用于光学检查混浊介质的内部的方法和装置制造方法及图纸

提供了一种用于光学检查混浊介质的内部的方法。该方法包括下述步骤：提供宽带光（２）；空间上分离包含在所述宽带光中的多个波段（２ａ，２ｂ，…，２ｎ）；分别调制所述多个波段（２ａ，２ｂ，…，２ｎ）；将多个经调制的波段重组为频谱编码的宽带光束（１１）；使用所述频谱编码的宽带光束（１１）照射混浊介质（８）；使用检测器（９）检测从混浊介质（８）发出的光以及使用解调器（１０）解调被检测光以提供光谱信息。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
用于光学检查混浊介质的内部的方法；该方法包括下述步骤：　　提供宽带光（２）；　　空间上分离包含在所述宽带光中的多个波段（２ａ，２ｂ，…，２ｎ）；　　分别调制所述多个波段（２ａ，２ｂ，…，２ｎ）；　　将多个经调制的波段重组为频谱编码的宽带光束（１１）；　　使用所述频谱编码的宽带光束（１１）照射混浊介质（８）；　　使用检测器（９）检测从混浊介质（８）发出的光以及使用解调器（１０）解调被检测光以提供光谱信息。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：MB范德马克，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL