本发明专利技术属于光学测试领域，涉及一种微区光学透过率测量的方法和装置，特别是在检测激光对玻璃造成的微区损伤方面。光学玻璃是激光应用过程中必不可少的原件，其透过率标志着传输激光能力的强弱，是判断其激光损伤程度的重要依据。随着激光被越来越多地应用于医疗、军事、科研、工业加工等领域，对光学玻璃透过率的测量变得极其重要。由于光学玻璃损伤区域的直径一般很小，所以采用传统分光光度法很难准确测量其透过率。本文提出一种用显微镜与光纤光谱仪组合测量损伤区域的方法和装置，如图1所示。在定量分析出区域大小的同时，测量出此区域损伤前后的透射光谱，并计算出光谱透过率。此技术克服了传统方法测量微区损伤时的误差较大的问题，为测试微小单元透过率或反射率提供了新思路、新方法。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学测试领域，涉及一种微区光学透过率测量的方法和装置，特别是在检测激光对玻璃造成的微区损伤方面。应用领域包括光学部件生产检测、激光与物质相互作用研究、激光加工设备研发等领域。
技术介绍
激光损伤光学玻璃，使得其材料表面的形貌发生变化或在内部产生缺陷，由于其未损伤区域远远大于损伤区域，利用传统的方法测量其透过率，只能观察整体效果，几乎看不出损伤前后的光谱透过率的变化，难以实现准确测量。激光对光学玻璃所造成的损伤微区，传统方法无法测量。本专利中，使用显微镜将损伤微区放大，从而便于测量。显微镜目前已是一种成熟的技术和工具，本专利技术中使用的是 Nikon Epiphot300显微镜，具有放大倍率可调、显微存档、显微测量等功能，可满足本专利要求。在显微镜放大的基础上，利用光纤光谱仪可实现光谱透过率的测量。光纤光谱仪是一种成熟的技术，其采用光纤作为信号耦合器件，将被测光耦合到光谱仪中进行光谱分析，它可以实现可见光波段全谱采集功能，具有体积小、光谱范围宽、分辨率高等特点，其传导光纤为柔性光纤，便于操作。本专利采用的是光纤光谱仪为ocean optics QE6500，传导光纤为多模光纤，其数值孔径为小于0. 35，完全满足本专利技术的要求。
技术实现思路
本专利技术所解决的技术问题是提供一种显微镜与光纤光谱仪组合测试微区透过率方法和装置，适合用于损伤区域小、材料表面出现形貌变化或内部有缺陷的情况下光学玻璃透过率的测量。本专利技术的技术方案是首先使用读数显微镜( 观察光学玻璃毁伤区域的大小以及其在视场中的比例， 利用其分划板标尺功能，测量毁伤区域的大小，然后，利用光纤光谱仪(1)，测量该样品毁伤前后的透射光谱，根据光谱透过率算法，计算出其光谱透过率。测量装置如附图说明图1所示，系统由显微镜O)、光纤光谱仪(1)、多模光纤(3)、样品、透镜(5)构成。使用光谱透过率算法激光对光学玻璃的损伤在显微系统视场中只是很小的一个小区域，将毁伤区域面积记为AD，视场中未毁伤区域面积记为An，那么视场面积为A = AD+An(1)为了测试损伤区域Ad受到损伤后的透过率变化，必须先测试未损伤的光学玻璃的透射光谱，记为Ttl (这里是光谱相对强度，等价于入射光通量)；然后测试毁伤后整个视场的透射光谱，记为TD，那么Ttl和Td在某一波长λ i处的差，就是由于激光毁伤对这一波长的透过率损失，表达式为AT(Ai) = T0(Ai)-Tn(Ai)(2)假如进入光纤的(光谱)光通量在整个视场分布均勻，那么毁伤区域Ad对波长λ i 的光通量损耗权利要求1.一种用微区光学损伤的测试方法和装置，其特征在于·1.测量系统由光纤光谱仪(1)、显微镜⑵和透过率算法组成。显微镜用于观察和测量毁伤区域的大小以及其在视场中的比例；多模光纤C3)用于收集待测光并传导到光纤光谱仪，获得样品透射光谱；透过率算法用于根据样品毁伤前后的透射光谱，计算其光谱透过率。·2.根据权利要求1所述的显微镜( 是读数显微镜，其特征在于其光学系统具有放大倍率调整、标尺读数和底片的显微照相功能，物镜放大倍率大于 5，光学系统数值孔径角大于0. 46。·3.根据权利要求1所述的光纤光谱仪(1)，其特征在于光纤光谱仪(1)可以实现可见光、紫外和近红外波段全谱采集功能，光谱范围为200 IlOOnm传导光纤为多模光纤，其数值孔径为小于0. 35。·4.根据权利要求1所述的透过率算法，其特征在于先测试样品未损伤区域的透射光谱，然后测试损伤区域的透射光谱，样品光谱透过率等于损伤区域的透射光谱除以未损伤区域的透射光谱，以百分制表示。全文摘要本专利技术属于光学测试领域，涉及一种微区光学透过率测量的方法和装置，特别是在检测激光对玻璃造成的微区损伤方面。光学玻璃是激光应用过程中必不可少的原件，其透过率标志着传输激光能力的强弱，是判断其激光损伤程度的重要依据。随着激光被越来越多地应用于医疗、军事、科研、工业加工等领域，对光学玻璃透过率的测量变得极其重要。由于光学玻璃损伤区域的直径一般很小，所以采用传统分光光度法很难准确测量其透过率。本文提出一种用显微镜与光纤光谱仪组合测量损伤区域的方法和装置，如图1所示。在定量分析出区域大小的同时，测量出此区域损伤前后的透射光谱，并计算出光谱透过率。此技术克服了传统方法测量微区损伤时的误差较大的问题，为测试微小单元透过率或反射率提供了新思路、新方法。文档编号G01N21/958GK102269716SQ201010506478公开日2011年12月7日 申请日期2010年10月14日 优先权日2010年10月14日专利技术者张喜和, 张宇, 徐立君, 李昌立, 毕娟, 蔡红星, 谭勇 申请人:长春理工大学本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用微区光学损伤的测试方法和装置，其特征在于：１．测量系统由光纤光谱仪（１）、显微镜（２）和透过率算法组成。显微镜用于观察和测量毁伤区域的大小以及其在视场中的比例；多模光纤（３）用于收集待测光并传导到光纤光谱仪，获得样品透射光谱；透过率算法用于根据样品毁伤前后的透射光谱，计算其光谱透过率。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：谭勇，张宇，蔡红星，李昌立，徐立君，毕娟，张喜和，
申请(专利权)人：长春理工大学，
类型：发明
国别省市：82
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