齿轮测定方法技术

技术编号:7684879 阅读:278 留言:0更新日期:2012-08-16 17:21
本发明专利技术的目的在于提供一种能够使用触碰式探针进行多点式连续测定且与现有的方法相比能够缩短测定时间的齿轮测定方法。因此,例如,进行用于控制测头的移动及工件(齿轮)的旋转而使触碰式探针的测头沿着工件W的理想齿形线移动或沿着通过运算求出的齿形线移动的基本动作,此外,在所述基本动作中,还连续进行用于使测头与工件的齿面抵接而接受到来自触碰式探针的第一信号(接通信号或断开信号),之后,使触碰式探针向测头离开工件的齿面的方向移动而接受来自触碰式探针的第二信号(断开信号或接通信号)的振荡动作。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及对齿轮的齿形、齿向进行測定的齿轮測定方法。
技术介绍
齿轮加工机中包括通过切削加工来制造齿轮的插齿机、滚齿机、对淬火后的齿轮进行磨削的齿轮磨床等。在利用这种齿轮加工机对齿轮进行加工时,对于从加工完的批次中脱离的至少I 个齿轮,利用齿轮測定装置进行了齿形、齿向等的齿轮测定之后,确认其加工精度,在加工精度良好时,继续利用齿轮加工机加工其余的未加工批次,在加工精度不良时,修整齿轮加エ机的加工精度,之后加工其余的未加工批次。另外,在齿轮为大型的情况下,无法排出不良品,因此残留有加工余量,并反复多次由齿轮加工机进行的齿轮加工和由齿轮測定装置进行的齿轮測定,在确认了最終的精度之后,进行精加工。以前的齿轮測定装置通常与齿轮加工机分体,但这种情况下,需要将加工后的齿轮从齿轮加工机向齿轮測定装置换上的作业。相对于此,近年来,以省去齿轮的更换作业而实现作业性的提高为目的,提出了各种一体地具备齿轮測定装置的齿轮加工机。另ー方面,在齿轮測定装置中使用的測定探针中包括连续扫描式探针和触碰式探针。连续扫描式探针是模拟式的測定探针,测头连续地与齿轮的齿面接触并移动,基于此时的测头的位移量来进行齿面本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:广野阳子东川隆英大槻直洋能势喜博
申请(专利权)人:三菱重工业株式会社
类型:发明
国别省市:

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