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纳米硅薄膜晶体管压力传感器制造技术

技术编号:6850851 阅读:293 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
纳米硅薄膜晶体管压力传感器,属于传感器技术领域。它解决了现有压力传感器存在零点漂移的问题。它由第一纳米硅薄膜晶体管、第二纳米硅薄膜晶体管、第三纳米硅薄膜晶体管、第四纳米硅薄膜晶体管和单晶硅衬底组成,第一纳米硅薄膜晶体管的漏极连接电源VDD,第四纳米硅薄膜晶体管的源极接地GND;第二纳米硅薄膜晶体管的源极引出端作为第一输出电压端VOUT1,第一纳米硅薄膜晶体管的源极引出端作为第二输出电压端VOUT2;四个纳米硅薄膜晶体管均设置在单晶硅衬底上,单晶硅衬底的背面为C型硅杯结构,四个纳米硅薄膜晶体管沟道电阻构成惠斯通电桥结构。本发明专利技术用于压力检测。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
1.一种纳米硅薄膜晶体管压力传感器,其特征在于:它由第一纳米硅薄膜晶体管(M1)、第二纳米硅薄膜晶体管(M2)、第三纳米硅薄膜晶体管(M3)、第四纳米硅薄膜晶体管(M4)和单晶硅衬底(1)组成,第一纳米硅薄膜晶体管(M1)的源极连接第四纳米硅薄膜晶体管(M4)的漏极,第一纳米硅薄膜晶体管(M1)的漏极连接第二纳米硅薄膜晶体管(M2)的漏极,第二纳米硅薄膜晶体管(M2)的源极连接第三纳米硅薄膜晶体管(M3)的漏极,第三纳米硅薄膜晶体管(M3)的源极连接第四纳米硅薄膜晶体管(M4)的源极;第一纳米硅薄膜晶体管(M1)的漏极连接电源VDD,第四纳米硅薄膜晶体管(M4)的源极接地GND;第二纳米硅薄膜晶体管(M2)的源极引出端作为第一输出电压端VOUT1,第一纳米硅薄膜晶体管(M1)的源极引出端作为第二输出电压端VOUT2;四个纳米硅薄膜晶体管均设置在单晶硅衬底(1)上,单晶硅衬底(1)的背面为C型硅杯结构,四个纳米硅薄膜晶体管沟道电阻构成惠斯通电桥结构。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:赵晓锋温殿忠庄萃萃李玥
申请(专利权)人:黑龙江大学
类型:发明
国别省市:93

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