位置测定装置、位置测定方法以及位置测定程序制造方法及图纸

本发明专利技术提供如下的位置测定装置、位置测定方法以及位置测定程序：通过根据概略位置的精度而改变测位测量中的超时时间，在无法对当前位置进行测定时能够缩短测位所需要的等待时间。概略位置误差判定部(22e)判定概略位置的误差半径，超时时间设定部(22g)根据由概略位置误差判定部(22e)判定的误差半径来设定测位测量中的超时时间(T1～T3、Tmax)。位置测定处理超时指示部(22h)在各超时时间(T1～T3)可视卫星数(S)不满足规定数量的情况下或者达到超时时间(Tmax)的情况下，使位置测定处理部(22d)执行的位置测定处理超时。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：高桥诚，
申请(专利权)人：株式会社NTT都科摩，
类型：发明
国别省市：