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用于检测对电子设备的篡改的机构制造技术

技术编号:7569652 阅读:179 留言:0更新日期:2012-07-15 03:05
本公开涉及用于检测对电子设备的篡改的机构。电子设备具有底架,和具有孔的印刷布线板(PWB)。在所述孔中安装有紧固件,由此将所述PWB固定至所述底架。在所述PWB中形成有一对导电迹线。帽状部,其是一定量的导电胶,覆盖所述紧固件的一部分并且填充所述两条迹线之间的电绝缘间隙,由此形成连接所述两条迹线的导电路径。感测电路耦接至所述一对导电迹线,以检测所述路径的阻抗变化,并且信号发送篡改事件警告。还描述并要求保护了其它实施例。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术总体上涉及电子设备,并且更具体地,涉及用于检测在电子设备中发生客户滥用的技术。
技术介绍
这个部分旨在向读者介绍可能涉及本专利技术的各个方面的本领域的各个方面,其在下面将进行描述和/或要求保护。本公开被认为有助于向读者提供背景信息以促进更好理解本专利技术的各个方面。因此,应当明白,这些陈述要按这个角度阅读,而不作为对现有技术的接纳。客户购买的电子产品通常销售有附随该产品的质保单或退换货政策,其中,卖方和/或制造方担保该产品没有缺陷,并且保持可操作达至少一有限时段。例如,典型的质保单和退换货政策可以指定如果产品中发现缺陷,或者产品在质保期间变得不可操作,则制造方或卖方将更换该产品,或者针对该客户以很少或没有附加费用地提供修理服务以将该产品恢复至可操作状态。一般来说,这种质保单和退换货政策仅旨在覆盖与该产品的制造或设计有关的故障和缺陷,并且典型地不覆盖由于客户滥用而发生的产品故障。事实上,许多质保政策在由客户滥用而造成的损坏(无论有意的还是无意的)是产品故障的根本原因时,明确排除退换或修理。例如,客户滥用可以包括将电子设备暴露至液体、极端温度,或过度碰撞(例如,由跌落该设备而造成的碰撞)。客户滥用还可以由篡改造成,所述篡改可以包括不涉及按正常方式操作该设备的、与该设备的任何相互作用(例如,打开设备的外壳或外壳,和添力口、去除,或改变内部组件)。诸如台式个人计算机、膝上型或笔记本计算机、智能电话,以及便携式数字媒体播放器的电子设备通常被终端用户或客户篡改。例如,一些用户喜欢测试他们的自己动手做的能力,并且通过打开外部外壳并尝试去除或修改内部电子组件(诸如印刷布线板或印刷电路板(PCB)),来尝试修理或改进电子设备的性能。不可避免地,部分出售产品将在产品使用期限期间的某一时间点最终故障或变得不可操作。当这种情况发生时,并且如果该产品仍处于质保期间,则购买客户可以根据质保协议的条款,选择返回故障或不能操作设备至销售点的卖方,或者直接返回至制造方以进行维修或更换。然而,当设备因客户滥用而故障(其在粗略检查时可能不容易发现),但客户尝试根据质保单将该设备返回以修理或更换时,就会出现问题。通常,特别是在销售点,接收返回设备的人可能资质不足或者未经训练,从而不能确定设备是否因制造缺陷或者因客户滥用而发生故障。由此,销售点的人可能时常地交换返回产品与工作的替换产品,而不管故障的原因,以便避免与客户的潜在冲突。结果,对于客户来说,并不少见的是,接收针对未覆盖在质保单的条款下的滥用产品的替换产品或修理服务。这种错误替换或修理对于产品的卖方和/或制造方来说可能是昂贵的。
技术实现思路
希望在不必依靠用户(其返回根据制造方的原始说明书不再工作的单元)的解释性陈述的情况下检测客户滥用(这里通称为篡改)。本专利技术的实施例是篡改传感器机构,其可以被用于自动地检测从电子设备去除印刷布线板(PWB)或PCB的尝试。这种机构可以代替用于篡改或侵入检测的典型解决方案,即,通常放置在PCB上并且覆盖将该PCB固定至设备的外壳或底架的紧固件的胶粘标签或粘附物。下面,对本专利技术的几个实施例进行描述。在一个实施例中,PWB中形成有篡改传感器,该篡改传感器由一对导电(电路)迹线和帽状部组成,该帽状部是一定量(an amount of)导电胶,其覆盖紧固件的一部分,并且由于是流体,而填充两条迹线之间的气隙(电绝缘),由此形成连接两条迹线的导电路径。 设置耦接至所述一对迹线的感测电路,以检测该路径的阻抗变化。如果发现所检测的阻抗变化足以指示尝试去除该紧固件(或者事实上,去除了该紧固件),则该感测电路通过向数据处理器信号发送警报而进行响应,该数据处理器在该电子设备中记录篡改事件数据结构,指示进行尝试以使PWB不与底架固定。在另一实施例中,单一电路迹线充分靠近紧固件的孔(以形成篡改传感器)。其是测定数量的导电胶的帽状部与安装在所述孔中的紧固件的工具端部相接触地淀积并且覆盖该工具端部。该帽状部填充所述电路迹线与所述工具端部之间的电绝缘间隙,由此形成经由所述紧固件将该电路迹线连接至底架的导电部分的导电路径。在这个实施例中,所述紧固件可以充当导电路径的一部分,所述导电路径的阻抗的任何变化都受到监测(通过所述感测电路)。在希望有一个以上的篡改传感器的情况下(例如,当需要多个紧固件以将PWB固定至底架时),与每一个孔相关联的该对电路迹线可以彼此串联连接。该感测电路接着被耦接以检测贯穿全部串联连接的篡改传感器行进的整个导电路径的任何阻抗变化。由此,随着每一个篡改传感器在其未篡改状态下“正常短接”(或者展示“连续性”),对这些传感器中任一个的篡改导致“开”路,其被该感测电路检测为阻抗的阈值变化。在某些情况下,在具有多件PWB,或者简单为具有相对大量篡改传感器的一个PWB 的情况下,电子设备可能相对较大或复杂。在该情况下,设置选择和感测电路,其耦接至采用随机接入传感器“阵列”形式的相对大量的篡改传感器。尽管不必是矩形的,但该实施例可以被视为具有被所述选择和感测电路设为有效的“列,,和“行”传感器选择信号,以便每次通过篡改传感器的相应导电路径中的任一条导电路径传递电流或向所述任一条导电路径施加电压,并接着检测其中的阻抗变化。该传感器阵列由此可以周期性地扫描,寻找任何篡改事件警报。这样做,可以通过选定的行和列选择信号固有地识别任何篡改事件的物理位置。上述概要不包括本专利技术的所有方面的详尽列表。设想的是,本专利技术包括可以根据6上面概括的各个方面和在下面详细描述中公开的以及在随本申请提交的权利要求书中具体指出的那些方面的所有合适组合来具体实践的所有系统和方法。这种组合具有在上述概要中未具体叙述的特定优点。附图说明本专利技术的实施例在附图的图中通过示例而非限制的方式进行了例示,其中,相同标号指示相似部件。应注意到,在本公开中对本专利技术的“一(an)”或“一个(one)”实施例的引用不必是同一实施例,而且他们意指至少一个。图1是电子设备的开放底架的、示出篡改传感器机构的透视图或正视图。图2示出了在篡改传感器机构中使用的PWB中的孔的可替换布置。图3是篡改传感器的一个实例的截面。图4是篡改传感器(在这种情况下,接地篡改传感器)的另一实例的截面。图5是接地篡改传感器的另一实例。图6示出了篡改传感器的、具有不同的紧固件工具端部的另一实例。图7是感测电路的示例实现的电路图。图8示出了串联连接的多个篡改传感器。图9示出了耦接至选择逻辑和感测电路的篡改传感器的阵列。图10是用于篡改传感器机构的制造和生产测试过程的流程图。图11是电子设备中的篡改检测过程的流程图。图12是电子设备中的涉及可选择传感器阵列的另一篡改检测过程的流程图。 具体实施例方式下面,参照附图,对本专利技术的几个实施例进行说明。只要未清楚地限定这些实施例中描述的部件的形状、相对位置以及其它方面,本专利技术的范围或精神就不是仅限于所示部件,所示部件仅出于例示的目的而被示出的。而且,虽然阐述了许多细节,但应当明白,本专利技术的一些实施例可以不需要这些细节来具体实践。在其它情况下,公知电路、结构,以及技术未详细示出,以使对本描述的理解不模糊。图1是根据本专利技术一实施例的电子设备的外壳内部的、示出具有篡改传感器机构的开放底架的透视图或正视图。该电子设备可以是台本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:T·M·约翰森
申请(专利权)人:苹果公司
类型:发明
国别省市:

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