本发明专利技术提供一种连续光激光粒子分析仪光路系统，包括一个激光整形系统、一个单峰激光空气动力学直径测量系统、一个紫外激光诱发的生物粒子荧光的检测系统，本发明专利技术的结构，沿光束前进方向依次是半导体紫外连续激光器、激光整形透镜组、对称集光椭球反射镜、样气通过光检测区并垂直于激光束的样气通道、雪崩二极管和光电倍增管。本发明专利技术与已有光学系统相比其优点是：用一种光源同时激发粒子散射光和诱发荧光使得结构小型化；使用连续激光来诱发荧光，提高了荧光检测率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及气溶胶检测设备，是连续光激光粒子分析仪的主体部分。
技术介绍
已有的激光粒子分析仪光学系统，激光粒子分析仪光学探头结构原理如图3、图4 所示，1-红光半导体激光器，8-UV脉冲激光器，15-光电倍增管，16-雪崩二极管，含有生物 气溶胶的气体样流进入光检测区，红光光路形成的双光斑激发气溶胶颗粒的散射光由雪崩 二极管接收，紫光光路形成但光斑诱发气溶胶荧光由光电倍增管接受，雪崩二极管和光电 倍增管产生的光电信号由后面的电路部分来处理。该光学探头在实际应用中存在以下问题1、由于激光粒子分析仪要检测气溶胶粒子粒径、浓度以及荧光强度，因此该光学 探头要用两种光源来分别测试粒子的散射光和荧光强度，这使得系统的整体结构较大，随 着国际、国内反恐形式的严峻，特别是生物恐怖是无声、无硝烟的恐怖，在时间、地点上都有 极大的不确定性。该光学探头的激光粒子分析仪不利于携带，对突发地点如野外等机动车 辆无法到达的地点不便使用。2、该光学系统使用UV脉冲激光器来诱发荧光，受脉冲激光器重复频率的限制荧 光检测率较低。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了克服上述问题，提供一种新型的连续光激光粒子分析仪光路 系统。该光路系统具有结构小，荧光检测率高等特点。已满足突发事件场所的气溶胶检测 使用。—种连续光激光粒子分析仪光路系统，利用激光测量空间生物气溶胶粒径、浓度 并鉴别是否为生物粒子，包括一个激光整形系统、一个单峰激光空气动力学直径测量系统、 一个紫外激光诱发的生物粒子荧光的检测系统，由半导体紫外连续激光器、激光整形透镜 组、对称集光椭球反射镜、样气通过光检测区并垂直于激光束的样气通道、雪崩二极管和光 电倍增管构成，光检测区位于对称集光椭球反射镜重合焦点位置。所述的单峰激光空气动力学直径测量系统和紫外激光诱发的生物粒子荧光的检 测系统是由一个半导体紫外连续激光器提供光源。所述的激光整形系统由激光扩束镜和激光聚焦镜组成。激光扩束镜和激光聚焦镜组由一个双凹透镜、一个平凸透镜、一个弯月透镜和一 个柱面镜组成。所述的激光扩束镜和激光聚焦镜组是球面透镜。本专利技术由半导体紫外连续激光器、激光整形透镜组、对称集光椭球反射镜、样气通 过光检测区并垂直于激光束的样气通道、雪崩二极管和光电倍增管组成。本专利技术与已有光学系统相比，其优点是用一种光源同时激发粒子散射光和诱发荧光使其本身结构小型化。使用连续激光来诱发荧光，提高了荧光检测率。附图说明下面根据附图和实施例对本专利技术作进一步详细说明。图1是本专利技术的激光整形结构和光路图。图2是本专利技术的散射光和荧光检测结构和光路图。图3是已有LD121型光学探头激光整形结构和光路图。图4是已有LD121型光学探头散射光和荧光检测结构和光路图。具体实施例方式如图1图2所示，本专利技术的最佳结构为沿光束前进的方向依次为半导体激光器 1，双凹透镜2，平凸透镜3，弯月透镜4和激光扩束镜5组成激光整形镜组。所说的激光扩 束镜5为柱面镜。光检测区位于对称集光椭球镜7的焦点附近。本专利技术的检测过程是来自半导体激光器的激光经过激光整形透镜组在对称集光 椭球镜的焦点附近形成检测用的光斑，气溶胶颗粒进入光检测区垂直经过激光束产生散射 光并被诱发出荧光，一定立体角范围内的散射光和荧光经对称集光椭球镜聚焦后分别被雪 崩二极管和光电倍增管接收，雪崩二极管和光电倍增管产生的光电信号由仪器随后的电子 学部分处理得出检测结果。本专利技术使用一个光源来激发散射光和诱导荧光，仪器结构得到了较大的简化，弥 补了已有仪器使用场地受限和荧光检测率低的不足。以上所述的实施例，只是本专利技术较优选的具体实施方式的一种，本领域的技术人 员在本专利技术技术方案范围内进行的通常变化和替换，都应包含在本专利技术技术方案的保护范 围内，比如在激光整形透镜中增加方解石形成双光斑，虽然荧光灵敏度降低但仍不失为一 种可行性结构。权利要求1.一种连续光激光粒子分析仪光路系统，包括一个激光整形系统、一个单峰激光空气 动力学直径测量系统、一个紫外激光诱发的生物粒子荧光的检测系统，其特征在于由半导 体紫外连续激光器、激光整形透镜组、对称集光椭球反射镜、样气通过光检测区并垂直于激 光束的样气通道、雪崩二极管和光电倍增管构成，光检测区位于对称集光椭球反射镜重合 焦点位置。2.根据权利要求1的连续光激光粒子分析仪光路系统，其特征在于所述的单峰激光空 气动力学直径测量系统和紫外激光诱发的生物粒子荧光的检测系统是由一个半导体紫外 连续激光器提供光源。3.根据权利要求1的连续光激光粒子分析仪光路系统，其特征在于所述的激光整形系 统由激光扩束镜和激光聚焦镜组成。4.根据权利要求3的连续光激光粒子分析仪光路系统，其特征在于激光扩束镜和激光 聚焦镜组由一个双凹透镜、一个平凸透镜、一个弯月透镜和一个柱面镜组成。5.根据权利要求4的连续光激光粒子分析仪光路系统，其特征在于所述的激光扩束镜 和激光聚焦镜组是球面透镜。全文摘要本专利技术提供一种连续光激光粒子分析仪光路系统，包括一个激光整形系统、一个单峰激光空气动力学直径测量系统、一个紫外激光诱发的生物粒子荧光的检测系统，本专利技术的结构，沿光束前进方向依次是半导体紫外连续激光器、激光整形透镜组、对称集光椭球反射镜、样气通过光检测区并垂直于激光束的样气通道、雪崩二极管和光电倍增管。本专利技术与已有光学系统相比其优点是用一种光源同时激发粒子散射光和诱发荧光使得结构小型化；使用连续激光来诱发荧光，提高了荧光检测率。文档编号G01N15/02GK102116729SQ20101003393公开日2011年7月6日 申请日期2010年1月6日 优先权日2010年1月6日专利技术者刘强, 刘毅, 刘航, 宁海波, 张晓清 申请人:北京汇丰隆生物科技发展有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种连续光激光粒子分析仪光路系统，包括一个激光整形系统、一个单峰激光空气动力学直径测量系统、一个紫外激光诱发的生物粒子荧光的检测系统，其特征在于由半导体紫外连续激光器、激光整形透镜组、对称集光椭球反射镜、样气通过光检测区并垂直于激光束的样气通道、雪崩二极管和光电倍增管构成，光检测区位于对称集光椭球反射镜重合焦点位置。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘毅，刘强，张晓清，刘航，宁海波，
申请(专利权)人：北京汇丰隆生物科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：11
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