一种键槽对称度检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种键槽对称度检测装置，包括检测架主体和若干检测块规，检测架主体的侧面设有导轨，检测架主体上在导轨所在一侧设有凹形检测处，凹形检测处的两侧分别设有用于固定检测块规的左定位装置和右定位装置，检测架主体上还设有可沿与导轨所在位置平行滑动的百分表。此键槽对称度检测装置在检测过程中，分别通过左定位装置和右定位装置来固定检测块规，将检测块规嵌入对应的待检测键槽，并设置运动轨迹与导轨平行的百分表，通过百分表沿导轨滑动来分别测量待检测轴外径最高点时百分表的示数，通过两示数差来得到对称度偏差值，此检测装置及该装置的检测方法调节过程方便，且测量方法简单，节约检测成本的同时，给检测者工作带来了方便，此实用新型专利技术用于对称度检测领域。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种检测装置，特别是涉及一种键槽对称度检测装置。
技术介绍
键槽通过机加工完成后通常需要对轴两侧键槽的对称度进行检测，以往对于键槽对称度的检测一般包括三种方法。方法之一为通过V型块模拟轴的轴线，通过塞块模拟键槽的中心线，两者对比得到对称度值，此种检测方法的原理浅显易懂，测量器具常见易用，并可模拟键的实际工作状态，但此种检测方法中需要调平塞块，使得检测及其不方便。检测方法之二为通过平板与塞块的接触模拟键槽的中心线，通过百分表计算得到轴的轴线，然后将两者对比得到对称度值，此种检测方法可方便模拟键的实际工作状态，但此种检测方法的塞块与平板的接触不易完全接触，特别是对于直径较大的轴，由于重力原因导致重复测量误差较大。第三种检测方法即为通过三坐标测量设备测量外圆得到轴的轴线，测量键槽得到键槽平面的中心线，然后通过计算机计算得到对称度值，此种检测方法可以对任意轴进行测量，但此检测方法测量键槽时不能判断高低点，导致表面粗糙度差的情况下重复性误差大，且此检测方法的检测设备昂贵，不利于在键槽的对称度检测中被推广应用。
技术实现思路
为解决上述问题，本技术提供一种测量过程简单且利于调整的键槽对称度本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种键槽对称度检测装置，其特征在于：包括检测架主体（１）和若干检测块规（２），所述检测架主体（１）的侧面设有导轨（１１），所述检测架主体（１）上在导轨（１１）所在一侧设有凹形检测处（１２），所述凹形检测处（１２）的两侧分别设有用于固定检测块规（２）的左定位装置（３）和右定位装置（４），所述检测架主体（１）上还设有可沿与导轨（１１）所在位置平行滑动的百分表（５）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘冀，潘汝厚，
申请(专利权)人：广州康迪克竞和机械制造有限公司，
类型：实用新型
国别省市：81