转换接口及液晶显示器检测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种应用于液晶显示装置画面检查的转换接口，所述转换接口包括依次连接的第一接头、转接主体以及第二接头；其中，所述第一接头用于与测试用信号源的接口插接，所述第二接头用于与连接至液晶显示装置的连接线的接口插接。本发明专利技术还提供一种液晶显示器检测系统，所述检测系统包括：测试用信号源、转换接口、低压差分信号线材以及液晶面板；其中，所述测试用信号源上设置有第一接口，转换接口的两端分别设置有第一接头和第二接头，低压差分信号线材的一端设有第二接口，另一端设有第三接口，液晶面板上设置有第四接口。本发明专利技术通过增加转换接口，避免了测试用信号源上低压差分信号线外接接口的频繁插拔导致的器件损坏。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及产品检测领域，特别是涉及一种转换接口及液晶显示器检测系统。
技术介绍
TFT LCD (Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,薄膜晶体管液晶显不器)已经成为了现代信息技术(Information Technology, IT)、视讯产品中重要的显示平台。其主要工作原理是通过适当的电压加载在阵列(Array)玻璃基板与彩色滤光片(ColorFilter, CF)玻璃基板之间的液晶层间，使液晶层的液晶分子在电压作用下发生偏转，通过不同电压控制得到不同的穿透率，从而实现显示。为了保证IXD的出厂品质，在IXD模组厂内，点灯检查、出货检查以及复判检查等工位中都需要对产品的画面进行检查，具体通过低压差分信号(Low-VoltageDifferential Signaling, LVDS)线连接LCD产品与测试用信号源来实现检测。现有技术中，通常采用LVDS线直接将LCD LVDS接口与测试用信号源印制电路板(Printed Circuit Board, PCB)连接的方式。如图I所示,是现有技术一种液晶显示器检测系统的结构示意图，所述液晶显示器检测系统包括测试用信号源11、LCD产品12、LVDS信号线13、LVDS线13连接测试用信号源11的接口 14、需要点亮的IXD面板12与LVDS线13的接口 15以及测试用信号源11的LVDS信号线13外接接口 16。由于测试用信号源11可以匹配到不同型号的IXD产品12，因此需要使用不同的LVDS信号线13进行连接。由于在生产中，需要经常更换不同型号的LCD产品进行测试，因此需要频繁的在测试用信号源PCB接口 16上进行插拔LVDS信号线接口 14，很容易造成该部位损坏而作废。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种转换接口及液晶显示器检测系统，能够避免测试用信号源上低压差分信号线外接接口的频繁插拔导致的信号源上接口的损坏。为解决上述技术问题，本专利技术采用的一个技术方案是提供一种应用于液晶显示装置画面检查的转换接口，转换接口包括依次连接的第一接头、转接主体以及第二接头；其中，第一接头用于与测试用信号源的接口插接，第二接头用于与连接至液晶显示装置的连接线的接口插接。其中，转接主体包括静电防护电路。其中，静电防护电路包括在转换接口中的信号线或电源线与地之间直接串联的瞬态电压抑制器，瞬态电压抑制器使转换接口中的信号线或电源线的电压保持在嵌位电压以下。其中，连接线是低压差分信号LVDS连接线。为解决上述技术问题，本专利技术采用的一个技术方案是提供一种液晶显示器检测系统，检测系统包括测试用信号源、转换接口、低压差分信号线材以及液晶面板；其中，测试用信号源上设置有第一接口 ；转换接口包括依次连接的第一接头、转接主体以及第二接头，转接主体设置于转换接口的中间部分；低压差分信号线材的一端设有第二接口，另一端设有第三接口 ；液晶面板上设置有第四接口 ；其中，测试用信号源上的第一接口与转换接口的第一接头连接；转换接口的第二接头与低压差分信号线材的第二接口连接；低压差分信号线材的第三接口与液晶面板上的第四接口连接。其中，转接主体中设有信号线和电源线，信号线或电源线与地之间直接串联一个瞬态电压抑制器。其中，液晶面板是薄膜晶体管液晶显示面板。本专利技术的有益效果是区别于现有技术液晶显示器检测时，将测试用信号源与液晶面板通过低压差分信号线直接连接的情况，本专利技术在测试用信号源和连接至液晶显示装置的连接线之间增设转换接口，其中，转换接口包括依次连接的第一接头、转接主体以及第二接头，第一接头用于与测试用信号源的接口插接，第二接头用于与连接至液晶显示装置的连接线的接口插接，显然，本专利技术通过增加转换接口，连接至液晶显示装置的连接线无需直接和测试用信号源的接口直接插接，避免了测试用信号源上低压差分信号线外接接口的频繁插拔导致的接口损坏。附图说明图I是现有技术中液晶显示器检测系统的结构示意图；图2是本专利技术液晶显示器检测系统一实施例的结构示意图；图3是本专利技术转换接口一实施例的静电防护电路图；图4是与图3中静电防护电路进行类比的二极管的特性曲线图；图5是本专利技术图3中瞬态电压抑制器的特性曲线图一；图6是本专利技术图3中瞬态电压抑制器的特性曲线图二。具体实施例方式在传统的液晶显示器检测技术中，LVDS线材直接连接测试用信号源以及液晶面板(Panel)。在实际生产中，不同型号/类别的Panel需要匹配不同的LVDS线材，从而导致测试用信号源上低压差分信号线外接接口的频繁插拔，在接口插拔过程中不仅容易导致测试用信号源接口的物理损耗同时也会带来静电的产生，降低了测试用信号源的寿命。本专利技术将插拔对象由LVDS接口与测试用信号源接口之间转变成为LVDS接口与转换接口之间。如图2所示，图2是本专利技术液晶显示器检测系统一实施例的结构示意图，液晶显示器检测系统包括测试用信号源I、转换接口 2、低压差分信号线材3以及液晶面板4。其中，测试用信号源I上设置有第一接口 17 ;转换接口 2的两端分别设置有第一接头21和第二接头22，中间虚线部分设置有转接主体23，第一接头21、转接主体23以及第二接头22依次电连接；低压差分信号线材3的一端设有第二接口 31，另一端设有第三接口32 ;液晶面板4上设置有第四接口 41。如图2所示，转换接口 2包括依次连接的第一接头21、转接主体23和第二接头22， 其中，第一接头21和第二接头22分别位于转换接口 2的两端，转接主体23设置于转换接口 2的中间部分。第一接头21用于与测试用信号源I的接口 17插接，第二接头22用于与连接至液晶显示装置4的连接线3的接口 31插接。具体连接方式为，测试用信号源I上的第一接口 17与转换接口 2的第一接头21连接，转换接口 2的第二接头22与低压差分信号线材3的第二接口 31连接，低压差分信号线材3的第三接口 32与液晶面板4上的第四接口 41连接。本专利技术通过增加转换接口 2，可使得测试 过程中更换Panel样品时只需要插拔转换接口与LVDS线材连接的一端，避免了测试用信号源I上低压差分信号线外接接口 17的频繁插拔导致的接口损坏。当更换Panel样品插拔LVDS线材发生接口损坏或静电破坏时只需更换转换接口即可，极大的提高了测试用信号源的使用寿命，且转换接口的成本远远低于测试用信号源的整机维修费，因此可减少插拔损耗的成本。其中，液晶显示装置4包括薄膜晶体管液晶显示面板等。连接测试用信号源I与液晶显示装置4的连接线3为低压差分信号连接线。测试用信号源I为测试时提供各种电子信号的仪器。现有技术测试用信号源11上的接口 16与LVDS信号线13上的接口 14在插拔作业过程中会产生一定的静电效应，静电释放(Electro-Static discharge,ESD)会对测试用信号源11中的芯片产生冲击，从而导致测试用信号源11的快速失效。请参阅图3，图3是本专利技术转换接口一实施的静电防护电路图。转接主体23设有信号线以及电源线。为了实现ESD保护功能，如图3所示，在信号线或电源线与地(Gnd)之间直接串联一个瞬态电压抑制器(Transient Voltage Suppressor, TVS), In为电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邓明锋，蔡荣茂，文松贤，庄益壮，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：