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一种斜面坡度测量仪制造技术

技术编号:7115211 阅读:446 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种斜面坡度测量仪,由底座、框架、刻度盘、指针、转轴、重物等组成,指针的中部固定在转轴上,指针的尾部连结一重物,重物为圆盘型、球形或葫芦形,刻度盘位于框架表面以转轴为圆心的圆周上。将本发明专利技术所述斜面坡度测量仪的底座放在待测斜面上,指针尾部的重物在重力作用下,带动指针绕转轴转动并稳定在竖直位置,此时指针所指刻度盘的读数,即为待测斜面的倾斜角。本发明专利技术结构简单,实用方便,能准确测定各种斜坡的倾斜角。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于测量仪器领域,具体地说是一种斜面坡度测量仪
技术介绍
在工程勘测、建筑施工和日常生活等领域,常需要测量各种斜面、坡体的倾斜程度。目前用于坡度测量的尺量法、水准仪法等测量效率较低,并容易受测量对象的限制和测量环境的影响。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题,是提供一种结构简单,操作方便,能测量各种斜面、坡体的斜面坡度测量仪。为了解决上述技术问题,本专利技术的一种斜面坡度测量仪由底座、框架、转轴、刻度盘、指针、重物等组成。底座为长方形,框架连结在底座上,转轴位于框架的正中央,指针的中部固定在转轴上,指针的尾部连结一重物,重物为圆盘型、球形或葫芦形等形状,刻度盘位于框架表面以转轴为圆心的圆周上。本专利技术由于采用上述设计,其结构简单,实用方便,能准确测定各种斜坡的倾斜附图说明下面结合附图对本专利技术作进一步说明。图1是本专利技术所述的斜面坡度测量仪的结构示意图。图2是用本专利技术斜面坡度测量仪测量坡度的示意图。图中1.底座,2.框架,3.刻度盘,4.指针,5.转轴,6.重物,7.把手,8.斜面。 具体实施例方式如图1所示,本专利技术所述斜面坡度测量仪的底座1为长方形,框架2连结在底座1 上,转轴5位于框架2的正中央。指针4的中部固定在转轴5上,可随转轴5—起转动。指针4的尾部连结重物6,重物6为圆盘型、球形或葫芦形等形状。刻度盘3位于框架2表面以转轴5为圆心的圆周上。框架2的顶部设有把手7。实际测量如图2所示,将本专利技术所述斜面坡度测量仪的底座1放在待测斜面8上, 指针4尾部的重物6在重力作用下,带动指针4绕转轴5转动并稳定在竖直位置,此时指针 4所指刻度盘3的读数,即为待测斜面8的倾斜角。权利要求1.一种斜面坡度测量仪,由底座(1)、框架⑵、刻度盘(3)、指针(4)、转轴(5)、重物 (6)等组成,其特征在于指针⑷的中部固定在转轴(5)上,指针(4)的尾部连结重物(6)。2.根据权利要求1所述的一种斜面坡度测量仪,其特征在于刻度盘(3)位于框架(2) 表面以转轴(5)为圆心的圆周上。3.根据权利要求1所述的一种斜面坡度测量仪,其特征在于重物(6)为圆盘型、球形或葫芦形。全文摘要本专利技术涉及一种斜面坡度测量仪,由底座、框架、刻度盘、指针、转轴、重物等组成,指针的中部固定在转轴上,指针的尾部连结一重物,重物为圆盘型、球形或葫芦形,刻度盘位于框架表面以转轴为圆心的圆周上。将本专利技术所述斜面坡度测量仪的底座放在待测斜面上,指针尾部的重物在重力作用下,带动指针绕转轴转动并稳定在竖直位置,此时指针所指刻度盘的读数,即为待测斜面的倾斜角。本专利技术结构简单,实用方便,能准确测定各种斜坡的倾斜角。文档编号G01C9/12GK102346032SQ20111027930公开日2012年2月8日 申请日期2011年9月19日 优先权日2011年9月19日专利技术者朱纯, 许家炜, 陈健 申请人:江南大学本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种斜面坡度测量仪,由底座(1)、框架(2)、刻度盘(3)、指针(4)、转轴(5)、重物(6)等组成,其特征在于:指针(4)的中部固定在转轴(5)上,指针(4)的尾部连结重物(6)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:朱纯陈健许家炜
申请(专利权)人:江南大学
类型:发明
国别省市:32

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