电光分析天平制造技术

本实用新型专利技术公开一种带有粗略称量装置的电光分析天平，包括升降枢、设在称物盘下面的用于将压力转换为电压信号的称重传感器、用于放大电压信号的放大电路、用于将电压模拟信号转换为数字信号的模数转换器、用于显示数字信号的显示器，所述称重传感器输出端连接所述放大电路，所述放大电路输出端连接所述模数转换器，所述模数转换器输出端连接所述显示器，所述称重传感器与所述升降枢连接。本实用新型专利技术在使用时被称量物的粗略称量在分析天平内完成，省去了称量物转移的过程，操作方便、避免被称量物受污染而影响称量的精度。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种电光分析天平，具体涉及一种带有粗略称量装置的电光分析天平。
技术介绍
目前在化学分析领域中半机械式、全机械式电光分析天平仍被广泛的应用，一般包括天平梁、支柱、吊耳、支点刀口、环码、环码指数盘、托叶、阻尼器、天平盘、盘托、指针、投影屏、天平罩、升降枢、微动调节杆、天平足、平衡调节螺丝，但这种天平在称量操作时比较麻烦，主要是因为为了防止被称量物的质量超过分析天平的量程和粗略估计被称量物的质量，先在精度较低的普通天平中称量，估计出被称量物质量的粗略值，然后转移到电光分析天平中再次称量，得出被称量物质量的精确值。这样的过程不仅操作麻烦、时间长，而且在转移中必须对被称量物做好保护，以免被污染。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有电光分析天平存在的上述不足，提供了一种带有粗略称量装置的电光分析天平。本技术的目的是通过以下技术手段实现的包括升降枢、设在称物盘下面的用于将压力转换为电压信号的称重传感器、用于放大电压信号的放大电路、用于将电压模拟信号转换为数字信号的模数转换器、用于显示数字信号的显示器，称重传感器输出端连接放大电路，放大电路输出端连接模数转换器，模数转换器输出端连接所述显示器，称重传感器与升降枢连接。本技术中的称重传感器也可以设置在称物盘的盘托上，盘托与升降枢连接， 受升降枢控制上下移动。本技术进一步解决了防止称被量物质量超过天平量程而损坏天平的问题，为解决此技术问题，本技术还包括用于判断被称量物质量与分析天平量称大小的比较器、锁定装置、用于控制锁定装置的线圈、用于驱动线圈的开关电路，放大电路连接比较器反相输入端，比较器同相输入端连接一稳定电压，输出端连接开关电路，开关电路连接线圈，线圈控制锁定装置。锁定装置由具有铁磁性的锁定栓、天平罩底板上的孔、升降枢转轴上的锁定孔组成，锁定栓的一端靠近线圈的一端，锁定栓另一端通过天平罩底板上的孔伸入锁定孔。当被称量物质量小于光电分析天平量称时，比较器输出输出高电平，开关电路工作，线圈中通过电流，解锁锁定装置，分析天平才能工作，否则分析天平不能工作。与现有技术相比本技术具有以下明显的优点被称量物的粗略称量在分析天平内完成，省去了称量物转移的过程，操作方便、避免被称量物受污染而影响称量的精度， 而且能够防止称被量物质量超过天平量程而损坏天平的问题。附图说明图1为本技术的第一实施例的结构示意图；图2为本技术的第一实施例的信号流图；图3为本技术的第二实施例的结构示意图；图中，1-称物盘，2-称重传感器，3-导线，4-PCB板，5_显示器，6_投影屏，21-盘托，7-比较器，8-开关电路，9-线圈，10-锁定装置，101-锁定栓，102-孔，103-升降枢转轴， 104-锁定孔。具体实施方式以下结合附图说明和具体实施方式对本技术作进一步的详细描述如图1所示为本技术第一实施例的结构，在电光分析天平的称物盘1下面设有称重传感器2、称重传感器2下面是盘托21，称重传感器2通过导线3连接投影屏6底座内的PCB板4，PCB板4上有放大电路、模数转换器、显示器5，盘托与升降枢连接，受升降枢控制上下移动。如图2所示为本技术第一实施例信号流图，称重传感器2用于将压力转换为电压信号，输出端连接放大电路；放大电路用于放大输入的电压信号，输出端连接模数转换器；模数转换器用于将模拟信号转换为数字信号，输出端连接显示器；显示器5用于显示输入的数字信号。如图3所示为本技术第二实施例的结构，与第一实施例的区别在于，增加比较器7、开关电路8、线圈9、锁定装置10。比较器7由运算放大器A组成，运算放大器A的同相输入端连接一稳定的电压，反相输入端连接放大电路的输出端，在反相输入端与输出端之间接二极管D，反相输入端连接二极管D的正极，输出端连接二极管D的负极，输出端接开关电路8的输入端；开关电路8由三极管G构成，基极为输入端，发射极接地，集电极通过线圈9连接电源Vcc。锁定装置10由铁质材料制成的锁定栓101、天平罩底面的孔102和升降枢转轴103上的锁定孔104构成，锁定栓101的一端靠近线圈9的一端，另一端穿过孔 102伸入锁定孔104。比较器7接收放大电路输出电压，当此电压小于设定的表示天平量程的稳定电压时，输出大于零电位的高电平，开关电路8工作于开状态，线圈9中通过电流，产生的磁场吸引锁定栓101向上移动，锁定栓101的另一端脱离锁定孔104，允许升降枢转轴103转动，从而解锁天平，天平才能工作；当比较器反相输入端电压大于设定的表示天平量程的稳定电压时，比较器输出小于零电位的低电平，开关电路8工作于关状态，线圈9中没有电流，无法产生磁场吸引锁定栓101移动，由于锁定栓101与锁定孔104的共同作用，升降枢转轴103 动无法转动，天平不能工作。二极管D的作用是使比较器输出的低电平变为-0. 3V -0. 7V, 保护开关电路8，使之处于正常的工作状态。总之，本技术提供了一种带有粗略称量装置的电光分析天平，省去了称量物转移的过程、操作方便、避免被称量物受污染而影响称量的精度。以上所述，仅为本技术的一部分具体实施方式，本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。权利要求1.一种电光分析天平，其特征在于包括升降枢、设在称物盘下面的用于将压力转换为电压信号的称重传感器、用于放大电压信号的放大电路、用于将电压模拟信号转换为数字信号的模数转换器、用于显示数字信号的显示器，所述称重传感器输出端连接所述放大电路，所述放大电路输出端连接所述模数转换器，所述模数转换器输出端连接所述显示器， 所述称重传感器与所述升降枢连接。2.根据权利要求1所述的电光分析天平，其特征在于还包括盘托，所述盘托设在所述称重传感器下面，所述盘托与所述升降枢连接。3.根据权利要求1所述的电光分析天平，其特征在于还包括用于判断被称量物质量与分析天平量称大小的比较器、锁定装置、用于控制所述锁定装置的线圈、用于驱动所述线圈的开关电路，所述放大电路连接所述比较器反相输入端；所述比较器同相输入端连接一稳定电压，输出端连接所述开关电路，所述开关电路连接所述线圈。4.根据权利要求3所述的的电光分析天平，其特征在于所述锁定装置由具有铁磁性的锁定栓、天平罩底板上的孔、升降枢转轴上的锁定孔组成，所述锁定栓的一端靠近所述线圈的一端，所述锁定栓另一端通过所述天平罩底板上的孔伸入锁定孔。5.根据权利要求3所述的的电光分析天平，其特征在于所述比较器主要由运算放大器组成。6.根据权利要求3所述的的电光分析天平，其特征在于所述开关电路主要由三极管组成，所述三极管的集电极连接所述线圈。7.根据权利要求5所述的的电光分析天平，其特征在于还包括二极管，所述运算放大器反相输入端接所述二极管的正极，输出端接所述二极管的负极。专利摘要本技术公开一种带有粗略称量装置的电光分析天平，包括升降枢、设在称物盘下面的用于将压力转换为电压信号的称重传感器、用于放大电压信号的放大电路、用于将电压模拟信号转换为数字信号的模数转换器、用于显示数字信号的显示器，所述称重传感器输出端连接所述放大电路，所述放大电路输出本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孟凡强，
申请(专利权)人：孟凡强，
类型：实用新型
国别省市：