【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学
，特别涉及一种光栅尺的滑架装置。
技术介绍
在精密计量与位移控制领域，采用光栅作为基准，在国际上被公认为是获取高精度最实用、最经济、最可靠的技术措施。光栅尺测量机构是实现这一途径的代表性产品，被广泛应用于各种机床、机电设备、自动化测量设备中。滑架装置是整个光栅尺结构的重要组成部分，上方支撑着扫描机构，下方与待测构件固定连接，内部装有电子元件，通过连接器件与外部电缆连接。传统的滑架装置采用一体式的结构，连接器件装在滑架体内部，使得留给电子元件的空间较小；固定方式比较单一，对于光栅尺结构的安装来说并不方便；插头与插座之间的固定连接方式也不方便牢固。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种光栅尺的滑架装置，它除了满足基本的使用功能外，具有较充足的电子元件安装空间；固定方式多样，安装方便。为解决上述问题，本专利技术提供一种光栅尺的滑架装置包括滑架体、滑架体盖、连接器插座和连接器插头，所述滑架体与滑架体盖通过第一圆弧面和第二圆弧面进行安装定位；所述滑架体盖上设置凹槽；在滑架体盖的一端设置圆管，所述连接器插座与连接器插头固定安装在圆管内部。本专利技...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨帆，孟辉，张吉鹏，刘殿双，孙强，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：
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