一种中心定位式垂直引伸测量点标架制造技术

本实用新型专利技术公开了一种中心定位式垂直引伸测量点标架，包括垂直设置的垂直点标杆和垂直点标杆基准面，其中，所述垂直点标杆基准面上方设有带磁棱镜基座，所述带磁棱镜基座的中心设有球棱镜；所述垂直点标杆基准面两侧下方设有横向水准器和纵向水准器，所述横向水准器和纵向水准器呈90°角排列；所述垂直点标杆基准面中心设有中心校准点，所述带磁棱镜基座的中心和垂直点标杆中心校准点之间设有中心定位杆。本实用新型专利技术提供的中心定位式垂直引伸测量点标架，通过在垂直点标杆基准面中心设置中心校准点和中心定位杆，并将带磁棱镜基座紧固在垂直点标杆基准面上，测量过程中不需对带磁棱镜基进行重新定位，减少了测量误差和不确定性。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量点标架，尤其涉及一种中心定位式垂直引伸测量点标架，用于膜式螺旋水冷壁试拼装中的点与点间的距离测量和点与点形成的线之间的角度测量，属于长度计量测试

技术介绍
膜式螺旋水冷壁试拼装中的点与点间的距离测量近60米，这些产品的技术要求高，测量近60m两个冲点的长度，只允许有士3mm的公差。随着产品的多元化以及分包产品不断增多，需要经常测量膜式螺旋水冷壁试拼装中的点与点间的距离和点与点形成的线之间的角度测量，原有的垂直测量点标架由于带磁棱镜基座的磁性小，造成基座不能很好的固定，基座经常发生位置变动，需要重新对基座进行中心定位，给测量带来很大的不便，同时增加了测量误差和不确定性。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种中心定位式垂直引伸测量点标架，测量过程中不需对带磁棱镜基进行重新定位，方便测量的同时，减少测量误差和不确定性。本技术为解决上述技术问题而采用的技术方案是提供一种中心定位式垂直引伸测量点标架，包括垂直点标杆、垂直点标杆基准面、纵向水准器、横向水准器、支架板、 支架调节螺丝、带磁棱镜基座、球棱镜、顶尖中心校准杆和中心定位杆，其中，所述垂直点标杆和垂直点标杆基准面为垂直设置，所述垂直点标杆基准面上方设有带磁棱镜基座，所述带磁棱镜基座的中心设有球棱镜；所述垂直点标杆基准面两侧下方设有横向水准器和纵向水准器，所述横向水准器和纵向水准器呈90°角排列；所述垂直点标杆基准面中心设有中心校准点，所述中心校准点与垂直点标杆的顶尖在同一中心线上，所述带磁棱镜基座的中心和垂直点标杆中心校准点之间设有中心定位杆。上述的中心定位式垂直引伸测量点标架，其中，所述带磁棱镜基座中心为锥形，锥形中心为圆孔，所述球棱镜中心、带磁棱镜基座的中心、中心定位杆的轴线、中心校准点与垂直点标杆的顶尖在同一中心轴线上。上述的中心定位式垂直引伸测量点标架，其中，所述带磁棱镜基座中心的内径、中心校准点的内径、顶尖中心校准杆的外径和中心定位杆的外径尺寸大小相同。本技术对比现有技术有如下的有益效果本技术提供的中心定位式垂直引伸测量点标架，通过在带磁棱镜基座的中心和中心校准点之间设置中心定位杆，并将带磁棱镜基座紧固在垂直点标杆基准面上，测量过程中不需对带磁棱镜基进行重新定位，方便测量的同时，减少了测量误差和不确定性，测量误差小于0. 1mm。附图说明图1为本技术中心定位式垂直引伸测量点标架结构示意图；图2为本技术点标架中垂直点标杆基准面结构示意图图3为本技术点标架中顶尖中心校准杆结构示意图。图中1垂直点标杆2垂直点标杆基准面4横向水准器5支架板7支架调节螺丝8带磁棱镜基座10中心校准点11顶尖中心校准杆3纵向水准器 6支架板紧固螺丝 9球棱镜 12中心定位杆具体实施方式以下结合附图和实施例对本技术作进一步的描述。图1为本技术中心定位式垂直引伸测量点标架结构示意图；图2为本技术点标架中垂直点标杆基准面结构示意图。请参见图1和图2，本技术提供的中心定位式垂直引伸测量点标架包括垂直点标杆1、垂直点标杆基准面2、纵向水准器3、横向水准器4、支架板5、支架调节螺丝7、带磁棱镜基座8、球棱镜9、顶尖中心校准杆11和中心定位杆12，所示的垂直点标杆1和垂直点标杆基准面2，两者相互垂直设置；所述的垂直点标杆基准面2中心设有中心校准点10， 如图2所示，中心校准点10与垂直点标杆1的顶尖在同一中心线上；所述的支架板5通过支架板紧固螺丝6垂直固定在垂直点标杆1的下方，并通过3个支架调节螺丝7支撑；所述的横向水准器4和纵向水准器3设于垂直点标杆基准面2两侧的下方成90°角；所述的带磁棱镜基座8安装在垂直点标杆基准面2上方，带磁棱镜基座8的中心和中心校准点10之间设有中心定位杆12 ；所述的球棱镜9放在带磁棱镜基座8的中心。所述的带磁棱镜基座8中心为锥形，锥形中心为圆孔，所述中心校准点10，球棱镜 9中心、带磁棱镜基座8的中心、中心定位杆12的轴线、中心校准点10与垂直点标杆1的顶尖在同一中心轴线上，如图3所示。测量时，用顶尖中心校准杆11穿过带磁棱镜基座8中心的圆孔，对准中心校准点10，然后将中心定位杆12放入带磁棱镜基座8中心的圆孔和中心校准点10中，此时，带磁棱镜基座8的底平面与垂直点标杆1的基准面紧密地吻合在一起，然后在带磁棱镜基座8上放置好球棱镜9 ；把垂直点标杆1的顶尖对准被测量的冲点， 调节与纵向水准器3平行的1根支架调节螺丝7，使纵向水准器3置零，此时垂直点标杆1 的顶尖和该根支架调节螺丝7已形成两个支点；调节与横向水准器4平行的2根支架调节螺丝7，先调节其中的1根，使横向水准器4同样置零，这时已形成3个支点，然后向下轻旋另1根支架调节螺丝7接触底部，此时球棱镜的中心点即是被测量冲点的垂直引伸点，先测得一个冲点的位置，然后按照同样的方法测得另一个冲点的位置，即能通过测量软件计算出两个冲点的距离。同理，测量第三个被测量冲点，即可得到需要的角度。虽然本技术已以较佳实施例描述如上，然其并非用以限定本技术，任何本领域技术人员，在不脱离本技术的精神和范围内，当可作些许的修改和完善，因此本技术的保护范围当以权利要求书所界定的为准。权利要求1.一种中心定位式垂直引伸测量点标架，包括垂直点标杆(1)、垂直点标杆基准面 (2)、纵向水准器(3)、横向水准器(4)、支架板(5)、支架调节螺丝(7)、带磁棱镜基座(8)、 球棱镜(9)、顶尖中心校准杆(11)和中心定位杆(12)，其特征在于，所述的垂直点标杆(1) 和垂直点标杆基准面(2)为垂直设置；所述垂直点标杆基准面(2)上方设有带磁棱镜基座 (8)，所述带磁棱镜基座(8)的中心设有球棱镜(9);所述垂直点标杆基准面(2)两侧下方设有横向水准器(4)和纵向水准器(3)，所述横向水准器(4)和纵向水准器(3)呈90°角排列； 所述垂直点标杆基准面(2)中心设有中心校准点(10)，所述中心校准点(10)与垂直点标杆 (1)的顶尖在同一中心线上，所述带磁棱镜基座(8)的中心和中心校准点(10)之间设有中心定位杆(12)。2.如权利要求1所述的中心定位式垂直引伸测量点标架，其特征在于，所述带磁棱镜基座(8)中心为锥形，锥形中心为圆孔，所述中心校准点(10)，球棱镜(9)中心、带磁棱镜基座(8)的中心、中心定位杆(12)的轴线、中心校准点(10)与垂直点标杆(1)的顶尖在同一中心轴线上。3.如权利要求2所述的中心定位式垂直引伸测量点标架，其特征在于，所述带磁棱镜基座(8)中心的内径、中心校准点(10)的内径、顶尖中心校准杆(11)的外径和中心定位杆 (12)的外径尺寸大小相同。专利摘要本技术公开了一种中心定位式垂直引伸测量点标架，包括垂直设置的垂直点标杆和垂直点标杆基准面，其中，所述垂直点标杆基准面上方设有带磁棱镜基座，所述带磁棱镜基座的中心设有球棱镜；所述垂直点标杆基准面两侧下方设有横向水准器和纵向水准器，所述横向水准器和纵向水准器呈90°角排列；所述垂直点标杆基准面中心设有中心校准点，所述带磁棱镜基座的中心和垂直点标杆中心校准点之间设有中心定位杆。本技术提供的中心定位式垂直引伸测量点标架，通过在垂直点标杆基准面中心设置本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种中心定位式垂直引伸测量点标架，包括垂直点标杆（１）、垂直点标杆基准面（２）、纵向水准器（３）、横向水准器（４）、支架板（５）、支架调节螺丝（７）、带磁棱镜基座（８）、球棱镜（９）、顶尖中心校准杆（１１）和中心定位杆（１２），其特征在于，所述的垂直点标杆（１）和垂直点标杆基准面（２）为垂直设置；所述垂直点标杆基准面（２）上方设有带磁棱镜基座（８），所述带磁棱镜基座（８）的中心设有球棱镜（９）；所述垂直点标杆基准面（２）两侧下方设有横向水准器（４）和纵向水准器（３），所述横向水准器（４）和纵向水准器（３）呈９０°角排列；所述垂直点标杆基准面（２）中心设有中心校准点（１０），所述中心校准点（１０）与垂直点标杆（１）的顶尖在同一中心线上，所述带磁棱镜基座（８）的中心和中心校准点（１０）之间设有中心定位杆（１２）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘璐，王雷，洪家明，
申请(专利权)人：上海锅炉厂有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31