地表粗糙度测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种用于测量路面、田地表面粗糙度的装置。本发明专利技术的地表粗糙度测量装置包括：一个垂直的框架，在垂直的框架上有用于设置多个等距放置的测针并可使各测针沿垂直方向上下移动的装置，在用于设置测针的装置中放置有测针，在装置中还设置有一个水平框架，垂直框架与水平框架上的滑轨配合，使垂直框架可沿滑轨运动，水平框架下设置有三个支架，其中的至少有一个支架可沿垂直方向调整其高度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种高度测量装置，特别是一种用于测量路面、田地表面粗糙度的装置。
技术介绍
上世纪90年代美国人Ali Salch(1993)提出链条法用于测定地面粗糙度。中国专利技术专利申请03114152. 8公开一种与链条法相类似土壤粗糙度的测量方法。该专利申请 包括以下的步骤1)在目标土地内随机取样，随机固定两点，两点间距离为L ;2)在固定两点所在的直线上，用无弹性软绳紧贴土壤的粗糙面放平，获取两点间软绳拉直的距离L'；3)依次类推测定每个样方；4)根据测得的数据得出每个样方的土壤粗糙度Ci = Li' /L(i=1、2、3. . . n)，然后得出整片目标土地的土壤粗糙度。为克服前述土地粗糙度测量装置的不足，本专利技术人曾在中国专利技术专利申请200810083194. 0和中国专利技术专利200910161433. 4中公开过两种用测针进行土地粗糙度测定的装置。其中200810083194. 0专利申请公开的装置是的装置是在一个框架上固定有一个支点，框架上还分别设置至少两个与固定测臂平行且可沿框架的上下边框运动的测针和可测量测针高度变化的高度指示。这一装置在进行土地粗糙本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：牛伊宁，黄高宝，柴强，
申请(专利权)人：甘肃农业大学，
类型：发明
国别省市：