嵌入式设备系统死锁调试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种嵌入式设备系统死锁调试装置及方法，通过在系统死锁发生后产生按键中断或芯片电平拉高中断的中断方式，运行中断程序，在中断处理程序中将系统程序执行状态用LCD屏幕直观地显示出来，让用户快速有效的根据CPU寄存器参数数据，直接查找系统软件编译时的obj或map目标文件来定位故障。本发明专利技术的有益效果是：首先，能够对嵌入式系统的死锁状态进行有效的定位，且极大地的提高了调试效率。其次，不改变系统死锁时的原始运行环境，不会对正常运行的程序产生性能影响。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及嵌入式设备领域，尤其涉及一种嵌入式设备系统死锁调试方法。
技术介绍
随着科学技术的迅速发展，嵌入式系统设备已经大量应用于社会的各个领域，如军事、消费类电子、教学等，嵌入式系统的开发调试已成为提高人们生活水平的重要内容。嵌入式系统是一种微型化的计算机系统，以硬件为基础，以软件为手段来实现用户需要的应用功能。嵌入式系统由于一些未知原因，会导致系统发生死锁。对于死锁的传统调试手段是多次进行调试，并在每次调试之前不断根据上次的调试信息结果加入新的调试信息，采取猜测的手段，不断重复地验证并在各个怀疑出问题的地方多加调试信息，然后根据这些调试信息先后出现的顺序关系来对软件整个系统发生了死锁的情况进行定位。 显然，这种解决嵌入式系统死锁的方法缺乏科学的技术手段，不仅调试效率低下，而且破坏了系统的运行环境，给后续的调试带来更多困难。因此，亟需一种嵌入式系统死锁调试方法，能够显著的提高调试效率，并且能够保留系统死锁时的原始运行环境，从而能够快速、准确地找到影响死锁的原因。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术的缺陷，提出一种嵌入式设备系统死锁调试方法， 该方法能够提高调试效率，并能够保留系统死锁时的原始运行环境。本专利技术采用的技术方案是提供一种嵌入式设备系统死锁调试装置，包括顺序连接的系统检测模块、中断模块和显示模块；其中所述的系统检测模块用于实时检测嵌入式系统的运行状态，并输出中断指令到中断模块；所述的中断模块用于接收系统检测模块的指令中断系统运行，并读取嵌入式系统 CPU寄存器内的参数数据；所述的显示模块用于接收中断模块的指令，以显示嵌入式系统存储器内的参数数据。另外，本专利技术还提供一种嵌入式设备系统死锁调试方法，包括以下步骤a.系统检测模块根据死锁出现的步骤描述操作系统，并对操作系统进行实时检测，若出现死锁，则进入步骤b，若无死锁出现，则继续执行本步骤；b.中断模块执行中断程序，读取嵌入式系统CPU寄存器内的参数数据，并进入步骤c ·’c.将中断模块读取的CPU寄存器内的参数数据在显示模块上显示出来；d.根据寄存器内的参数数据与系统编译时产生的obj或map目标文件对比来定位故障。本专利技术的有益效果是首先本专利技术能够对嵌入式系统的死锁状态进行有效的定位，极大的提高了调试效率。其次，本专利技术不改变系统死锁时的原始运行环境，不会对正常运行的程序产生性能影响。附图说明图1是本专利技术的嵌入式设备系统死锁调试装置结构示意图；图2是本专利技术的嵌入式设备系统死锁调试方法程序流程图。具体实施例方式下面，对照附图和较佳实施例对本专利技术的技术方案进行详细说明。参照图1，嵌入式设备系统死锁调试装置，包括顺序连接的系统检测模块1，中断模块2，显示模块3。其中，系统检测模块1用于实时检测嵌入式系统的运行状态，并输出中断指令到中断模块。中断模块2用于接收系统检测模块的指令中断系统运行，并读取嵌入式系统CPU寄存器内的参数数据。显示模块3用于接收中断模块的指令，以显示嵌入式系统CPU存储器内的参数数据。所述的中断模块2为具有按键中断方式或特定芯片脚电平拉高中断方式的中断模块。所述的显示模块3为IXD显示屏。参见图2，一种嵌入式设备系统死锁调试方法，包括以下步骤a.系统检测模块根据死锁出现的步骤描述操作系统，并对操作系统进行实时检测，若出现死锁，则进入步骤b，若无死锁出现，则继续执行本步骤；b.中断模块执行中断程序，读取嵌入式系统CPU寄存器内的参数数据，并进入步骤c ·’c.将中断模块读取的CPU寄存器内的参数数据在显示模块上显示出来；d.根据寄存器内的参数数据与系统编译时产生的obj或map目标文件对比来定位故障。所述的中断模块2的中断方式为按键中断或特定芯片脚电平拉高中断。所述的显示模块3为IXD显示屏。所述的中断模块还可以包括其他方式的中断，如拉低芯片引脚电平的方式产生中断等。显示模块可以为LED显示屏、CRT显示屏或者其它具有显示功能的显示设备。死锁调试人员使用本专利技术对死锁系统进行调试分析时，根据LCD显示的CPU寄存器参数数据，直接查找系统软件编译时的目标文件就可以定位到系统运行阻塞的位置，所述的目标文件为obj或map等文件。本专利技术公开了一种，通过在系统死锁发生后产生按键中断或芯片电平拉高中断的中断方式，运行中断程序。在中断处理程序中将系统程序执行状态时的CPU寄存器参数数据用LCD屏幕直观地显示出来，让用户快速有效的根据CPU寄存器参数数据，直接查找系统软件编译时的obj或map目标文件来定位故障。本专利技术的有益效果是首先，能够对嵌入式系统的死锁状态进行有效的定位，且极大地的提高了调试效率。其次，不改变系统死锁时的原始运行环境，不会对正常运行的程序产生性能影响。虽然以上结合具体实施方式对本
技术实现思路
进行了详细地说明，但是应当理解到，本领域的技术人员在不违背本专利技术的原理和实质精神的前提下，对本专利技术的实施方式可以作出各种变形或者修改，这些变形和修改均应当落入本专利技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种嵌入式设备系统死锁调试装置，包括顺序连接的系统检测模块、中断模块和显示模块，其特征在于：所述的系统检测模块用于实时检测嵌入式系统的运行状态，并输出中断指令到中断模块；所述的中断模块用于接收系统检测模块的指令中断系统运行，并读取嵌入式系统ＣＰＵ寄存器内的参数数据；所述的显示模块用于接收中断模块的指令，以显示嵌入式系统ＣＰＵ存储器内的参数数据。

【技术特征摘要】
1.一种嵌入式设备系统死锁调试装置，包括顺序连接的系统检测模块、中断模块和显示模块，其特征在于所述的系统检测模块用于实时检测嵌入式系统的运行状态，并输出中断指令到中断模块；所述的中断模块用于接收系统检测模块的指令中断系统运行，并读取嵌入式系统CPU 寄存器内的参数数据；所述的显示模块用于接收中断模块的指令，以显示嵌入式系统CPU存储器内的参数数据。2.如权利要求1所述的嵌入式设备系统死锁调试装置，其特征在于所述的中断模块为具有按键中断方式或特定芯片引脚电平拉高中断方式的中断模块。3.如权利要求1所述的嵌入式设备系统死锁调试装置，其特征在于所述的显示模块为IXD显示屏。4.一种嵌入式设备系统死锁调...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗民，
申请(专利权)人：康佳集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94