触碰事件的探测方法与探测电路技术

技术编号:7269751 阅读:188 留言:0更新日期:2012-04-15 14:50
一种触碰事件的探测方法,用以在一触控面板上探测一触碰事件。该触控面板分别在第一维度与第二维度上包含有复数个第一感应轴与复数个第二感应轴。该探测方法包含有:针对每一个第一感应轴来选择不与该第一感应轴相邻的第一感应轴以作为第一参考轴,并应用该第一感应轴以及该第一参考轴来得到对应该第一感应轴的第一感测数据;应用该些第二感应轴来得到对应每一个第二感应轴的第二感测数据;以及依据所有这些第一感应轴所对应的复数笔第一感测数据以及所有该些第二感应轴所对应的复数笔第二感测数据来得到一触碰事件探测结果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及触控技术,尤其是涉及一种用以决定触控面板上的触碰点的探测方法及其相关装置。
技术介绍
在现代化电子商品当中,电容式触控面板由于简单易操作的特性而常被用来作为使用者与机器的沟通接口,其中投射式电容(projective capacitive)因具有支持多点触控(multi touch)、较高的透光率以及省电等特性而被广泛地应用在手机、车用导航器等可携式装置上。然而,投射式电容在用于触控面板的测量时,通常在横轴方向或是纵轴方向仅有数个到数十个感测电极(sensingelectrode),而该触控面板的这些感测电极会依据其上的一触碰事件来分别产生复数个感测信号,并依据两两相邻的感测电极所产生的感测信号之间的差量,来分别产生复数个感测输出。在现有技术中,触碰点的计算通常是用内插的方式,经由计算出的感测输出所决定的预估峰值,或是以计算出的感测输出值与极值的比例来预估测量点与极值的距离。请参照图1,其为于已知的触控面板100上探测一触碰事件TEa的示例性示意图。如图所示,已知的触控面板100在X轴与Y轴上各具有六个感应轴Xl )(6与Yl Y6,而感应轴Xl )(6、Y1 Υ6分别具有相对应的感测输出值SXla SX6a、SYla SY6a。举例来说,对感应轴Xl )(6而言,其中仅有感测输出值SX3a SXfe 为有效数值(即非零的数值),感测输出值SX3a经由一探测电路比较感应轴X3所探测到的感测信号以及感应轴X2所探测到的感测信号后计算而得到,同样地,感测输出值SX^与感测输出值SXfe经由该探测电路比较感应轴X4、)(5与)(5、)(6所探测到的感测信号后计算而分别得到的数值。经由内插的方式来计算这些有效数值,便可计算出触碰事件TCa的触碰点位在感应轴X3与X4之间的位置。同理,经过计算对应感应轴Yl Y6的有效数值(即 SY3a SYfe),可得出触碰事件TEa的触碰点位在感应轴W的位置。请再参照图2,其为已知触控面板100上探测另一触碰事件TEb的示例性示意图。 相比于触碰事件TEa,触碰事件TEb的触碰点较小,其范围并无法涵盖其中探测电极的面积,而有效数值也因此减少。在图2的范例中,仅有感测输出值SX!3b SX4b以及SY4b为有效数值,因此后续在作计算时,无法利用内插法来精确地得到触碰点的位置。再者,当触碰事件TCb为一动态的触碰点时,例如使用者应用一触碰笔(touch pen)划过触碰面板100, 由于缺乏足够的有效数值,其所探测到的触碰点轨迹会呈现非线性的特性,因此导致较差的系统效能。所以,如何增加触控面板100上所探测到的有效数据,进而增加探测数据的线性度仍是此领域有待解决的一大问题。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术提供了一种可增加有效探测数据的探测方法与探测电路,进而改善探测数据的线性度。依据本专利技术的一实施方案,其提供了一种触碰事件的探测方法,用以在触控面板上探测触碰事件,其中该触控面板分别在第一维度与第二维度上包含有复数个第一感应轴与复数个第二感应轴,该探测方法包含有针对每一个第一感应轴来选择不与该第一感应轴相邻的第一感应轴以作为第一参考轴,应用该第一感应轴以及该第一参考轴来得到对应该第一感应轴的第一感测数据;应用这些第二感应轴来得到对应每一个第二感应轴的第二感测数据;以及依据所有这些第一感应轴所对应的复数笔第一感测数据以及所有这些第二感应轴所对应的复数笔第二感测数据来得到触碰事件探测结果。根据该实施方案所述的探测方法,其中所述第一参考轴与所述第一感应轴之间仅相隔有一第一感应轴。根据该实施方案所述的探测方法,其中应用所述第二感应轴来得到对应每一个第二感应轴的所述第二感测数据的步骤包含针对每一个第二感应轴选择不与所述第二感应轴相邻的第二感应轴来作为第二参考轴,应用所述第二感应轴以及所述第二参考轴来得到对应所述第二感应轴的所述第二感测数据。优选地,在该探测方法中,所述第一参考轴与所述第一感应轴之间仅相隔有一第一感应轴,以及所述第二参考轴与所述第二感应轴之间仅相隔有一第二感应轴。依据本专利技术的另一实施方案,其提供了一种触碰事件的探测电路,用以在触控面板上探测触碰事件,其中该触控面板分别在第一维度与第二维度上包含有复数个第一感应轴与复数个第二感应轴,该探测电路包含有扫描元件以及决定元件。针对每一个第一感应轴,该扫描元件选择不与该第一感应轴相邻的第一感应轴来作为第一参考轴,并应用该第一感应轴以及该第一参考轴来得到对应该第一感应轴的第一感测数据;以及该扫描元件还根据这些第二感应轴来得到对应每一个第二感应轴的第二感测数据。该决定元件耦接于该扫描元件,用以依据所有这些第一感应轴所对应的复数笔第一感测数据以及所有这些第二感应轴所对应的复数笔第二感测数据来得到触碰事件探测结果。根据该实施方案所述的探测电路,其中所述第一参考轴与所述第一感应轴之间仅相隔有一第一感应轴。根据该实施方案所述的探测电路,其中针对每一个第二感应轴,所述扫描元件选择不与所述第二感应轴相邻的第二感应轴来作为第二参考轴,并应用所述第二感应轴以及所述第二参考轴来得到对应所述第二感应轴的所述第二感测数据。优选地,在该探测电路中,所述第一参考轴与所述第一感应轴之间仅相隔有一第一感应轴,以及所述第二参考轴与所述第二感应轴之间仅相隔有一第二感应轴。附图说明图1为在已知触控面板上探测一触碰事件的示例性示意图。图2为在已知触控面板上探测另一触碰事件的示例性示意图。图3为根据本专利技术的一实施方案所实现的探测电路的示意图。图4为根据本专利技术的一实施方案在一触控面板上探测触碰事件的示例性示意图。具体实施例方式请同时参照图3与图4,图3为根据本专利技术的一实施方案所实现的探测电路300的示意图,而图4为根据本专利技术的一实施方案在一触控面板100上探测一触碰事件TEc的示例性示意图,其中图4中的触碰事件TEc与图2中所示的触碰事件TCb有着同样大小的触碰点面积。探测电路300包含有(但不局限于)一扫描元件310以及一决定元件320,而触控面板100分别在第一维度(例如X轴)与第二维度(例如Y轴)上包含有六个第一感应轴Xl m与六个第二感应轴Yl Y6。请注意,第一、第二感应轴的数量仅作为示例性说明,而非本专利技术的限制。在该实施方案中,扫描元件310在获取一特定感应轴的感测输出时,会选择不与该特定感应轴相邻的一感应轴来作为一参考轴,并应用该感应轴以及该参考轴来得到对应该特定感应轴的一感测数据(即得到对应该特定感应轴的该感测输出)。举例来说,当扫描元件310在获取第一感应轴X3的感测输出时,扫描元件310会选取仅相隔有第一感应轴X2的第一感应轴Xl来作为第一参考轴,并应用对应第一感应轴 X3(即前述的特定感应轴)的感测信号来与对应第一感应轴Xl (即前述的参考轴)加以比较与计算,以得到对应第一感应轴X3的感测输出SX3c ;同理,当扫描元件310在获取第二感应轴Y3的感测输出时,扫描元件310会选取仅相隔有一第二感应轴Y2的第二感应轴Yl 来作为一第二参考轴,并应用对应第二感应轴Y3(即前述的特定感应轴)的感测信号来与对应第二感应轴Yl (即前述的参考轴)加以比较与计算,以得到对应第二感应轴Υ3的一感测输出STOc。以此类推,扫描元件310会逐一处理第一感本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张仕勤周世宗吴东格
申请(专利权)人:瑞鼎科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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