玻璃基板的检测装置及检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种玻璃基板的检测装置及检测方法，用于检测承载于卡匣中的玻璃基板是否存在破损。该检测装置包括至少一传感器组和至少一处理单元。传感器组包括位于玻璃基板一侧的一投光元件和分别位于玻璃基板两侧的两个受光元件，处理单元用于判断两个受光元件检测的亮度之间的亮度差是否处于预定范围，若该亮度差未处于预定范围，则被检测的玻璃基板存在破损。通过上述方式，本发明专利技术能够减少或避免破损玻璃基板进入显示面板制程线。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测领域，特别是涉及一种。
技术介绍
用于电脑显示器及电视机等显示面板的玻璃基板在进入制程线前装在卡匣中临时存放。该卡匣通常在竖直方向上设置多个支撑面，每一支撑面用以支撑一块玻璃基板，因此，装于同一卡匣中的相邻两块玻璃基板之间间隔一定的距离。在生产显示面板前，通过机械自动装置将装有多块玻璃基板的卡匣移动至显示面板制程线。因放置于同一卡匣中的相邻支撑面上的两玻璃基板之间距离较小，储存和搬运过程中不易发现玻璃基板是否出现裂纹/破损。现有技术中，当玻璃基板被装入卡匣中临时存放到通过自动仓储系统将存放玻璃基板的卡匣移动至显示面板的制程线的这一过程中尚无法对玻璃基板是否破损进行检测，因此上述过程中产生破损的玻璃基板可能直至制程线时才会被发现。因此，需要在显示面板制程中将破损的玻璃基板搬走，势必会影响显示面板的生产效率。再者，若玻璃基板的破损程度较小，不能被及时发现，则有可能将破损的玻璃基板制成显示面板，导致成品不良。鉴于此，有必要提供一种，以解决上述问题。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种玻璃基板的检测装置和检测方法，能够检测承载于卡匣中的玻璃基板是否存在破损。为解决上述技术问题，本专利技术采用的一个技术方案是提供一种玻璃基板的检测装置，用于检测承载于卡匣中的玻璃基板是否存在破损，其中，该检测装置包括至少一传感器组和一处理单元，传感器组包括位于玻璃基板一侧的一投光元件和分别位于玻璃基板两侧的两个受光元件，投光元件用于向玻璃基板投射检测光，两个受光元件中的一个受光元件用于检测直射和/或经玻璃基板反射后的检测光的亮度，两个受光元件中的另一个受光元件用于检测经玻璃基板折射后的检测光的亮度，处理单元用于判断两个受光元件检测的亮度之间的亮度差是否处于预定范围，若亮度差未处于该预定范围，则被检测玻璃基板存在破损。为解决上述技术问题，本专利技术采用的另一个技术方案是提供一种玻璃基板的检测方法包括向玻璃基板投射检测光；分别检测直射和/或经玻璃基板反射后的检测光的亮度以及经玻璃基板折射后的检测光的亮度；判断两个亮度之间的亮度差是否处于预定范围，若亮度差未处于预定范围，则被检测玻璃基板存在 破损。本专利技术的有益效果是通过本专利技术的检测装置及检测方法可对玻璃基板是否存在破损进行有效检测，能够减少或避免破损玻璃基板进入显示面板制程线，进而可减少或避免在显示面板制程中搬移破损玻璃基板，从而提高制程线生产效率，以及能够降低将破损玻璃基板制成显示面板而导致成品不良的几率。附图说明图I是利用本专利技术实施例的玻璃基板检测装置检测玻璃基板的原理示意图；图2是利用本专利技术实施例的玻璃基板检测装置检测位于卡匣中的玻璃基板的主视图；图3是利用本专利技术实施例的玻璃基板检测装置检测位于卡匣中的玻璃基板的俯视图；、图4是本专利技术实施例的玻璃基板检测方法的流程图。具体实施例方式参阅图I至图3，本专利技术实施例的玻璃基板检测装置用于对临时承载于卡匣50中的玻璃基板40是否存在破损进行检测。该检测装置可一次检测位于同一卡匣50中的部分或全部玻璃基板40。卡匣50用于一次承载多块玻璃基板40。卡匣50包括沿竖直方向互相平行设置的多个支撑面(未图示)，每个支撑面用于承载一块玻璃基板40。当玻璃基板40被装于卡匣50中后，相邻的玻璃基板40之间间隔一定的距离。实际应用中，为了提高卡匣50容纳玻璃基板40的数量，相邻玻璃基板40之间的距离较小，因此，当卡匣50装满玻璃基板40后，除位于顶层的玻璃基板40外，其他玻璃基板40的表面均不便于从正面观察，因此很难检查出其他玻璃基板40是否存在破损。该玻璃基板检测装置包括至少一传感器组，每个传感器组包括分别位于卡匣50相对两侧的一投光元件11和一对受光元件12、13。该玻璃基板检测装置进一步包括处理单元14。该玻璃基板检测装置可以一次检测位于单一卡匣50中的全部玻璃基板40。此时，可沿竖直方向设置的多个传感器组，分别对承载于卡匣50内的每个玻璃基板40同时进行检测，具体如图2所示。此外，为了保证检测结果更为准确，该玻璃基板检测装置还可以对应水平放置的每块玻璃基板40均设置有三个或其他任意数量的沿水平方向设置的传感器组分别对玻璃基板40的不同区域进行检测。使用时，将投光兀件11置于玻璃基板40的一侧,投光兀件11优选以斜入射方式向玻璃基板40投射检测光。两个受光元件12、13分别位于该玻璃基板40上、下两侧，受光元件12、13用以接收投光元件11发出的检测光。在本实施例中，受光元件12接收的检测光的一部分直接来自投光元件11，另一部分为经投光元件11射出至空气-玻璃界面后被反射至受光元件12的检测光。受光元件13接收的检测光则为经投光元件11射出至空气-玻璃界面后经玻璃基板折射最后到达受光元件13的检测光。因此，受光元件12检测的亮度和受光元件13检测的亮度之间的亮度差取决于投光元件11的亮度、玻璃基板40的厚度和长度、两受光元件12、13的位置以及玻璃基板40是否存在破损。实际应用中，针对完整的玻璃基板40，并根据上述投光元件11发出的检测光的亮度、玻璃基板40的长度和厚度以及两受光元件12、13的位置等因素进行多次测试，并最终确定在玻璃基板40完整的情况下，两受光元件12、13所检测的亮度之间亮度差的正常范围(预定范围)，并记录于处理单元14中。利用该玻璃基板检测装置对位于卡匣50中的玻璃基板40进行检测时，若两受光元件12、13之间的亮度差位于该正常范围内则判定玻璃基板40无破损，若该两受光元件12、13之间的亮度差超出该正常范围则判定玻璃基板40有破损。该判定过程由与受光元件12、13相连的处理单元14进行。在其他实施例中，受光元件12可以仅检测从投光元件11直射的检测光或仅检测经玻璃基板40反射的检测光。实际应用中，玻璃基板检测装置还可以进一步设有与处理单元14相连接的报警单元15。处理单元14根据判定结果向报警单元60发出控制信号，以使报警单元15在处理单元14判定玻璃基板40存在破损时发出报警信息。承载有破损玻璃基板的卡匣50将被搬运至其他位置，从而有效避免破损玻璃基板流入显示面板制程线。该玻璃基板检测装置可应用至以下场合其一，当玻璃基板被装入卡匣临时存放时，运用玻璃基板检测装置对位于卡匣中的玻璃基板进行检测能够发现玻璃基板的包装过程是否存在问题；其二，当装有玻璃基板的卡匣进入自动仓储系统时，在自动仓储系统的入口处安装玻璃基板检测装置对进入其中的卡匣中的玻璃基板进行检测，可以将有破损玻璃基板的卡匣拦截，方便追查出现破损玻璃基板的原因；其三，在玻璃基板投入显示面板制程 线时，在自动仓储系统的出口处安装玻璃基板检测装置对即将投入显示面板制程线的卡匣中的玻璃基板进行检测，将有破损玻璃基板的卡匣拦截，避免破损玻璃基板进入显示面板制程线使生产效率降低，避免将破损玻璃基板制成显示面板而导致成品不良。上述三处场合既可以同时分别安装玻璃基板检测装置，亦可以择一或择二的方式安装玻璃基板检测装置，不论玻璃基板检测装置安装在哪个位置，与现有技术相比，均可以减低或避免破损玻璃进入显示面板的制程线。优选地，在自动仓储系统的入口处和出口处均安装玻璃基板检测装置，既可以发现玻璃基板临时储存时的问题，又可以明确通过自动仓储系统搬送卡匣的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：朱二庆，吴俊豪，林昆贤，汪永强，杨卫兵，李贤德，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：