一种用于超声成像检测仪器的优化锯齿覆盖扫查装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于超声成像检测仪器的优化锯齿覆盖扫查装置及方法，所述装置包括三维智能扫查器，该三维智能扫查器具有三个方向的扫查；所述方法包括：对待扫查区域进行垂直定位及声速聚焦；对待扫查区域锯齿或优化锯齿覆盖的扫查。本发明专利技术具有简单全覆盖路径规划算法和简单变密度随机采样策略的功能。该扫查方法首先对待覆盖区域进行粗扫，发现缺陷区域后进行细扫，对疑似缺陷区域进行微扫，同时在数据采集和存储的过程中，只对缺陷区域进行处理，而对非缺陷区域用背景区域代替。通过将此方法应用于超声成像检测系统中的扫查器中，可大大提高了扫查速度、减少了数据采集存储的空间，提高了成像的速度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及超声无损检测领域，尤其涉及一种用于超声检测仪器的优化锯齿覆盖扫查装置及方法。
技术介绍
无损检测技术在全面质量 控制中具有举足轻重的作用，超声检测技术是应用广泛、使用频率高、发展快的一种无损检测技术，在无损检测中占有十分重要的地位。与其他成像技术相比，超声成像的优势在于⑴相对安全，无辐射；⑵无创；⑶与X射线相比更加便携，可野外操作；(4)实时显示能力。但由于其工作模式、成像理论多年来都未有新的突破，当前的超声成像检测系统还有很多问题值得研究，其中扫描装置的扫查效率低下是一个非常重要的问题之一。在超声成像检测系统中，扫查装置是自动检测系统的基础部分，检测结果的正确性、可靠性都依赖于扫查装置。然而，现有的扫查器扫查策略单一、扫查效率非常低下，例如在超声水浸C-扫描成像检测系统中，缺陷区域在整个待扫查区域中只占很小的一部分，由于常用的扫查器需要在广阔的待扫查区域中获取大量的采集数据后成像，因此，成像扫描时间经常需要几十分钟、甚至数小时。事实上，在成像图像中，几乎90%以上的扫查区域和采集数据都是无用的，也就是说浪费了大量的扫描时间和存储空间对非缺陷区域进行扫描、采集和存储。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：戴光智，孙宏伟，
申请(专利权)人：深圳职业技术学院，
类型：发明
国别省市：