老化炉和老化方法技术

本发明专利技术提供了一种老化炉和老化方法。该老化炉包括保温室、加热器、温控装置和至少一个炉体，所述炉体与所述保温室连通，所述加热器用于对所述保温室进行加热以使所述保温室的温度为测试温度，所述温控装置用于对所述保温室的温度进行测量并根据测量结果控制所述加热器工作以使所述保温室的温度为所述测试温度，所述炉体用于对液晶显示面板进行老化处理，所述保温室用于在所述测试温度下对老化处理过程中的所述液晶显示面板进行老化测试。从而使老化炉通过保温室实现了对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶显示技术，特别涉及一种。
技术介绍
液晶显示器是目前常用的平板显示器，其中薄膜晶体管液晶显示器(Thin FilmTransistor Liquid Crystal Display,简称TFT-IXD)是液晶显示器中的主流产品。液晶显示面板是液晶显示器的重要部件，液晶显示面板在组装完成之后，需要进行老化处理。通常采用老化炉对液晶显示面板进行老化处理。现有技术中，老化炉通常采用单一的炉体结构，S卩老化炉仅包括单一的炉体，该 炉体可以对批量的液晶显示面板进行老化处理。但是，由于现有技术中的老化炉仅具备单一的炉体，因此其仅具备对液晶显示面板进行老化处理的功能，而无法对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试。
技术实现思路
本专利技术提供一种，用以使老化炉实现对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试。为实现上述目的，本专利技术提供一种老化炉，包括保温室、加热器、温控装置和至少一个炉体，所述炉体与所述保温室连通，所述加热器用于对所述保温室进行加热以使所述保温室的温度为测试温度，所述温控装置用于对所述保温室的温度进行测量并根据测量结果控制所述加热器工作以使所述保温室的温度为所述测试温度，所述炉体用于对液晶显示面板进行老化处理，所述保温室用于在所述测试温度下对老化处理过程中的所述液晶显示面板进行老化测试。进一步地，所述测试温度为老化温度，所述老化温度为所述炉体对所述液晶显示面板进行老化处理时的温度。进一步地，所述加热器位于所述保温室内。进一步地，所述温控装置位于所述保温室内。进一步地，所述保温室由保温板围设而成。进一步地，所述保温室的一侧开设有保温门，所述保温门用于当所述保温室在所述测试温度下对老化处理过程中的所述液晶显示面板进行老化测试时关闭。进一步地，所述炉体内设置有用于承载所述液晶显示面板的面板架，当所述保温室对老化处理过程中的所述液晶显示面板进行老化测试时将所述面板架从所述炉体内拉出使所述面板架位于所述保温室内。进一步地，所述炉体的数量为两个，两个所述炉体相对设置于所述保温室的两侧。为实现上述目的，本专利技术还提供了一种老化方法，所述方法基于老化炉，所述老化炉包括保温室、加热器、温控装置和至少一个炉体，所述炉体与所述保温室连通，所述加热器用于对所述保温室进行加热以使所述保温室的温度为测试温度，所述温控装置用于对所述保温室的温度进行测量并根据测量结果控制所述加热器工作以使所述保温室的温度为所述测试温度；所述方法包括所述炉体对液晶显示面板进行老化处理；所述保温室在测试温度下对老化处理过程中的所述液晶显示面板进行老化测试。进一步地，所述测试温度为老化温度，所述老化温度为所述炉体对所述液晶显示面板进行老化处理时的温度。本专利技术具有以下有益效果本专利技术提供的，包括保温室、加热器、温控装置和至少一个炉体，炉体与保温室连通，加热器用于对保温室进行加热以使保温室的温度为测试温度，温控 装置用于对保温室的温度进行测量并根据测量结果控制加热器工作以使保温室的温度为测试温度，炉体用于对液晶显示面板进行老化处理，保温室用于在测试温度下对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试，从而使老化炉通过保温室实现了对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试。附图说明图I为本专利技术实施例一提供的一种老化炉的结构示意图；图2为本专利技术实施例二提供的一种老化方法的流程图；图3为本专利技术中老化方法的示意图之一；图4为本专利技术中老化方法的示意图之二。具体实施例方式为使本领域的技术人员更好地理解本专利技术的技术方案，下面结合附图对本专利技术提供的进行详细描述。图I为本专利技术实施例一提供的一种老化炉的结构示意图，如图I所示，该老化炉包括保温室11、加热器13、温控装置14和至少一个炉体12，炉体12与保温室11连通，加热器13用于对保温室11进行加热以使保温室11的温度为测试温度，温控装置14用于对保温室11的温度进行测量并根据测量结果控制加热器13工作以使保温室11的温度为测试温度，炉体12用于对液晶显示面板进行老化处理，保温室11用于在测试温度下对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试。例如老化测试可包括亮点测试、Mura测试和/或功能性不良测试等。本实施例中，炉体12的数量为两个，两个炉体12相对设置于保温室11的两侧。保温室11和两个炉体12结合为一体从而形成老化炉。本实施例以老化炉包括两个炉体12为例对技术方案进行描述，在实际应用中还可根据需要采用其它数量个炉体12，此处不再 列举。优选地，保温室11可在测试温度下根据预先设定的时间间隔对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试。例如预先设定的时间间隔可以为15min。优选地，测试温度为老化温度，该老化温度为炉体12对液晶显示面板进行老化处理时的温度。本实施例中，加热器13可位于保温室11内。温控装置14可位于保温室11内或者保温室11外。本实施例中，温控装置14优选地位于保温室11内。本实施例中，保温室11由保温板111围设而成。本实施例中，保温室11的一侧开设有保温门112。保温门112用于当保温室11在测试温度下对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试时关闭。具体地，保温板111上可设置滑轨113，保温门112安装于滑轨113上，保温门112沿滑轨113移动以实现开启或关闭。图I中所示的保温门112处于关闭状态。在实际应用中，还可以采用其它结构的保温门，此处不再一一列举。 本实施例中，炉体12内可设置有用于承载液晶显示面板的面板架(Rack) 15，当保温室11对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试时将面板架15从炉体12内拉出使面板架15位于保温室11内，从而使保温室11可在测试温度下对面板架15上承载的液晶显示面板进行老化测试。在实际应用中可采用人工方式对液晶显示面板进行老化测试，如图I所示，由操作人员16在保温室11中执行对液晶显示面板进行老化测试的操作。需要说明的是液晶显示面板在本专利技术提供的各附图中均未具体画出。本实施例中，炉体12内设置有加热器17。加热器17对炉体12进行加热以使炉体12的温度为对液晶显示面板进行老化处理时的温度。进一步地，炉体12内还设置有温控装置18，温控装置18对炉体12的温度进行测量得出测量结果，并根据该测量结果控制加热器17对炉体12进行加热以使炉体的温度为老化温度。本实施例提供的老化炉包括保温室、加热器、温控装置和至少一个炉体，炉体与保温室连通，加热器用于对保温室进行加热以使保温室的温度为测试温度，温控装置用于对保温室的温度进行测量并根据测量结果控制加热器工作以使保温室的温度为测试温度，炉体用于对液晶显示面板进行老化处理，保温室用于在测试温度下对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试，从而使老化炉通过保温室实现了对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试；本实施例提供的老化炉仅需增设保温室即可实现对液晶显示面板进行老化测试，从而提高了老化炉的设备利用率，并降低了生产成本。本专利技术实施例二提供了一种老化方法，该方法基于老化炉，该老化炉包括保温室、加热器、温控装置和至少一个炉体，炉体与保温室连通，加热器用于对保温室进行加热以使保温室的温度为测试温度，温控装置用于对保温室的温度进行测量并根据测量结果控制加热器工作以使保温室的温度为测试温度。对老化炉的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种老化炉，其特征在于，包括保温室、加热器、温控装置和至少一个炉体，所述炉体与所述保温室连通，所述加热器用于对所述保温室进行加热以使所述保温室的温度为测试温度，所述温控装置用于对所述保温室的温度进行测量并根据测量结果控制所述加热器工作以使所述保温室的温度为所述测试温度，所述炉体用于对液晶显示面板进行老化处理，所述保温室用于在所述测试温度下对老化处理过程中的所述液晶显示面板进行老化测试。2.根据权利要求I所述的老化炉，其特征在于，所述测试温度为老化温度，所述老化温度为所述炉体对所述液晶显示面板进行老化处理时的温度。3.根据权利要求I所述的老化炉，其特征在于，所述加热器位于所述保温室内。4.根据权利要求I所述的老化炉，其特征在于，所述温控装置位于所述保温室内。5.根据权利要求I所述的老化炉，其特征在于，所述保温室由保温板围设而成。6.根据权利要求I或5所述的老化炉，其特征在于，所述保温室的一侧开设有保温门，所述保温门用于当所述保温室在所述测试温度下对老化处理过程中的所述液晶显示面板进行老...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨建磊，蔡光源，王洁，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：