小于所述第一粘合剂的结合力。5.根据权利要求2或3所述的放射图像检测设备，其中 所述加强构件朝所述辐射进入侧凸形地弯曲；并且 所述加强构件、所述薄膜部和所述闪烁器为平坦的或基本上平坦的，同时所述加强构件和所述薄膜部保持结合在一起。6.根据权利要求2或3所述的放射图像检测设备，其中 所述加强构件朝所述辐射进入侧凸形地弯曲；并且 所述加强构件、所述薄膜部和所述闪烁器在与所述加强构件的弯曲方向相反的方向上弯曲，同时所述加强构件和所述薄膜部保持结合在一起。7.根据权利要求5所述的放射图像检测设备，其中 所述薄膜部和所述闪烁器在与所述加强构件的弯曲方向相反的方向上弯曲；并且 弯曲的薄膜部和所述闪烁器以及凸形地弯曲的加强构件结合在一起。8.根据权利要求6所述的放射图像检测设备，其中 所述加强构件、所述薄膜部和所述闪烁器在与所述加强构件的弯曲方向相反的方向上弯曲，同时所述加强构件和所述薄膜部保持结合在一起； 所述支持件朝所述辐射进入侧凸形地弯曲；并且 所述加强构件、所述薄膜部和所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：岩切直人，中津川晴康，
申请(专利权)人：富士胶片株式会社，
类型：发明
国别省市：
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