能够自诊断的电子电路以及磁场检测装置制造方法及图纸

技术编号:7613081 阅读:212 留言:0更新日期:2012-07-26 21:05
本发明专利技术的目的在于提供与以往相比可靠性较高的能够自诊断的电子电路以及磁场检测装置。该电子电路具有:检测电路(21);运算放大器(23),使来自检测电路的检测信号放大;多路复用器(22),连接在检测电路和运算放大器之间;以及微处理器(24),对来自运算放大器的检测信号进行运算处理。并且,具有用于分别生成高电压的第一诊断信号和低电压的第二诊断信号的诊断电路(25)。诊断电路(25)与多路复用器(22)连接,由多路复用器(22)选择的各诊断信号(32、33)能够经由运算放大器(23)向微处理器(24)输入。在微处理器(24)中,能够基于第一诊断信号和第二诊断信号来诊断电子电路是否正常地起作用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及能够判断电子电路是否正常地起作用的能够自诊断的电子电路。
技术介绍
以往,例如在具有用于磁场检测的检测电路的电子电路中,在仅能够取得磁场检测信号的构成中,即使在电子电路内产生故障,微处理器也将该磁场检测信号作为正确的信号来进行运算处理,成为可靠性较差的构成。例如在专利文献I中公开有如下构成在多路复用器方式电压测定元件的测定信道中,预先设置测定O伏的基准电压的信道,测定该基准电压并将测定结果与基准电压值进行比较,由此判断电压测定器件能否正常地通信(参照专利文献I的栏)。但是,如专利文献I所记载的构成那样,在仅为一个基准电压时,例如当多路复用器故障而不能够顺畅地切换且成为锁止状态、并持续出现偶然与一个基准电压吻合的测定结果时,会被判断为正常,不能够充分提高可靠性。此外,在专利文献I中,例如通过在电子电路内连接了运算放大器的构成中,即使上述运算放大器故障,也使基准电压成为0V,因此不能够适当地判断运算放大器的故障。此外,专利文献2所记载的专利技术为,构成为根据外部负载的种类来切换多个驱动电压的电子电路构成,基于通过由一对分压电阻进行分压而得到的分压值,来判断驱动电压的切换是否正常地进行(参照专利文献2的栏)。但是,在专利文献2中,与专利文献I同样,仅通过一个基准电压(分压值)进行判断,不能够充分提高可靠性。专利文献I :日本特开2006-113699号公报专利文献2 :日本特开2008-59517号公报
技术实现思路
本专利技术是用于解决上述以往的问题点的专利技术,其目的在于提供与以往相比可靠性较高的能够自诊断的电子电路以及磁场检测装置。本专利技术为一种电子电路,具有检测电路;运算放大器,使来自上述检测电路的检测信号放大;多路复用器,连接在上述检测电路和上述运算放大器之间;以及微处理器,对来自上述运算放大器的检测信号进行运算处理;该电子电路的特征在于,具有诊断电路,该诊断电路用于分别生成高电压的第一诊断信号和低电压的第二诊断信号,上述诊断电路与上述多路复用器连接,由上述多路复用器所选择的各诊断信号能够经由上述运算放大器向上述微处理器输入,在上述微处理器中,能够基于上述第一诊断信号和上述第二诊断信号,来诊断上述电子电路是否正常地起作用。如此,在本专利技术中,基于高电压和低电压的这两种诊断信号,通过微处理器判断电子电路是否正常地起作用,因此能够构成与以往相比可靠性较高的能够自诊断的电子电路。此外,由于构成为将检测电路和诊断电路与多路复用器连接,而设置一个运算放大器以及微处理器,因此电路构成不会变的复杂而能够抑制成本提高。在本专利技术中优选,在上述微处理器中,根据上述诊断电路的输入电压,能够分别校正用于与向上述微处理器输入的上述第一诊断信号进行比较的第一基准电压和用于与向上述微处理器输入的上述第二诊断信号进行比较的第二基准电压。由此,能够构成可靠性更高的能够自诊断的电子电路。此外,在本专利技术中优选,上述微处理器具有自诊断部,该自诊断部用于基于向上述微处理器输入的上述第一诊断信号以及上述第二诊断信号,对上述电子电路是否正常地起作用进行诊断,上述自诊断部具有评价部,用于对向上述微处理器输入的上述第一诊断信号以及上述第二诊断信号是否在正常范围内进行评价;和计数器部,在通过上述评价部评价为上述第一诊断信号以及上述第二诊断信号从正常范围脱离时,累积规定的计数器值,在上述计数器值成为规定以上时判断为异常而输出错误信号。由此,即使由评价部判断为第一诊断信号、第二诊断信号从正常范围脱离,也不立即输出错误信号,而在计数器值成为规定以上时才开始输出错误信号,由此能够提高电子电路的驱动稳定性。此外,在本专利技术中优选,上述诊断电路能够通过电阻分压电路分别输出高电压的上述第一诊断信号和低电压的上述第二诊断信号。由此,能够构成简单的诊断电路,电路构成不会变的复杂而能够抑制成本提高。此外,在本专利技术中优选,上述检测电路能够由多个磁场检测元件的桥式电路构成。此外,本专利技术的磁场检测装置的特征在于,磁传感器与磁铁隔开间隔地相对配置,上述磁传感器用于对由上述磁铁产生的磁场的变化进行检测,上述磁传感器中构成有包含上述磁场检测元件的上述电子电路。由此,能够有效地避免进行错误的磁场检测,能够提高磁场检测精度。专利技术的效果在本专利技术中,基于高电压和低电压的这两种诊断信号,通过微处理器判断电子电路是否正常地起作用,因此能够构成与以往相比可靠性较高的能够自诊断的电子电路。此外,由于构成为将检测电路和诊断电路与多路复用器连接,而设置一个运算放大器以及微处理器,因此电路构成不会变的复杂而能够抑制成本提高。附图说明图I是磁场检测装置的立体图。图2是本实施方式的电子电路图。图3是本实施方式的微处理器的构成图。图4是基于伴随磁铁旋转的磁场变化,从图2所示的检测电路经过运算放大器而生成的SIN信号和COS信号的影像图((a)为SIN信号、(b)为COS信号)图5是本实施方式的用于对电子电路是否正常起作用进行自诊断的流程图。符号说明9磁场检测装置10磁传感器11印刷布线基板14磁铁20电子电路21检测电路22多路复用器23运算放大器24微处理器25诊断电路26、27桥式电路28a 28c固定电阻32第一诊断信号33第二诊断信号34SIN信号35C0S信号37自诊断部38评价部39计数器部40基准电压调整部具体实施例方式图I是本实施方式的磁场检测装置的立体图。图I所示的磁场检测装置9构成为,具有磁传感器10和磁铁14。图I所示的磁传感器10构成为,具有印刷布线基板11和与印刷布线基板11电连接的传感器元件12。磁传感器10和磁铁14隔开间隔地配置(非接触)。图2是磁传感器10内所组装的电子电路20的电路图。如图2所示,电子电路20构成为,具有作为磁场检测部的检测电路21、多路复用器 22、运算放大器(差动放大器)23、微处理器24以及诊断电路25。如图2所示,检测电路21由多个磁场检测元件31、52、53、54、55、56、57、58的桥式电路26、27构成。如图2所示,当磁铁14(在图2中由点线示意地表示)旋转时,各磁场检测元件 SI S8的电气特性变化,从第一桥式电路26输出作为磁场检测信号的SIN+信号和SIN-信号,从第二桥式电路27输出作为磁场检测信号的COS+信号和COS—信号。SIN+信号和SIN—信号以及COS+信号和C0S_信号分别相位错开180度。并且SIN+信号和COS+信号以及SIN_信号和C0S_信号分别相位错开90度。当通过图2所示的多路复用器22选择SIN+信号和SIN_信号而向运算放大器23输入时,能够得到由运算放大器23如图4(a)所示那样放大的SIN信号34。并且,通过图2所示的多路复用器22选择COS+信号和COS-信号而向运算放大器 23输入时,能够得到由运算放大器23如图4(b)所示那样放大的COS信号35。另外,如图2所示,例如各桥式电路26、27的输入电压(电源电压)为5V,因此如图4(a)、(b)所示那样,中点电位为2. 5V。由运算放大器23生成的SIN信号34以及COS信号35,例如以被转换为数字信号的状态输入到微处理器24的图3所示的运算处理部19,由运算处理部19利用“arc tan” 函数运算磁铁的角度,并进行表示角度值的输出。例如本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:奥村博文繁田一央水泽司
申请(专利权)人:阿尔卑斯电气株式会社
类型:发明
国别省市:

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