一种二合一特性阻抗探头制造技术

技术编号:6983081 阅读:327 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种二合一特性阻抗探头,该探头包括外壳和置于外壳内的阻抗电路板,在阻抗电路板上设有伸出外壳的探针A、B和G,A和B分别与阻抗电路板上的差分信号线A和差分信号线B连接,探针G与地平面连接;差分信号线A、差分信号线B与地平面构成差分阻抗线;差分信号线A和差分信号线B间通过地平面隔离;差分信号线A和差分信号线B中的任意一根均与地平面共同构成单端阻抗线;探针A和B中的任意一根均与探针G共同构成单端阻抗测试探头,探针A、B和探针G共同构成差分阻抗测试探头;在外壳上设有与阻抗电路板连接的SMA接口。本发明专利技术具有二合一复合功能,提升了测量效率,延长了使用寿命,保证了测量精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于PCB行业电路板阻抗测量领域。涉及一种阻抗探头,具体地说是一种二合一特性阻抗探头。可用于时域反射法(TDR)阻抗测量设备,如POLAR公司的CITS500,CITS800阻抗测量仪;泰克DSA8200数字串行采样示波器。
技术介绍
特性阻抗是指高频信号或电磁波在传输过程中,传输线上任一点的行波电压与行波电流之比。通俗的说法是高频信号或电磁波传播时受到的阻力,它是电阻抗, 电容抗,电感抗的矢量和。目前通常将特性阻抗分为单端(Single ended)阻抗和差分 (D ifferential)阻抗两种模式。使用两台分辨率不同的时域反射法(TDR)阻抗测量设备,在测试同一条传输线时获得的测试结果。两款设备对传输线阻抗变化的反映不同,一个明显而另一个不明显。TDR 设备感测传输线阻抗不连续的分辨率主要取决于TDR设备发出之阶跃讯号上升时间的快慢,快的上升时间可获得高分辨率。而TDR设备的上升时间往往和测试系统的带宽相关,带宽高的测试系统拥有更快的上升时间。TDR测试设备原理时域反射计是测试印制板特性阻抗最常用的仪器。实验室测试用特性阻抗分析仪有泰克公司的数字串行采样示波器,典本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种二合一特性阻抗探头,其特征在于:该探头包括外壳(1)和置于外壳(1)内的阻抗电路板(2),在阻抗电路板(2)上设有伸出外壳(1)的第一探针A、第二探针B和第三探针G,第一探针A和第二探针B分别与阻抗电路板(2)上的差分信号线A和差分信号线B连接,第三探针G与 地平面连接;差分信号线A、差分信号线B与地平面构成差分阻抗线;差分信号线A和差分信号线B间通过地平面(4)隔离;差分信号线A和差分信号线B中的任意一根均与地平面共同构成单端阻抗线;第一探针A和第二探针B中的任意一根均与第三探针G共同构成单端阻抗测试探头,第一探针A、第二探针B和第三探针G共同构成差分阻抗测试探头;在外壳(1)上设有...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:叶菊珍
申请(专利权)人:南京工业职业技术学院
类型:发明
国别省市:84

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