【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种P型SiC半导体元件的。更具体地,本专利技术涉及一种包括由Ti3SiC2制成的欧姆电极层、具有改进的表面平滑性并且直接形成在P型 SiC半导体上的P型SiC半导体元件的欧姆电极以及其形成方法。
技术介绍
SiC单晶是非常好的热稳定性和化学稳定性、具有高的机械强度,并且抗辐射。此外,与Si(硅)单晶相比,SiC单晶具有极佳的物理特性,诸如高击穿电压和高热传导性。此外,容易通过将掺杂剂添加到SiC单晶而将SiC单晶的导电性类型电子地控制为P型导电性或η型导电性。而且,SiC单晶具有宽带隙(4Η型SiC单晶具有大约3.;3eV的带隙,且6Η 型SiC单晶具有大约3. OeV的带隙)。因此,通过使用SiC单晶,可以实现高温、高频、高压和耐环境的半导体器件,而这样的半导体器件是不能使用诸如Si单晶和砷化镓(GaAs)单晶的其他现有半导体材料来制造。因而,期望将SiC单晶用作下一代半导体材料。已知的是,要将半导体器件投入实际使用,必需有呈现良好的欧姆特性的电极, 即,欧姆电极。呈现欧姆特性的欧姆电极是呈现这样的电流-电压特性的电极,其中,不管电流流动的方向 ...
【技术保护点】
1.一种p型SiC半导体元件的欧姆电极,包括:欧姆电极层,所述欧姆电极层由Ti3SiC2制成,并且直接形成在p型SiC半导体的表面上。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
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