用于液晶显示器来源驱动器的内建自测试电路及方法技术

本发明专利技术涉及一种液晶显示器(LCD)来源驱动器的内建自测试(built-inself-test，BIST)电路及方法，所述电路包括：至少一数字模拟转换器(DAC)；和至少一缓冲器，其耦接到个别DAC，其中该缓冲器可重新配置为一比较器。一第一输入信号和一第二输入信号耦接到该比较器。该第一输入信号是一预定参考电压水平。第二输入信号是在一测试偏移范围内的一测试电压。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术一般相关于集成电路，尤其是液晶显示器(LCD)来源驱动器的内建自测试 (built-in self-test, BIST)电路。
技术介绍
一 IXD来源驱动器可以有很多通道(例如，256-1024)。该通道(channel)至通道偏移电压的变化预计仅限于特定电压值，如，小于+/_5mV。该通道至通道偏移电压变化系使用不同测试方法测试。LCD来源驱动器的传统测试器具有的不足之处包括当测试通道或使用较准确的模拟到数字转换器(ADC)时有较高的测试成本。使用具有较精确的高分辨率和较多通道的较高接脚数的一种特殊的混合模式(例如，模拟和数字)的测试器非常昂贵。此外，为了测试，测试器使用共享一 ADC的多工切换器，因此需要昂贵的多工切换器，而测试时间很长， 这将增加测试成本和吞吐量。因此，需要解决上述问题的新电路和方法。
技术实现思路
本专利技术的一目的，提供一种内建自测试(built-in self-test,BIST)电路，其用于一液晶显示器(LCD)来源驱动器，该内建自测试电路包括多个数字模拟转换器(DAC)；多个缓冲器，其中多个缓冲器的每一缓冲器耦接到多个DAC的一个别(res本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种内建自测试电路，其特征在于，其用于一液晶显示器来源驱动器，该内建自测试电路包括：多个数字模拟转换器；多个缓冲器，其中多个缓冲器的每一缓冲器耦接到多个数字模拟转换器的一个别数字模拟转换器，而至少一缓冲器可重新配置为一比较器；一第一输入信号节点，其耦接到该比较器，并经配置以供应一第一输入信号，其是一预定基准电压水平；及一第二输入信号节点，其耦接到该比较器，并经配置以供应一第二输入信号，其是在一测试范围内的一测试偏移电压。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：黄睿政，彭永州，沈瑞滨，
申请(专利权)人：台湾积体电路制造股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71