对中子伽马密度测量的校正制造技术

提供了用于确定宽范围地层的精确的中子伽马密度(NGD)测量的系统、方法和装置，该地层包括低氢指数或低孔隙度地层和具有重元素的地层。例如，可以通过发射中子到地层中以使得一些中子由所述地层的元素非弹性散射并生成非弹性伽马射线来获得该NGD测量。可以探测返回到所述井下工具的中子和非弹性伽马射线。相信某些地层的一些特性影响所述地层的快中子输运。从而，如果地层具有一个或多个该特性，则一旦可以确定所述中子伽马密度(NGD)，就可以向所述中子计数率、所述非弹性伽马射线计数率、或所述中子输运校正函数施加校正。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
１．一种方法，包括：使用井下工具的中子生成器来发射中子到地层中，使得所述中子中的一些由所述地层非弹性散射并且生成非弹性伽马射线；使用所述井下工具的中子探测器来探测返回到所述井下工具的中子计数率；使用所述井下工具的伽马射线探测器来探测非弹性伽马射线计数率；确定所述地层是否具有在无附加校正时预期会使得所述中子计数率导致中子伽马密度确定不精确的特性，其中，当所述地层不具有所述特性时，不施加所述附加校正；当所述地层具有所述特性时，通过向所述中子计数率、所述非弹性伽马射线计数率、或所述中子输运校正函数、或其组合施加校正来施加所述附加校正，并且至少部分地基于所校正的中子计数率、所校正的非弹性伽马射线计数率、或所校正的中子输运校正函数、或其组合来确定所述地层的密度；以及当所述地层不具有所述特性时，至少部分地基于所探测的中子计数率、所探测的非弹性伽马射线计数率、或所述中子输运校正函数、或其组合来确定所述地层的密度。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：M·埃文斯，ML·莫博涅，
申请(专利权)人：普拉德研究及开发股份有限公司，
类型：发明
国别省市：VG