集成电路测试方法技术

技术编号:6961214 阅读:214 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一集成电路测试方法,包括提供一具有一电压供应器以及一多个控制通道的集成电路测试系统。一第一开关元件连接于电压供应器和一第一集成电路之间,且一第二开关元件连接于电压供应器以及第二集成电路之间。开关元件例如可包括电磁继电器。此继电器可由相对应的测试系统控制通道作控制,选择性地提供电源至每一集成电路。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种集成电路的测试,且特别是有关于一种存储元件的测试。
技术介绍
集成电路的制造有关于由一系列的制造步骤对一芯片进行处理以在芯片上制造出多个集成电路。一旦芯片制程完成,芯片即被切割成个别的集成电路,接着这些个别的集成电路会再经过不同的焊线接合以及封装步骤。然而在这些集成电路使用前,希望能够先测试这些集成电路的操作。在一些案例中,集成电路可在芯片切割前先作测试。或者,集成电路可在焊线接合及封装步骤之后作测试。一般来说,作这些测试是为了验证集成电路不同的电性。这些从测试得到的信息可以输入到计算机中,由计算机将这些测试结果与储存于存储器中的信息进行比较,并且对于集成电路的可接受度提出判定结果。市场上可取得的自动测试设备(Automatic test equipment, ATE)是用来执行集成电路自动测试的设备。举例来说,一广为人知的ATE例子为一名称为“Kalos 1”,的集成电路的芯片测试机台,由Credence SystemsCorporation贩卖制造。Kalos 1设计用来测试闪存。Kalos 1包括一个探针卡,此探针卡包括16个测试位置,给每一测试元件(本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试多个集成电路的方法,其特征在于,该些集成电路包括一第一集成电路以及一第二集成电路,该方法包括:选择一第一通讯信道成为一第一控制通道,以及一第二通讯信道成为一第二控制通道,其中该第一通讯信道和该第二通讯信道为一集成电路测试系统的通讯信道,该集成电路测试系统包括一电压供应器通道;连接一第一开关元件于该电压供应器以及该第一集成电路之间;连接一第二开关元件于该电压供应器以及该第二集成电路之间;以及使用该第一控制通道和该第二控制通道分别控制该第一开关元件和该第二开关元件。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:吴明锡
申请(专利权)人:旺宏电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:71

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