一种测量短碳纳米管直径和长度的光散射装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种测量短碳纳米管直径和长度的光散射装置，氦氖激光器发射的光，通过格林-泰勒棱镜变成垂直方向的线偏振激光；入射线偏振激光经平面镜反射，经透镜聚焦后照射在样品池内的颗粒样品上，被激光束照射的样品颗粒产生的90度方向的散射光依次进入两个正对的小孔；渥拉斯顿棱镜将散射光分解为垂直方向偏振散射光和水平方向偏振散射光；两个光电倍增管分别对两个方向的偏振散射光进行检测，将测得的光信号转换成TTL脉冲电压信号送入数学相关器得到测量直径及长度，相对于目前最普遍的显微镜测量法，是一种无接触式的测量方法，且测量速度快，成本低，操作要求低。相对于拉曼光谱检测法，可同时测量直径及长度，且适用于多壁碳纳米管的测量。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量技术，特别涉及一种测量短碳纳米管直径和长度的光散射装置。
技术介绍
自从1991年碳纳米管被发现后，其优越的力学、电学、热学等性能使其迅速成为纳米材料中的研究热点。目前，碳纳米管的直径与长度测量主要采用显微镜检测的方法，包括扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、原子力显微镜(AFM)、隧道扫描显微镜(STM)等。这类方法的特点是非常直观准确，但存在设备昂贵、操作要求高、测量时间长等问题，并且由于显微镜的视野有限，因此无法进行样本分布的统计。共聚焦激光拉曼光谱(Confocal Laser Raman)测量法是近年来新出现的一种碳纳米管测量方法，但该方法只能用于单壁碳纳米管的直径测量，无法测量长度，且不适用于多壁碳纳米管的测量。动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)是探测质点运动性质的重要手段，其主要应用是能快速准确地测定溶液中大分子或胶体质点的平动扩散系数，从而得知其大小或流体力学半径。其测量纳米颗粒粒度的原理是建立在颗粒的布朗运动基础之上， 由于颗粒的布朗运动，一定角度下的散射光强将相对于某一平均值随机涨落，这种涨落与颗粒的平动扩散系数々有关，而々又与颗粒的粒度大小满足如下Mokes-Einstein公式r权利要求1. 一种测量短碳纳米管直径和长度的光散射装置，其特征在于，氦氖激光器(1)作为光源，发出的光通过格林-泰勒棱镜(2)变成垂直方向的线偏振激光；入射线偏振激光经平面镜(3)反射，经透镜(4)聚焦后照射在样品池内的颗粒样品上，被激光束照射的样品颗粒产生的90度方向的散射光依次进入两个正对的小孔(6、7)；渥拉斯顿棱镜(8)将散射光分解为垂直方向偏振散射光和水平方向偏振散射光；两个光电倍增管(9、10)分别接收两个方向的偏振散射光，并将测得的光信号转换成TTL脉冲电压信号后送入数学相关器。专利摘要本技术涉及一种测量短碳纳米管直径和长度的光散射装置，氦氖激光器发射的光，通过格林-泰勒棱镜变成垂直方向的线偏振激光；入射线偏振激光经平面镜反射，经透镜聚焦后照射在样品池内的颗粒样品上，被激光束照射的样品颗粒产生的90度方向的散射光依次进入两个正对的小孔；渥拉斯顿棱镜将散射光分解为垂直方向偏振散射光和水平方向偏振散射光；两个光电倍增管分别对两个方向的偏振散射光进行检测，将测得的光信号转换成TTL脉冲电压信号送入数学相关器得到测量直径及长度，相对于目前最普遍的显微镜测量法，是一种无接触式的测量方法，且测量速度快，成本低，操作要求低。相对于拉曼光谱检测法，可同时测量直径及长度，且适用于多壁碳纳米管的测量。文档编号G01B11/08GK202304754SQ20112042949公开日2012年7月4日 申请日期2011年11月3日 优先权日2011年11月3日专利技术者戴曙光, 杨晖, 郑刚 申请人:上海理工大学本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨晖，郑刚，戴曙光，
申请(专利权)人：上海理工大学，
类型：实用新型
国别省市：