一种相对于彼此调整记录基片和至少一个阵列的方法，所述阵列是具有用于安装该阵列的携载结构的打印装置的一部分。该阵列具有呈基本上平行于一个方向的行而布置的用以在记录基片上形成第二测试标记的喷嘴，基片上预打印有第一测试标记。该阵列和记录基片处于可获得相对位置。该方法包括：形成具有第一和第二测试标记的测试图案并检测第一和第二测试标记的位置；基于所述检测的位置针对多个可获得相对位置确定多个偏差因子，其中所述偏差因子中的每一个是一种独特的可获得相对位置的属性、并指示出介于毗邻着的第一和第二标记之间的距离相对于名义距离偏离的量；并选择所述多个可获得相对位置之中满足适合于所述多个偏差因子的一种选择准则的可获得相对位置。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于相对于彼此调整一种记录基片和至少一个阵列的方法，所述 记录基片和所述至少一个阵列具有朝向彼此的相对位置，所述至少一个阵列是具有一种用 于安装所述阵列的携载结构的打印装置的一部分、并具有呈基本上与第一方向平行的行而 排列的用以在记录基片上形成第二测试标记的喷嘴，其中记录基片包括一种包含第一测试 标记的预打印图案，该方法包括形成一种包含第一测试标记和第二测试标记的测试图案 (每个第一测试标记和第二测试标记具有在基片上的位置)，并检测出第一标记和第二标 记的位置。
技术介绍
在一种从现有技术中已知、并具有至少一个打印头的喷墨打印机中，一种安装了 打印头的托架通常沿平行于y轴线的主扫描方向在记录基片上方移动以便记录图像的长 条或长列(swath)。打印头具有沿基本上平行于χ轴线的方向(该方向是副扫描方向)延 伸的至少一个喷嘴阵列。副扫描方向χ垂直于主扫描方向y。因此在托架沿主扫描方向的 行程期间记录下由与打印头的工作状态喷嘴的数量对应的一定数量的像素行构成的图像 长条。在给定的沿χ轴线的基片与阵列的相对位置，阵列和记录基片至少部分地在彼此的 侧翼、并布置为用于把第二测试标记(也称为点)应用在由第一测试标记预打印的基片上。 一些像素行因而由与阵列的喷嘴相对应的第二测试标记构成，而其它像素行由预打印在记 录基片上的第一测试标记构成。第一测试标记形成了一种在打印第二测试标记之前已经存 在于记录基片上的预打印图案。可利用同一打印装置或另一打印装置把预打印图案打印在 基片上。因而用第一测试标记在记录基片上构成预打印像素行，所述第一测试标记与经打 印的第二测试标记一起形成一种测试图案。通常，希望实现由第一测试标记构成的像素行 和由第二测试标记构成的像素行的交错来获得记录图像的高分辨率，并且像素行之间的间 隔应当是尽可能规则的。在托架在预打印的记录基片上方的一个单行程期间，可以实现单 一阵列的分辨率的两倍的打印分辨率。因此，应该比较并分析第一测试标记和第二测试标 记的位置以便确定沿χ轴线的阵列与基片的相对位置。可能不得不调整所确定的相对位置 以在所希望的基片与阵列的相对定位方面达到高精确度。测试图案中的偏差可以被检测并 且可被用来调整阵列和基片的相对位置。另外，像素的定位的常见误差由偏离理想喷射角 度的喷射角度引起。这种缺陷可能由存在于喷嘴中的杂质引起。这种缺陷可导致第一标记 和第二标记的定位之间的偏差。在把第一测试标记预打印在基片上期间，可引起第一测试 标记的定位的偏差；并且在由阵列把第二测试标记打印在预打印的基片上期间，可引起第 二测试标记的定位的偏差。对于图形应用，这种缺陷可导致在图像中出现白条纹或亮条纹， 称为“条带”效应。当应用喷墨技术作为一种制造技术(例如，打印电子学)时，必须在最 大程度上朝着零使定位误差的数量最小化。根据DE 19^^80A1，已知一种用于确定第一成像装置和第二成像装置的相对位 置的方法，包括在记录基片上设置第一成像装置的参考图案的图像、在记录基片的同一部分上设置第二成像装置的参考图案的图像，导致一种组合图案，根据该方法，能够确定第一 图像装置和第二图像装置的相对位置。根据US 2003/0144815，已知另一方法，其中借助于在由第一图像装置和第二图像 装置设置图像之前已存在于记录基片上的基本图案，确定出由第一图像装置和第二图像装 置打印的两个图案的相对位置。
技术实现思路
本专利技术的目的在于改进一种用于在打印装置中相对于彼此调整至少一个阵列和 记录基片的方法，从而使得能够获得交错的像素行、并且在像素行之间存在着规则的间隔。 利用像素行之间的规则间隔，显著减小了 “条带”的现象。通过一种用于在打印装置中相对于彼此调整至少一个阵列和记录基片的方法实 现这个目的，还包括基于所述检测的位置针对多个可获得的相对位置而确定多个偏差因 子，其中所述偏差因子中的每个偏差因子是截然不同的可获得相对位置的属性、并指示出 了介于毗邻的第一与第二测试标记之间的距离相对于名义距离而偏离的量；并且选择出在 所述多个可获得的相对位置之中满足一种适用于所述多个偏差因子的选择准则的一种可 获得相对位置。由于确定了作为可获得相对位置的属性的一种偏差因子，所以能够针对相应的可 获得相对位置来量化介于包括第一测试标记的像素行与包括第二测试标记的像素行之间 的间隔中将会出现的缺陷。偏差因子是像素行之间的距离相对于名义距离偏离的量的特 性。针对多个可获得相对位置而确定偏差因子。因此，对于每个所述可获得位置，量化出打 印图像中将会出现的缺陷。这使得能够选择作为阵列和记录基片的最佳可获得相对位置的 一种可获得相对位置。为了选择最佳可获得相对位置，把一种选择准则应用到归因于所述 多个可获得相对位置的所述多个偏差因子。在根据本专利技术的方法的一个实施例中，所选择的可获得相对位置是一个具有所述 多个偏差因子之中的最小偏差因子的可获得相对位置。利用这种选择准则，所选择的可获 得相对位置导致这样的印刷图像在该图像中，使诸如由偏离的喷射角度引起的缺陷的出 现为最小化的。在根据本专利技术的方法的另一实施例中，最大值函数约束着归因于一种独特的可获 得相对位置的偏差因子，以取用在名义距离与毗邻着的第一和第二测试标记之间距离这二 者之间经计算得到的差的集合之中绝对值最大的差值。为了设置偏差因子而使用这个最大 值函数会导致选择这样一种可获得相对位置在该可获得相对位置，避免了打印图像中的 像素行之间的大间隔。对于诸如抗蚀印刷这样的涉及印刷电子学的应用(其中，打印图案 中的最大偏差必须被最小化并且在墨滴定位中比均勻分布更重要)，这个实施例特别引人 关注。当应用这个方法时，获得可靠的印刷电路板。在根据本专利技术的方法的另一实施例中，平均值函数约束着归因于一种独特的可获 得相对位置的偏差因子，以取用在名义距离与毗邻着的第一和第二测试标记之间距离这二 者之间按照绝对值计算得到的平均的差值。为了设置偏差因子而使用这个平均值函数会导 致选择这样的一种可获得相对位置在该可获得相对位置，像素行之间的平均间隔尽可能 接近于名义值。这对于图形应用特别重要，并导致具有像素分布的良好均勻性的打印图像。在根据本专利技术的方法的另一实施例中，最大值函数约束着归因于一种独特的可获 得相对位置的偏差因子以取用在名义距离与毗邻着的第一和第二测试标记之间距离这二 者之间的最大的差值。利用这个最大值函数，可以选择导致大量地减小图像条带的打印图 像的一种可获得相对位置。在优选实施例中，根据本专利技术的方法还包括下述步骤移动记录基片和阵列中的 至少一个以使阵列和记录基片进入所选择的相对可获得位置。一旦执行了这个步骤，阵列 和记录基片相对于彼此定位，从而使得可以开始在最佳条件下的打印。可以时常地应用这 个方法，以便对包括了一种具备有记录基片的阵列的打印装置进行校准。另一方面，可在打 印装置上使用新基片之前、或者甚至在每次打印操作之前应用该方法。本专利技术还涉及一种打印装置，包括安装在携载结构上的阵列、移动装置和控制装 置，所述阵列具有呈基本上平行于一个方向的行而排列的、用以在记录基片上形成第一标 记的喷嘴，记录基片上包括一种包含第一测试标记的预打印图案，其中在一种可获得相对 位置，阵列沿记录基片移本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种用于相对于彼此调整一种记录基片（２６）和至少一个阵列（１２）的方法，记录基片（２６）和所述至少一个阵列（１２）具有朝向彼此的相对位置，所述阵列是具有用于安装所述阵列的携载结构（１０）的打印装置的一部分、并具有呈基本上平行于第一方向（Ｘ）的行而布置的用以在记录基片（２６）上形成第二测试标记（２２）的喷嘴（１８），其中记录基片（２６）包括一种包含第一测试标记（２４）的预打印图案，该方法包括ａ）通过在记录基片（２６）上应用第二测试标记（２２）而形成测试图案（Ｓ４），每个第一测试标记和第二测试标记具有在基片上的位置，ｂ）检测（Ｓ６）第一测试标记和第二测试标记的位置，其特征在于，该方法还包括：ｃ）基于所述检测的位置来针对多个可获得相对位置（Ｐ１，Ｐ３）确定（Ｓ１０）多个偏差因子（Ｆ１，Ｆ３），其中所述偏差因子（Ｆ１，Ｆ３）中的每个偏差因子是一种独特的可获得相对位置（Ｐ１，Ｐ３）的属性、并指示出介于毗邻着的第一和第二标记之间的距离相对于名义距离偏离的量，并且选择所述多个可获得相对位置（Ｐ１，Ｐ３）之中满足适用于所述多个偏差因子（Ｆ１，Ｆ３）的一种选择准则的可获得相对位置。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：H·维恩斯特拉，
申请(专利权)人：奥西技术有限公司，
类型：发明
国别省市：NL
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