反射式差动强度调制光纤角位移传感方法与装置制造方法及图纸

反射式差动强度调制光纤角位移传感方法与装置属于光纤传感及光电检测技术；该方法将两路接收光纤和分别配置在发射光纤两侧形成两路接收光路，两路接收光路产生具有不同位相的响应信号，将不同位相的响应信号差动相减，获得响应误差信号，测量输出响应误差信号即可测出待测反射面角位移；其装置由光源、光纤耦合器、发射光纤、两路接收光纤、两路光电探测器、差动相减探测系统和显示系统构成；本发明专利技术与装置具有结构简单、灵敏度高的优点，并可抑制光源等光强波动以及探测器和后续电路产生的电子噪声影响。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光纤传感及光电检测技术，特别涉及一种反射式差动强度调制光纤角位移传感方法与装置。
技术介绍
相对于干涉式光纤位移传感器，反射式强度调制光纤位移传感器虽然灵敏度低， 但因为结构简单、性能可靠、设计灵活、带宽高、价格低廉等独特优点，在要求成本和采样频率的非接触精密位移测量领域备受关注，除了应用于轴向位移测量外，还被广泛应用于角位移测量。美国学者D.Sagrario 等提出了一种基于单模光纤照射的光纤角位移传感方法，该方法采用十字阵列光纤结构实现轴向位移和角位移的同时测量，但该方法易受光源等光强波动以及探测器和后续电路产生的电子噪声的影响，且灵敏度较低。印度学者A. K. Ganguly 等将两路或两路以上接收光纤配置在发射光纤一侧，利用相邻光纤接收光强之差获取角位移变化，可有效消除光源波动及杂散光影响，但其测量的线性度和稳定性有待提高。梁艺军等米用双面反射调制技术,将双光纤对位移传感器置于反射面两侧，并采用差动处理技术实现高精度角位移测量，但其结构复杂，测量范围有待于提高。专利CN101799828A “一种基于光纤阵列的发射式角位移传感器及测量方法”采用由十字形排列的光本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：单明广，钟志，彭欢，郝本功，
申请(专利权)人：哈尔滨工程大学，
类型：发明
国别省市：