【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于物质界面分析的电容量测量技术。特别是涉及一种用于物质界面分析的基于连续测量电容量的浮法移窗界面分析仪。
技术介绍
对于物质界面分析,通常主要采用以下几种测量技术I、电容式测量技术;2、导波雷达式测量技术;3、机械式测量技术。目前,能够用于物质界面分析的电容式测量技术,主要采用以下几种电路I、充放电电容测量电路;2、AC电桥电容测量电路;3、基于V/T变换的电容测量电路;4、振荡法电容测量电路。要进行高精度的电容量测量,则要求测量环境非常稳定,这限制了仪器的使用范围。同时传统的基于电容测量的界面分析界面分析仪在使用前,需要人工标定,使用过程中需要人工修正测量结果,对调试人员素质要求很高,且极易产生误差。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是,提供一种无须人工调试的用于物质界面分析的基于连续测量电容量的浮法移窗界面分析仪。本专利技术所采用的技术方案是一种基于连续测量电容量的浮法移窗界面分析仪,包括依次串接的用于将待测量界面的物理信息转换为电子信息的由多段探极组成的移窗式传感器、悬臂式电桥电路、将输入的待测信号放大整形为具有线性对应关系的积分 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:鲍云竹,耿八一,李富强,
申请(专利权)人:天津恒立远大仪表有限公司,
类型:发明
国别省市:
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