本发明专利技术提供一种荧光观察系统(1)，其充分去除了残留于相除图像的对于距离和角度的依赖性利用定量性较高的荧光图像进行观察。荧光观察系统(1)具有：荧光观察装置(100)；校正装置(101)，其与荧光观察装置(100)连接，具有标准样本(30)和以能够变更的方式对该标准样本(30)设定荧光观察装置(100)的观察距离(D)和观察角度(θ)的观察状态设定机构(31、32)；以及观察条件调节部(10)，其根据所设定的观察距离(D)和观察角度(θ)以及通过荧光观察装置(100)对标准样本(30)进行摄影而获得的参照图像(G1)和荧光图像(G2)，调节观察条件。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
【技术保护点】
１．一种荧光观察系统，其具有：荧光观察装置，其具有具备照射照明光和激励光的光源的照明部、对在被摄体产生的荧光进行摄影并获得荧光图像的荧光摄像部、对从被摄体返回的返回光进行摄影并获得参照图像的返回光摄像部、以及使用该返回光摄像部获得的参照图像对上述荧光摄像部所拍摄的荧光图像进行校正的图像校正部；校正装置，其与该荧光观察装置连接，具有标准样本以及以能够变更的方式对该标准样本设定上述荧光观察装置的观察距离和观察角度的观察状态设定机构；以及观察条件调节部，其根据该校正装置设定的观察距最大观察角度的范围内的最小值，其中，当ｂｃ－ａｄ＝０时，ｘ、ｙ根据满足ｘ∶ｙ＝ｃ∶ａ＝ｄ∶ｂ的任意实数来设定。ｔｅｒ）ｍｉｎ－１（ＦＬａｆｔｅｒ／ＲＬａｆｔｅｒ）ｍａｘ是设想的最小观察距离到最大观察距离的范围且最小观察角度到最大观察角度的范围内的最大值，（ＦＬａｆｔｅｒ／ＲＬａｆｔｅｒ）ｍｉｎ是设想的最小观察距离到最大观察距离的范围且最小观察角度到ｍｉｎ是设想的最小观察距离，θｍａｘ是设想的最大观察角度，θｍｉｎ是设想的最小观察角度（其中，０°≤θｍｉｎ＜θｍａｘ≤９０°），ｍ、ｎ是满足式（３）的任意常数，ｅｍａｘ：（ＦＬａｆｔｅｒ／ＲＬａｆｔｅｒ）ｍａｘ÷（ＦＬａｆｔｅｒ／ＲＬａｆ的上述参照图像的亮度的从上述照明部到上述标准样本的余弦特性进行幂近似而获得的指数，ｒＤ｜ｍ｜·ｒθ｜ｎ｜≤１＋ｅｍａｘ （３）ｒＤ＝Ｄｍａｘ／Ｄｍｉｎｒθ＝ｃｏｓθｍｉｎ／ｃｏｓθｍａｘＤｍａｘ是设想的最大观察距离，Ｄ的余弦特性进行幂近似而获得的指数，ｃ是对朝上述标准样本照射既定强度的照明光时上述返回光摄像部获得的上述参照图像的亮度的从上述照明部到上述标准样本的距离特性进行幂近似而获得的指数，ｄ是对朝上述标准样本照射既定强度的照明光时上述返回光摄像部获得述标准样本照射既定强度的激励光时上述荧光摄像部获得的上述荧光图像的亮度的从上述照明部到上述标准样本的距离特性进行幂近似而获得的指数，ｂ是对朝上述标准样本照射既定强度的激励光时上述荧光摄像部获得的上述荧光图像的亮度的从上述照明部到上述标准样本ｆｔｅｒ＝Ｂ×ＲＬｂｅｆｏｒｅｙＦＬｂｅｆｏｒｅ、ＲＬｂｅｆｏｒｅ是所获得的荧光图像、参照图像的亮度值，Ａ、Ｂ是常数，ｘ＝（ｃｎ－ｄｍ）／（ｂｃ－ａｄ） （１）ｙ＝（ａｎ－ｂｍ）／（ｂｃ－ａｄ） （２）ａ是对朝上～ｄ，调节上述观察条件使得ε＝｜ａｄ－ｂｃ｜小于等于既定阈值εｍａｘ，上述图像校正部进行如下处理：ＦＬｒｅｖｉｃｅ＝ＦＬａｆｔｅｒ／ＲＬａｆｔｅｒ其中，ＦＬｒｅｖｉｃｅ是校正后的荧光图像的亮度值，ＦＬａｆｔｅｒ＝Ａ×ＦＬｂｅｆｏｒｅｘＲＬａ离和观察角度以及通过上述荧光观察装置对上述标准样本进行摄影而获得的荧光图像和参照图像，调节观察条件，该观察条件调节部根据上述校正装置设定的观察距离和观察角度以及通过上述荧光观察装置对上述标准样本进行摄影而获得的荧光图像和参照图像，计算指数ａ...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：石原康成，
申请(专利权)人：奥林巴斯株式会社，
类型：发明
国别省市：JP
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