本发明专利技术涉及一种简易式老化及测试装置，包括输入电源，其提供老化所需的电源，电压表V、电流表A，状态指示灯，单刀单掷开关，单刀三掷开关以及保险丝；其中所述老化及测试装置在正常老化过程中，单刀单掷开关闭合，单刀三掷开关打到正当中；当单刀三掷开关打到“1”档上时，可以测试短路保护功能；当单刀三掷开关打到“2”档上时，可以测试轻负载时的电流与电压，和满载对比，以查看恒流精度。本发明专利技术的老化及测试装置利用指示灯显示电源的状态，能简便的进行短路、半载和满载测试的切换；并且可以在老化过程中，快捷的测量输出电压，输出电流等主要参数；对于带短路保护的电源还能检测短路保护；且这些检测都可在老化中完成，无需拆卸，简单方便。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种电器设备老化及测试装置，特别涉及一种集成为一体的简易式老化及测试装置。
技术介绍
电子产品的指标中有一个叫产品失效，产品的失效常发生在产品使用的初期和末期。通俗来讲产品的失效就和人类生病一样，人小时候和老的时候容易患上各种疾病， 人壮年时一般不易得病。一般的电子产品都需要通过高温和带载老化让产品尽早进入壮年期，避免初期失效。老化测试就是模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程。老化除了使产品尽快度过使用初期，还能使产品的缺陷在出厂前暴露，如焊接点的可靠性，产品在设计，材料工艺等方面的各种缺陷； 总之老化可以使产品性能进入稳定区间，出厂后减少了返修率；另外除了老化还需要进行一些必要的电气性能检测，这两个过程一般都是分别由不同的装置分别来进行完成，成本高且过程繁杂。
技术实现思路
根据现有的电子产品在出厂前一般都需要老化这一过程，本专利技术提出一种老化及测试装置，其可以在产品老化过程中测量各个主要参数，简化老化及测试装置和过程。为达到本专利技术的目的，本专利技术的老化及测试装置包括输入电源，其提供老化所需的电源，电压表V、电流表A，状态指示灯，单刀单掷开关，单刀三掷开关以及保险丝。本专利技术的老化及测试装置在正常老化过程中，单刀单掷开关是闭合的，单刀三掷开关打到正当中，此时负载阻值为R，是正常满负载；当单刀三掷开关打到“I”档上，此时负载短路，可以测试短路保护功能，若保护功能完好，短路后，状态指示灯熄灭，短路去除后状态指示灯亮，电路恢复。如果短路保护失效，利用保险丝来保护电路。当单刀三掷开关打到 “2”档上，为50 %负载，此时可以测试轻负载时的电流与电压，和满载对比，可以查看恒流精度。本专利技术的老化及测试装置利用指示灯显示电源的状态，能简便的进行短路、半载和满载测试的切换；并且可以在老化过程中，快捷的测量输出电压，输出电流等主要参数； 对于带短路保护的电源还能检测短路保护；且这些检测都可在老化中完成，无需拆卸，简单方便。附图说明通过下面结合附图的详细描述，本专利技术前述的和其他的目的、特征和优点将变得显而易见。其中图I所示为本专利技术的老化及测试装置的电器原理图。具体实施例方式如图I所示为本专利技术的老化及测试装置的电器原理图，所述老化及测试装置包括输入电源S，其提供老化所需的电源L，电压表V、电流表A，状态指示灯10，单刀单掷开关 20，单刀三掷开关30以及保险丝F1。在正常老化过程中，单刀单掷开关20是闭合的，单刀三掷开关30打到正当中，此时负载阻值为R，是正常满负载；当单刀三掷开关30打到“ I”档上，此时负载短路，可以测试短路保护功能，若保护功能完好，短路后，状态指示灯10熄灭， 短路去除后状态指TjV灯10売，电路恢复。如果短路保护失效，利用保险丝Fl来保护电路。 当单刀三掷开关30打到“2”档上，为50%负载，此时可以测试轻负载时的电流与电压，和满载对比，可以查看恒流精度。当单刀单掷开关20闭合时，电压表V两指针分别插入“A” “B”孔，可以测量带载输出电压；单刀单掷开关20断开时且“C” “D”不接通，此时“A” “B”接电压表能测输出空载电压；单刀单掷开关20断开，“C” “D”插入电流表，能测量输出电流。本专利技术的老化及测试装置有指示灯显示电源的状态，能简便的进行短路、半载和满载测试的切换；并且可以在老化过程中，快捷的测量输出电压，输出电流等主要参数；线路带保险丝，防止短路测试中短路保护失效而损坏电路。本专利技术并不局限于所述的实施例，本领域的技术人员在不脱离本专利技术的精神即公开范围内，仍可作一些修正或改变，故本专利技术的权利保护范围以权利要求书限定的范围为准。权利要求1.一种简易式老化及测试装置，包括输入电源，其提供老化所需的电源，电压表V、电流表A，状态指示灯，单刀单掷开关，单刀三掷开关以及保险丝；其中所述老化及测试装置在正常老化过程中，单刀单掷开关闭合，单刀三掷开关打到正当中；当单刀三掷开关打到 “I”档上时，可以测试短路保护功能；当单刀三掷开关打到“2”档上时，可以测试轻负载时的电流与电压，和满载对比，以查看恒流精度。全文摘要本专利技术涉及一种简易式老化及测试装置，包括输入电源，其提供老化所需的电源，电压表V、电流表A，状态指示灯，单刀单掷开关，单刀三掷开关以及保险丝；其中所述老化及测试装置在正常老化过程中，单刀单掷开关闭合，单刀三掷开关打到正当中；当单刀三掷开关打到“1”档上时，可以测试短路保护功能；当单刀三掷开关打到“2”档上时，可以测试轻负载时的电流与电压，和满载对比，以查看恒流精度。本专利技术的老化及测试装置利用指示灯显示电源的状态，能简便的进行短路、半载和满载测试的切换；并且可以在老化过程中，快捷的测量输出电压，输出电流等主要参数；对于带短路保护的电源还能检测短路保护；且这些检测都可在老化中完成，无需拆卸，简单方便。文档编号G01R31/00GK102590650SQ20111043154公开日2012年7月18日 申请日期2011年12月20日 优先权日2011年12月20日专利技术者殷晨钟 申请人:殷晨钟本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：殷晨钟，
申请(专利权)人：殷晨钟，
类型：发明
国别省市：
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