平面相控阵自适应的和差测角方法技术

技术编号:7510101 阅读:305 留言:0更新日期:2012-07-11 12:08
本方法公开了一种平面相控阵自适应的和差测角方法,主要解决现有技术在抑制主瓣干扰的同时,无法准确的估计目标角度的问题。其实现过程为:对各行阵元的接收数据进行自适应波束形成,其输出在Y方向形成等效线阵,采用对称取反的和差波束形成,估计目标俯仰角θT;对各列阵元的接收数据进行自适应波束形成,其输出在X方向形成等效线阵,采用对称取反的和差波束形成,估计目标方位角利用俯仰角θT和方位角采用子空间投影SMI算法对全阵元接收数据进行自适应波束形成,获得抑制主瓣干扰的输出信号。本发明专利技术具有抑制主瓣干扰较好、和差波束测角准确的优点,可用于存在主瓣干扰情况下,估计目标的角度,实现对目标的跟踪。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于阵列信号处理领域,涉及平面阵的和差测角方法,可用于存在主瓣干扰时,实现相控阵自适应抗干扰输出和目标波达方向的准确估计,对目标进行跟踪。
技术介绍
“和差测角”是一种利用差波束与和波束之比得到鉴角曲线,根据鉴角曲线的斜率对目标进行角度估计的方法,被广泛应用于雷达、测控、导航、通信、电子侦察等相控阵系统中,以测量辐射源波达方向。由于电磁环境的日益复杂和敌对人为干扰的日益增多,抗干扰成为信号处理的必备要求之一。在平面相控阵系统中,自适应信号处理可以有效抑制干扰, 根据采样数据自适应调整波束形成权值,使得方向图凹口自动对准干扰的来波方向以实现抗干扰的目的,但不能对目标进行角度估计。然而,将自适应波束形成处理用于传统和差测角方法中,会使方向图出现主瓣畸变和旁瓣抬高,从而导致自适应差波束与和波束之比的斜率与静态差比和的斜率有大的偏差,最终导致和差测角误差增大甚至失效。因此,在有干扰的情况下,利用相控阵实现干扰抑制的同时完成目标波达方向的准确估计成为人们关注白勺^^ ; ^^ ο目前,已有的相控阵自适应和差测角方法主要针对旁瓣干扰,大致可以分为两大类。一类是和差波束预置零陷技术,即本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1. 一种平面相控阵自适应的和差测角方法,包括如下步骤(1)采用子空间投影的SMI自适应处理方法从MXN个阵元平面阵接收的数据中获得M 个X方向自适应权矢量,并将该自适应权矢量用于波束形成,得到M个输出信号;(2)采用对称取反的和差波束形成方法,从M个输出信号中获得和波束Σy与差波束,得到差波束与和波束之比,利用差波束与和波束之比估计出目标俯仰偏角2.根据权利要求1所述的平面相控阵自适应的和差测角方法,其中步骤(1)所述的采用子空间投影的SMI自适应处理方法从接收数据中获得M个X方向自适应权矢量,按如下步骤进行(Ia)将平面阵中各行阵元的接收数据分别记为Xot(t),其中k= 1,2,..^,先固定让 =1,即表示对第1行阵元的接收数据进行操作,利用1 次不同时刻的采样值,估计Xu(t)的协方差矩阵 At (OxMO,其中 K= 128,^,(^),1 = 1,2,···,K表示行3.根据权利要求1所述的平面相控阵自适应的和差测角方法,其中步骤C3)所述的采用子空间投影的SMI自适应处理方法从矩形平面阵的接收数据中获得N个Y方向自适应权矢量,按如下步骤进行(3a)将平面阵中各列阵元的接收数据分别记为x。k(t),k= 1,2,...队先固定1^=1, 表示对第1列阵元接收数据进行操作,利用1 次不同时刻的采样值,估计χ。k(t)的协方差矩阵 A t =去 IX ,(Ox. (O,其中 K = 128,XckUi) ,i = 1,2,...,K 表示列阵元在— Λ i=l ---不同时刻的采样值;(3b)对列阵元协方差矩阵 做特征分...

【专利技术属性】
技术研发人员:曾操孔永飞陶海红廖桂生周志伟何学辉谈维林
申请(专利权)人:西安电子科技大学
类型:发明
国别省市:

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