射频识别设备的测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种射频识别设备的测试装置，其特征在于，包括：可编程控制单元和分别连接所述可编程控制单元的无线发射测试单元，无线接收测试单元，有线发射测试单元、有线接收测试单元；其中，所述无线发射测试单元，用于测试射频识别设备的无线发射参数；所述无线接收测试单元，用于测试所述射频识别设备的无线接收参数；所述有线发射测试单元，用于测试所述射频识别设备的有线发射工作参数；所述有线接收测试单元，用于测试所述射频识别设备的有线接收工作参数。上述测试装置能够在可编程控制单元的控制下按照预设的测试指令自动完成各种射频识别设备的性能的测试，实现测试的自动化，大大减少人工干预，提高测试效率并保证测试的重复性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电路结构，尤其涉及一种射频识别设备的测试装置。
技术介绍
射频识别(Radio Frequency Identification，RFID)技术是一种非接触式的自动识别技术，其基本原理是以电磁场为媒介进行能量和信息的交互，实现对目标物体的自动识别。与其他的自动识别技术如条形码、磁卡、接触式IC卡等相比，射频识别技术具有非接触性、读写速度快捷方便、存储容量大、识别效率高、安全性能好等诸多优点，已被广泛应用于物流、门禁、医疗、交通、防伪、军事等领域。如图1所示，现有的RFID设备主要包括个人计算机(Personal Computer,PC) 101、读写器102、读写器天线103、标签芯片104和标签天线105五大组件。其中，读写器是一个典型的收发机系统，可以采用收发分离的双天线方式或者采用收发合并的单天线方式工作，与标签进行能量传输和数据交换。通常，标签芯片和标签天线组成标签，标签芯片是RFID设备的数据载体，可以存储商品或者物体的基本信息。当附着有标签的物体进入读写器天线的工作场区范围内，读写器和标签通过电场或者磁场耦合的方式实现两者之间的数据交互。根据RFID设备的工作频率不同，可将其分为低频(Low Frequency，LF)、高频(High Frequency, HF)、超高频(Ultra High Frequency, UHF)和微波(Microwave，MW)等四个频段。频段不同，工作特性也不同。通常，低频和高频的RFID设备基于电感耦合的基本原理，其通信距离较短；超高频和微波频段的RFID设备基于电磁耦合反向散射的基本原理，其通信距离较长；超高频的RFID设备由于具有较远的识别距离、较快的通信速率和较小的天线尺寸而得到广泛应用。在RFID设备(如标签、读写器)投入使用之前均需要对其进行测试，以使投入运营的设备能够正常使用。RFID设备的测试包括读写器测试和标签测试两种。其中，读写器测试一般测量读写器的发射和接收性能；而标签测试不仅要测试标签及其天线的性能，也要测试标签中单个标签芯片的性能。因此，如何提高测试精度、测试效率以及保证测试的可重复性成为当前检测射频识别设备非常关键的技术。现有技术中的测试装置大多利用自动化控制软件和测试设备实现对射频识别设备的自动化测试。然而，测试目标(如读写器的某一工作参数、标签的某一工作参数)不同，外围器件(如功率放大器、功分器、数控衰减器等)的连接关系也不同，由此需要人工拆除以前的连接线，并按照新测试方案连接测试电路。也就是说，针对标签芯片、标签的测试电路和对读写器的测试电路结构不同。在实际测试过程中，需要手动改变各外围器件的连接关系才能实现对各种不同设备的测试；但是手动改变外围器件的连接关系会带来测试误差大，重复性低、且花费时间长的问题
技术实现思路
针对现有技术的缺陷，本专利技术提供一种射频识别设备的测试装置。本专利技术一方面提供的射频识别设备的测试装置，其包括可编程控制单元和分别连接所述可编程控制单元的无线发射测试单元，无线接收测试单元，有线发射测试单元、有线接收测试单元；所述无线发射测试单元，用于测试射频识别设备的无线发射参数；所述无线接收测试单元，用于测试所述射频识别设备的无线接收参数；所述有线发射测试单元，用于测试所述射频识别设备的有线发射工作参数；所述有线接收测试单元，用于测试所述射频识别设备的有线接收工作参数；其中，所述无线发射测试单元、无线接收测试单元、有线发射测试单元和有线接收测试单元中的一个或多个测试单元的一连接端连接待测的射频识别设备，其他连接端(各测试单元中除连接待测的射频识别设备以外的连接端)连接辅助设备；所述可编程控制单元根据用户输入的测试指令控制所述无线发射测试单元、无线接收测试单元、有线发射测试单元、有线接收测试单元分别对所述射频识别设备进行测试。由上述技术方案可知，本专利技术的射频识别设备的测试装置在可编程控制单元的控制下按照预设的测试指令自动完成各种射频识别设备的性能的测试，实现测试的自动化，大大减少人工干预，提高测试效率并保证测试的重复性。另外，上述的测试装置上集成有测试射频识别设备所用到的所有外围器件。附图说明图1为现有技术中射频识别设备的结构示意图；图2为本专利技术一实施例提供的射频识别设备的测试装置的结构示意图；图3A为本专利技术另一实施例提供的射频识别设备的测试装置的结构示意图；图;3B为本专利技术另一实施例提供的射频识别设备的测试装置的结构示意图；图4为本专利技术另一实施例提供的射频识别设备的测试装置的结构示意图。具体实施例方式在本专利技术中，射频识别设备包括双端口的读写器，单端口的读写器、标签，标签芯Jn寸。单端口的读写器为发射端口和接收端口为同一个端口 ；双端口的读写器为发射端口和接收端口为分开的读写器；标签由标签芯片和天线组成。如图2所示，图2示出了本专利技术一实施例提供的射频识别设备的测试装置的结构示意图，本实施例的射频识别设备的测试装置包括可编程控制单元201和连接可编程控制单元201的无线发射测试单元203，无线接收测试单元204，有线发射测试单元205和有线接收测试单元206。其中，无线发射测试单元203、无线接收测试单元204、有线发射测试单元205和有线接收测试单元206中的一个或多个测试单元的一连接端连接待测的射频识别设备，其他连接端(该处的其他连接端为未连接待测的射频识别设备的各测试单元的连接端)连接辅助设备。举例来说，有线发射测试单元205的输出端连接待测的标签芯片，此时有线发射测试单元205的输入端可连接已知的读写器，同时其他测试单元的连接端也可连接辅助设备如射频信号源、频谱仪、负载等。当然，本实施例中辅助设备可包括已知的读写器、已知的标签、已知的标签芯片等。用于辅助测试待测的射频识别设备的设备均可属于本实施例中的辅助设备。另外，无线发射测试单元203用于测试射频识别设备(如读写器、标签)中的无线发射参数；无线接收测试单元204用于测试射频识别设备(如读写器、标签)的无线接收参数(如接收灵敏度、接收最大输入功率等)；有线发射测试单元205用于测试射频识别设备的有线发射工作参数(例如，发射功率和频率精度等)；有线接收测试单元206用于测试射频识别设备中的有线接收工作参数。本实施例中的可编程控制单元201根据用户输入的测试指令控制无线发射测试单元203、无线接收测试单元204、有线发射测试单元205、有线接收测试单元206分别对射频识别设备进行测试。特别地，为提高测量射频识别设备(读写器、标签)的准确率，本实施例中的测试装置还包括连接可编程控制单元201的校准单元202 ；该校准单元还分别连接无线发射测试单元203，无线接收测试单元204，有线发射测试单元205和有线接收测试单元206 ；其用于获取无线发射测试单元203、无线接收测试单元204，有线发射测试单元205和有线接收测试单元206的信号衰减量即各个测试单元所在的线路/电路上的信号衰减量。在实际应用中，校准单元202可连接无线发射测试单元203的输出端、无线接收测试单元204的输入端、有线发射测试单元205的输出端、有线接收测试单元206的输入端。本实施例中的射频识别设备的测试装置还可以将所有用到的外围器件(如第一数控衰减器、功分器、功率放大本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张力天，姜祁峰，丁立业，熊廷文，刘帅奎，尹波，李军，
申请(专利权)人：上海集成电路技术与产业促进中心，上海坤锐电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：