本发明专利技术公开了一种显示器面板测试装置，用于实现对GOA面板的测试，从而及时获知GOA面板的性能。所述装置包括焊盘和驱动电路；其中：所述焊盘用于接收测试信号；所述驱动电路的输入端与所述焊盘相连，用于将接收的测试信号通过输出端传输至显示器面板中的像素电路阵列的栅极，驱动像素电路阵列，从而进行特性测试。本发明专利技术还公开了用所述装置来实现驱动像素单元的方法。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子领域，特别涉及一种显示器面板测试方法及装置。
技术介绍
GOA(Gate Driver on Array,阵列基板行驱动技术)，是直接将栅极驱动电路(Gate driver IC)制作在阵列(Array)基板上,来代替由外接娃片制作的驱动芯片的一种工艺技术。该技术的应用可减少生产工艺程序，降低产品工艺成本，提高TFT-IXD (薄膜场效应晶体管液晶显示器)面板的高集成度。近年来GOA技术得到了全面的发展和较广泛的应用。GOA面板从GOA分布上可分为单边GOA面板(将栅极驱动电路制作到阵列基板的左侧)和双边GOA面板(在阵列基板左右两侧都制作栅极驱动电路，从两侧同时进行驱动)，从时序控制方面和单元TFT设计方面又可分为9T/13T (其中T代表TFT结构，9T即每个栅极驱动电路单元由九个TFT构成，13T即每个栅极驱动电路单元由13个TFT构成)结构、电容式(指栅极驱动电路单元中含有电容)结构等。但目前的GOA面板相对于某些传统面板还存在很多不足之处。例如，在进行面板的V-T(电压-透射率)特性的测试中，传统方法是通过对栅极焊盘区域涂覆银胶，将焊盘区短路后接入栅极测试信号，对面板特定区域进行驱动，从而实现V-T特性的测试。但由于GOA面板将栅极驱动电路制作在阵列基板上，且隐藏于对盒内部(对盒是指液晶面板上下两层玻璃基板利用封框胶进行贴合所形成的中间填充液晶的盒装结构)，没有栅极焊盘露在外面，从而导致无法通过焊盘将测试信号与像素电路的栅极相连接，即无法直接驱动像素电路的栅极，从而无法在与PCB (印刷电路板)绑定之前测试GOA面板的各项性能。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种显示器面板测试方法及装置，用于实现对GOA面板的测试，从而及时获知GOA面板的性能。一种显示器面板测试装置，包括焊盘和驱动电路；其中所述焊盘用于接收测试信号；所述驱动电路的输入端与所述焊盘相连，用于将接收的测试信号通过输出端传输至显示器面板中的像素电路阵列的栅极，驱动像素电路阵列，从而进行特性测试。一种显示器面板测试方法，包括以下步骤焊盘接收测试信号；与所述焊盘相连的驱动电路将接收的测试信号通过输出端传输至显示器面板中的像素电路阵列的栅极，驱动像素电路阵列，从而进行特性测试。本专利技术实施例中焊盘接收测试信号；与所述焊盘相连的驱动电路将接收的测试信号通过输出端传输至显示器面板中的像素电路阵列的栅极，驱动像素电路阵列，从而进行特性测试。通过增加焊盘模块，为测试信号的引入提供了接口，焊盘与驱动电路的输入端相连，驱动电路的输出端直接与像素电路阵列的栅极相连，从而使测试信号通过驱动电路直接驱动像素电路阵列，以完成各类测试，从而在与PCB绑定之前可以测试GOA面板的各项性能，以鉴定GOA面板的性能优良程度，及GOA面板是否可用等等，更便于实际利用，提高GOA面板的利用率。附图说明图I为本专利技术实施例中显示器面板测试装置的主要结构图；图2为本专利技术实施例中QGSD模式下GOA面板示意图； 图3为本专利技术实施例中显示器面板测试装置功能实现的简单示意图；图4为本专利技术实施例中显示器面板测试方法的主要流程图。具体实施例方式本专利技术实施例中焊盘接收测试信号；与所述焊盘相连的驱动电路将接收的测试信号通过输出端传输至显示器面板中的像素电路阵列的栅极，驱动像素电路阵列，从而进行特性测试。通过增加焊盘模块，为测试信号的引入提供了接口，焊盘与驱动电路的输入端相连，驱动电路的输出端直接与像素电路阵列的栅极相连，从而使测试信号通过驱动电路直接驱动像素电路阵列，以完成各类测试，从而在与PCB绑定之前可以测试GOA面板的各项性能，以鉴定GOA面板的性能优良程度，及GOA面板是否可用等等。更便于实际利用，提高GOA面板的利用率。参见图1，本专利技术实施例中显示器面板测试装置包括焊盘101及驱动电路102。测试信号输入端可连接焊盘1，焊盘101与驱动电路102的输入端相连，驱动电路102的输出端与GOA面板上的像素电路阵列的栅极相连。本专利技术实施例以QGSD(quadruple gatesignal driving method,四重栅极信号驱动法)为例来介绍显示器面板测试装置。其中，本专利技术实施例以单边GOA面板为例进行说明。焊盘101用于接收测试信号。所述装置中可以包括多个焊盘101，其中，焊盘是指PCB板和元器件引脚相互焊接的部份，由铜箔和孔组成，要露出铜箔，不能有阻焊膜覆盖。所述装置中所包括的焊盘101的数目可根据需要确定。例如，如果驱动电路102中包含两根连接线，则所述焊盘101的数目可以为2。焊盘101数目尽可能比连接线的数目要多，以便进行扩展应用。测试信号的输入端可以与焊盘101相连，从而通过焊盘101输入测试信号。焊盘101可以位于GOA面板的顶部，即与GOA面板原有的数据焊盘位于GOA面板同侧，较佳的，位于GOA面板的左上角，因栅极驱动电路制作在GOA面板的左侧，将焊盘101制作在GOA面板左上角，使之便于通过驱动电路102与像素电路阵列的栅极相连。其中，像素电路阵列的栅极是指像素电路阵列中一行TFT的栅极。同时，焊盘101位于GOA面板的顶部是为了不占用GOA面板中部的资源，避免引线混乱。通过一个焊盘101可输入一路测试信号，即当所述装置中包括多个焊盘101时，通过不同的焊盘101可输入相同的测试信号，也可输入不同的测试信号。驱动电路102的输入端与所述焊盘相连，用于将接收的测试信号通过输出端传输至显示器面板中的像素电路的栅极，驱动像素电路，从而进行特性测试。驱动电路102的输入端连接焊盘101，输出端连接像素电路阵列的栅极。具体的，驱动电路102包括多根连接线及多根引线。其中，为合理利用资源，避免因引线混乱而导致信号串扰，每根连接线的输入端可以连接一个焊盘101。每根连接线上可传输从焊盘101接收的一路测试信号，而不同的焊盘101可接收不同的测试信号，即当驱动电路102包括多根连接线时，不同的连接线可以传输相同的测试信号，也可以传输不同的测试信号。驱动电路102中引线的输入端与连接线的输出端相连，所述引线的输出端与像素电路阵列的栅极相连。驱动电路102中引线的数目可以根据需要确定，例如，如果需要对整个像素电路阵列进行测试，则所述引线的数目可以与像素电路阵列的行数相同，如果只需测试像素电路阵列的部分区域，即只需将待测区域中每行TFT分别与对应的引线相连，则引线的数目可以与待测区域的行数相同。驱动电路102中连接线与引线的连接方式也可以根据需要确定，例如，可以用一根连接线连接所有引线，则表示用一个测试信号驱动待测区域，即对待测区域进行同一种特性的测试，或者不同连接线连接不同引线，例如可以一根连接线连接一根引线，或者可以一根连接线连接若干根引线，这样可以通过连接线输入不同的测试信号，可以对待测区域的不同区域进行不同的测试过程。每根连接线分别控制与之相连的引线，对相应的区域进行测试，连接线与引线的数目都可根据实际需要进行任意调整。但需要考虑面板上布线位置的限制，如果每一根连接线都只连接一根引线，将会占用很大的空间，增加布线的难度，且容易引起干扰，对实际测试来说也没有太大意义。较佳的，所述驱动电路102中还可以包括晶体管。晶体管用于隔离驱动电路102中的引线本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：封宾，王峥，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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