【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学测量
，具体涉及一种超大尺度光学平台受激振幅一致性检测装置。
技术介绍
实验仪器和生产加工精度的不断提高，对工作环境的要求也越来越高，光学平台是提供这一条件的基础性设施之一。近年来超大尺度光学平台的需求和使用日益广泛，但由于其尺寸超大，在运输和安装过程中极易发生形变，特别是在使用过程中由于地基的不均匀下沉等原因，使得超大尺度光学平台不同部位受力不均，从而改变了台面振动性能的一致性，给科学实验和生产工艺的稳定性产生了显著影响。定期检测光学平台台面在同一振动的激励下，距离振源相等部位振幅的一致性， 是了解光学平台振动性能一致性的有效方法。目前检测光学平台的振动性能，一般采用振动频谱分析仪进行多点测量，但这种仪器造价高、操作复杂且一般实验室和生产单位并不具备，因此研究一种结构简单、操作方便、显示直观的测量装置，实现对超大尺度光学平台振动特性一致性的检测，具有重要的技术经济意义。
技术实现思路
本专利技术所要解决的一个技术问题在于克服上述振动频谱分析仪用于检测光学平台振动特性的不足，提供一种结构简单、操作方便、生产成本低、测量结果直观的超大尺度光学平...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：苗润才，张宗权，王文成，杨宗立，
申请(专利权)人：陕西师范大学，西安航空技术高等专科学校，
类型：发明
国别省市：
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