打码控制系统及打码系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种打码控制系统，涉及机器识别码的打码技术领域，该系统包括：用于控制打码的主控制器，还包括：与所述主控制器连接的精度测量设备，所述精度测量设备将测量得到的基板上码的位置偏移量发送给所述主控制器，所述主控制器接收所述偏移量。还公开了一种打码系统，包括：为基板打码的至少一个打码头、连接所述打码头的主控制器，还包括：与所述主控制器连接的精度测量设备，所述精度测量补正设备将测量得到的基板上码的位置偏移量发送给所述主控制器，所述主控制器接收所述偏移量，并发送打码指令给所述打码头。本实用新型专利技术提高了流水线上的对基板打码精度，缩短了流水线上对精度检测工序的节拍时间，提高了工程稳定性。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及机器识别码的打码
，特别涉及一种打码控制系统及打码系统。
技术介绍
目前薄膜场效应晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display, TFT-LCD)及有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode, OLED)显示器制造行业中，为了持续提高产品良率和对不良品进行追踪调查的需要，产品以面板panel为单位均有唯一的ID管理，通常在工艺初期进行机器可识别ID码打印，一般ID码的打码位置框(确定ID码打印位置的框)由曝光工艺形成，之后由打标机形成二维码，这样ID码在打码位置框中的位置是由曝光精度和打码精度决定的。在打码过程中，ID码在位置框上的位置会在一定范围内移动，这与设备，工艺的精度和稳定性相关。通常打码结果使用显微镜人工抽样检测，存在效率低下，反应慢，精度差，工程能力低下等问题，会导致打码流水线上的整个二维码的打码精度低。ID码不论是人工读取还是设备自动读取，对偏移均有一定范围要求，根据读取设备精度通常ID偏移中心误差控制在0. 1至几个毫米。打码设备在流片过程中要经常性的抽测ID打码精度以保证在误差范围内。如有偏移量增大的趋势需要及时的补正，否则会导致ID超出误差保证范围导致读取失效。由于ID码位置偏移过大时常发生机器读取错误的问题发生，导致后工程需要人工手动输入，使流水线工序的节拍时间增加，单位时间的产能降低，加大了后工程的管理难度。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本技术要解决的技术问题是在打码工艺流程中，如何持续调整码的偏移量， 以提高打码的位置精度。( 二 )技术方案为解决上述技术问题，本技术提供了一种打码控制系统，包括用于控制打码的主控制器，还包括与所述主控制器连接的精度测量设备，所述精度测量设备将测量得到的基板上码的位置偏移量发送给所述主控制器，所述主控制器接收所述偏移量。其中，所述精度测量设备为关键线宽测量机，所述关键线宽测量机连接所述主控制器，将测量得到的基板上码的位置偏移量发送给所述主控制器。其中，所述精度测量设备为光学检测机，所述光学检测机连接所述主控制器，将测量得到的基板上码的位置偏移量发送给所述主控制器。本技术还提供了一种打码系统，包括为基板打码的至少一个打码头、连接所述打码头的主控制器，还包括与所述主控制器连接的精度测量设备，所述精度测量补正设备将测量得到的基板上码的位置偏移量发送给所述主控制器，所述主控制器接收所述偏移量，并发送打码指令给所述打码头。其中，所述精度测量设备为关键线宽测量机，所述关键线宽测量机连接所述主控制器，将测量得到的基板上码的位置偏移量发送给所述主控制器。其中，所述精度测量设备为光学检测机，所述光学检测机连接所述主控制器，将测量得到的基板上码的位置偏移量发送给所述主控制器。其中，所述打码系统还包括与主控制器连接的传送装置。其中，所述打码系统用于对IXD、0LED、半导体、印刷或太阳能行业的产品打码。(三)有益效果本技术通过精度测量设备对打码后的基板进行精度测量，并将测量的偏移量发送给主控制器，由主控制器根据偏移量对偏移补正后的打码指令实时控制、调整打码头打码，提高了打码流水线上对基板的打码精度。附图说明图1是本技术实施例1的一种打码控制系统结构示意图；图2是本技术实施例2的一种打码控制系统结构示意图；图3是本技术实施例3的一种打码系统结构示意图；图4是图3中打码系统的运行过程示意图；图5是本技术实施例中测量码的位置偏移示意图；图6是本技术实施例4的一种打码系统结构示意图。具体实施方式以下结合附图和实施例，对本技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本技术，但不用来限制本技术的范围。实施例1如图1所示，本实施例的打码控制系统包括用于控制打码的主控制器、与主控制器连接的精度测量设备，精度测量设备将测量得到的基板上码的位置偏移量发送给主控制器，主控制器接收偏移量，根据偏移量控制打码。本实施例中，精度测量设备为关键线宽测量机。本实施例的打码控制系统采用了关键线宽测量机，能对打码过程中的偏移进行测量， 对打码有更精确的控制。实施例2如图2所示，本实施例的打码控制系统包括用于控制打码的主控制器、与主控制器连接的精度测量设备，精度测量设备将测量得到的基板上码的位置偏移量发送给主控制器，主控制器接收偏移量，根据偏移量控制打码。本实施例中，精度测量设备为光学检测机。 本实施例的打码控制系统采用了光学检测机，能对打码过程中的偏移进行测量，对打码有更精确的控制。实施例3如图3所示，本实施例的打码系统包括至少一个打码头、连接打码头的主控制器，连接主控制器的精度测量补正设备，本实施例中，该精度测量补正设备为关键线宽测量机。关键线宽测量机可以利用CCD光学成像然后对特定区域进行边界识别，然后对不同的边界进行距离测量计算。该关键线宽测量机根据需要编辑不同的参数进行测量，能够自动有序的测量每一个码在打码位置框内的偏移量，并将基板上每个码的偏移量自动传递至主控制器。偏移量通常指码偏移打码位置框中心的量。主控制器生成打码指令，打码指令中除了包括现有的信息，如打码头与其打的码的对应关系、打码规格、打码位置(通常指打码位置框的中心点)以外，还包括每个码的补正量，即与偏移量值相同，方向相反的量。打码头收到该指令后，调整自身的位置，即对打码位置做相应的补正后进行打码。本实施例的打码系统的工作原理如下打码流程如图4所示，在打码流水线上，过程A 未打码的基板(玻璃、硅片、塑料、 纸质材料等材质的基板)通过机械手或者是连续的滚轮传送至打码头下面。过程B:打码头对该基板进行打码，图中可看出，传送过打码头的部分已经打上了码。过程C:完成了打码过程。过程D 对完成打码后的基板上的每个码测量其位置偏移量。如图5所示，为其中一个码在打码位置框内的示意图，为方便说明，以长方形的码为例，长边方向通常有足够的偏移量，一般不会导致码读取失效，关键控制好短边方向的码的位置偏移量，即可保证读取准确率，因此以短边为例。关键线宽测量机对边界区域进行识别，因此可以测得码在打码位置框内短边方向(Y方向，以打码位置框的左下角为原点)上的偏移DY1和DY2。码在正常位置精度状态下，DYl与DY2相等，可计算偏移量Ashift = (DYl-DY2)/2。因此Ashift 为正数，表示码向下偏移，为负数表示码向上偏移。过程E 将该偏移量发送给主控制器，主控制器生成包含上述补正量的打码指令，并将指令发送给打码头，打码头对流水线上后续的基板打码时，按指令中的补正量对打码位置进行补正，以保证整条流水线的打码精度。由于码的位置偏移可以允许在一定的范围内，通过上述打码系统的实时测量补正，保证了打码的精度，且在一定时间内不会超出偏移允许的范围。为了不频繁测量，可以设置关键线宽测量机的测量时间间隔或基板片数间隔。本实施例的打码系统提高了流水线上的对基板打码精度，降低人为误差，也减少了人员检测岗位。缩短了流水线上对精度检测工序的节拍时间，提高了工程稳定性。实施例4如图6所示，本实施例的打码系统的基本结构和实施例3相同，不同的是精度测量补正设备采用光学检测机。该光学检测机本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王震宇，张尚明，王雷，黄炳相，崔缀奎，金相秦，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥京东方光电科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：