【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种可测量纳米颗粒的方法及装置，特别涉及一种基于带通滤波的动 态光散射纳米颗粒測量方法及装置，属于测量
可用于科学研究、生物医药、化工 能源、环境保护等涉及纳米颗粒生产与过程控制的多个领域。
技术介绍
在动态光散射纳米颗粒測量技术中，一般采用数字相关器得到散射光信号的自相 关函数或利用功率谱估计方法得到散射光信号的功率谱密度函数，由此通过矩阵反演获得 纳米颗粒的粒径分布參数。激光器发出的激光由单个或多个透镜組合形成会聚光后照射到溶液中的纳米颗 粒上发生散射，散射光信号中包含了颗粒的粒径信息。散射光信号的探測一般有三种方式一.直接探測散射光信号或经过透镜会聚后 探測；ニ.将散射光信号与光源发出的部分激光干渉后探測；三.将散射光反馈入激光腔 内与腔内激光发生自混频调制激光输出并由设置在激光器后端的光电探测器探測。待测颗粒的散射光信号经相关器处理得到自相关函数权利要求1. 一种基于带通滤波的动态光散射纳米颗粒测量方法，其特征在于，方法步骤为 由激光器发出的激光照射到溶液中的纳米颗粒，颗粒的散射光直接被光电探测器探测，或与原始激光的部分光干涉后被光电探测器探测，或反馈入激光腔内产生自混频信号后被光电探测器探测；由光电探测器探测到的信号经预放大器放大后依次并行送入M路由缓冲器、不同频率中心的带通滤波器和RMS方均根处理器串联而成的电路，得到M个不同频率处的信号方均根值，被A/D采集卡采样，最终获得M个不同频率处的功率谱密度函数，用理论公式可以表示为2.一种实现基于带通滤波的动态光散射纳米颗粒测量方法的装置，特征在于，该装置包括激光器、测量区、...
【技术保护点】
１．一种基于带通滤波的动态光散射纳米颗粒测量方法，其特征在于，方法步骤为：由激光器发出的激光照射到溶液中的纳米颗粒，颗粒的散射光直接被光电探测器探测，或与原始激光的部分光干涉后被光电探测器探测，或反馈入激光腔内产生自混频信号后被光电探测器探测；由光电探测器探测到的信号经预放大器放大后依次并行送入Ｍ路由缓冲器、不同频率中心的带通滤波器和ＲＭＳ方均根处理器串联而成的电路，得到Ｍ个不同频率处的信号方均根值，被Ａ／Ｄ采集卡采样，最终获得Ｍ个不同频率处的功率谱密度函数，用理论公式可以表示为： （５）其中，ｉ是频率通道号，是通道总数；ｊ是颗粒粒径分档号，是颗粒粒径分档总数；ｘｊ是第ｊ档颗粒粒径平均值；是第ｊ档粒径的分档宽度；在颗粒的散射光直接到达光电探测器的情况下有，在颗粒的散射光与原始激光的部分光干涉后到达光电探测器的情况下或者颗粒的散射光反馈入激光腔内发生自混频调制激光输出的情况下有；ｑ是散射矢量的值；Ｄｊ是第ｊ档粒径的颗粒扩散系数，包含了纳米颗粒粒径ｘｊ的信息；ω是与布朗运动有关的角频率...
【技术特征摘要】
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