【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及过滤系统中对数降低值的预测方法以及应用这样的一些值控制和监视运行中的过滤系统。
技术介绍
过滤系统去除粒子的能力通常按照对数降低值(LRV)进行测量。对于任何给定的粒子，对数降低值定义为LRV=log10(CinfCeff)----(1)]]>此处Cinf＝流入液体中的粒子浓度，Ceff＝流出液体中的粒子浓度。在计算中使用的粒子可以是任何一种关心的粒子，例如，在消毒系统中它通常是细菌或病毒，但也可以是悬浮的固体。
技术实现思路
本专利技术提出了一种预测薄膜过滤系统中对数降低值的方法，该方法包括以下步骤i)确定通过薄膜的过滤流率；ii)应用完整性试验测量结果，确定薄膜旁通流率；iii)应用确定的过滤流率与确定的旁通流率的比例，按下式推测对数降低值LRV=log10(QfilsQBypass)----(2)]]>申请人已发展了若干确定过滤薄膜完整性的试验，这些试验包括扩散空气流量(DAF)和压力衰减试验(PDT)。根据又一方面，本专利技术提出了一种试验多孔薄膜完整性的方法，该方法包括的步骤有i)湿润薄膜；ii)对薄膜的一侧施加低于薄膜孔隙的越...
【技术保护点】
薄膜过滤系统对数降低值的预测方法，该方法包括以下步骤： ｉ）确定通过薄膜的过滤流率； ｉｉ）应用完整性试验测量结果确定薄膜旁通流率； ｉｉｉ）应用确定的过滤流率与确定的旁通流率的比例，按下式推测对数降低值： ＬＲＶ＝ｌｏｇ↓［１０］（Ｑ↓［ｆｉｌｔ］／Ｑ↓［Ｂｙｐａｓｓ］）。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：迈克尔RL塞尔比，汉弗莱JJ德拉蒙德，沃伦T约翰逊，
申请(专利权)人：USF过滤分离集团公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]
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