电压测试装置及系统制造方法及图纸

技术编号:7348627 阅读:174 留言:0更新日期:2012-05-18 11:53
一种电压测试装置及系统,所述电压测试装置包括测试模块,该测试模块包括第一测试电路、第二测试电路及场效应管,该第一测试电路包括第一比较芯片,该第一比较芯片的正向输入端连接至待测电源,并获得一参考电压,该第一比较芯片的负向输入端获得该待测电源预设电压的上限值,该第二测试电路包括第二比较芯片,该第二比较芯片的负向输入端连接至待测电源,并获得另一参考电压,该第二比较芯片的正向输入端获得该待测电源预设电压的下限值,该第一比较芯片及第二比较芯片的输出端均连接至场效应管的栅极,该场效应管的源极接地,该场效应管的漏极输出第一比较芯片及第二比较芯片的测试结果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种电压测试装置及系统,尤其涉及一种用于对待测电源的电压范围进行测试的电压测试装置及系统。
技术介绍
电源装置的供电电压范围是衡量其性能好坏的重要指标。一般电源装置制造完成后,都需要对其供电电压范围进行测试。对电源装置的测试一般采用专用的电源测试仪器。然而,现有的电源测试仪器大多数价格昂贵,使得测试成本较高,且不同型号的电源测试仪器之间通用性也较差。
技术实现思路
鉴于以上内容,有必要提供一种成本较低,通用性较好的电压测试装置。另,有必要提供一种具有该电压测试装置的系统。一种电压测试装置,用于测试待测电源的电压范围是否符合预设标准;所述电压测试装置包括测试模块,该测试模块包括第一测试电路、第二测试电路及场效应管,该第一测试电路包括第一比较芯片,该第一比较芯片的正向输入端连接至待测电源,并获得一参考电压,该第一比较芯片的负向输入端获得该待测电源预设电压的上限值,该第二测试电路包括第二比较芯片,该第二比较芯片的负向输入端连接至待测电源,并获得另一参考电压,该第二比较芯片的正向输入端获得该待测电源预设电压的下限值,该第一比较芯片及第二比较芯片的输出端均连接至场效应管的栅极,该场效应管的源极接地,该场效应管的漏极输出第一比较芯片及第二比较芯片的测试结果。一种电压测试系统,用于测试待测电源的电压范围是否符合预设标准,所述电压测试系统包括该电压测试装置及计算机。上述电压测试系统通过分别调节该第一可调电阻及第二可调电阻的阻值,使得第一比较芯片负向输入端的电压及第二比较芯片正向输入端的电压分别为待测电源预设电压的上限值及下限值。如此,使用者后续仅需观察该发光二极管的发光与否,便可得知该待测电源的电压范围是否符合预设标准。其测试成本较低且通用性较高,使用方便。附图说明下面参照附图结合具体实施方式对本专利技术作进一步的描述。图1为本专利技术较佳实施方式的电压测试系统与待测电源的功能框图。图2为图1所示电压测试系统中控制模块的电路图。图3为图1所示电压测试系统中开关模块的电路图。图4为图1所示电压测试系统中负载模块的电路图。图5为图1所示电压测试系统中测试模块的电路图。主要元件符号说明电压测试系统        100待测电源            200电压测试装置        10计算机              20网络接口            11控制模块            12开关模块            13负载模块            14测试模块            15控制芯片            121信号传输引脚        USB_D+、USB_D-开关控制引脚        P1.0控制信号引脚        P1.1-P1.4接收信号引脚        TEST状态引脚        STATUS电源            VCC电阻            R1-R4、R6-R8第一可调电阻    R5第二可调电阻    R9发光二极管      D1、D4二极管          D2-D3稳压管          D5、D6场效应管        Q0-Q2继电器          K0、K2第一线圈端      L0、L2第二线圈端      L1、L3常开点          NO0、NO1共通点          COM0、COM1负载选择电路    141-144第一测试电路    151第二测试电路    152第一比较芯片    T1第二比较芯片    T2具体实施方式请参照图1,本专利技术较佳实施方式提供一种电压测试系统100,用于测试一待测电源200的电压范围是否符合预设标准。该电压测试系统100包括电压测试装置10及计算机20。该电压测试装置10包括网络接口11、控制模块12、开关模块13、负载模块14及测试模块15。所述网络接口11可以为现有的USB接口,其连接所述控制模块12及计算机20,用于将所述计算机20的指令传输给所述控制模块12及将所述控制模块12的输出信号传输给计算机20。请一并参阅图2,所述控制模块12包括控制芯片121,该控制芯片121的型号可以为CY7C63803-SXC,包括一组信号传输引脚USB_D+、USB_D-、开关控制引脚P1.0、一组控制信号引脚P1.1-P1.4、接收信号引脚TEST及状态引脚STATUS。该信号传输引脚USB_D+、USB_D-均连接至网络接口11,用以通过网络接口11接收计算机20的指令,并将测试结果传送给计算机20。该开关控制引脚P1.0连接至开关模块13,用于通过开关模块13相应控制该待测电源200的开启及关闭。该控制信号引脚P1.1-P1.4连接至负载模块14,用于对待测电源200加载不同的负载。该接收信号引脚TEST连接至测试模块15,用于接收该测试模块15的测试结果,并将该测试结果进行处理后通过网络接口11传送至计算机20进行显示。该状态引脚STATUS通过串联的发光二极管D1及电阻R1连接至一电源VCC,用于显示该控制模块12的工作状态。例如,当状态引脚STATUS输出一低电平时,所述发光二极管D1导通,其正常发光,表明该控制模块12正常工作。请参阅图3,该开关模块13包括场效应管Q0及继电器K0,该场效应管Q0的栅极连接至开关控制引脚P1.0,并通过电阻R2连接至电源VCC。该场效应管Q0的源极接地,该场效应管Q0的漏极连接至继电器K0的第一线圈端L0。该继电器K0的第二线圈端L1连接至电源VCC。该继电器K0的常开点NO0及共通点COM0均连接至待测电源200。当开关控制引脚P1.0输出一高电平时,所述场效应管Q0导通,进而使得继电器K0导通,以开启该待测电源200。反之,当开关控制引脚P1.0输出一低电平时,所述场效应管Q0及继电器K0均截止,所述待测电源200关闭。如此,通过控制输入至开关模块13的开关控制引脚P1.0,可相应开启及关闭该待测电源200。该继电器K0上还连接有二极管D2,用于避免继电器K0在启动与关闭的切换中产生反向高压,进而防止场效应管Q0烧毁。请参阅图4,该负载模块14包括四组负载选择电路141-144,每一负载选择电路的具体电路结构与开关模块13大致相同,其区别在于场效应管的栅极是连本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电压测试装置,用于测试待测电源的电压范围是否符合预设标准;
其特征在于:所述电压测试装置包括测试模块,该测试模块包括第一测试电
路、第二测试电路及场效应管,该第一测试电路包括第一比较芯片,该第一
比较芯片的正向输入端连接至待测电源,并获得一参考电压,该第一比较芯
片的负向输入端获得该待测电源预设电压的上限值,该第二测试电路包括第
二比较芯片,该第二比较芯片的负向输入端连接至待测电源,并获得另一参
考电压,该第二比较芯片的正向输入端获得该待测电源预设电压的下限值,
该第一比较芯片及第二比较芯片的输出端均连接至场效应管的栅极,该场效
应管的源极接地,该场效应管的漏极输出第一比较芯片及第二比较芯片的测
试结果。
2.如权利要求1所述的电压测试装置,其特征在于:该第一比较芯片的正
向输入端及第二比较芯片的负向输入端分别通过稳压管接地,以分别将所述
待测电源稳压至参考电压及所述另一参考电压,第一比较芯片的负向输入端
通过第一可调电阻连接至待测电源,并使得第一可调电阻的一端接地,以获
得所述待测电源预设电压的上限值,该第二比较芯片的正向输入端通过第二
可调电阻连接至待测电源,并使得第二可调电阻的一端接地,以获得该待测
电源预设电压的下限值。
3.如权利要求1所述的电压测试装置,其特征在于:所述电压测试装置包
括控制模块及开关模块,所述控制模块包括控制芯片,所述控制芯片包括开
关控制引脚,该开关控制引脚连接至开关模块,用于通过开关模块相应控制
该待测电源的开启及关闭。
4.如权利要求3所述的电压测试装置,其特征在于:所述控制芯片包括状
态引脚,该状态引脚通过串联的发光二极管及电...

【专利技术属性】
技术研发人员:李圣义
申请(专利权)人:鸿富锦精密工业深圳有限公司鸿海精密工业股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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