一种片状检测样品制造技术

本实用新型专利技术公开了一种片状检测样品，包括片状样品，在片状样品的下面粘接有符合光谱仪规格要求的底座。由于本实用新型专利技术采用了符合光谱仪规格要求的底座，使得片状样品可以直接放入光谱分析仪中进行分析，并可以如方柱体或圆柱体样品一样用车床对待测面进行加工，去除待测面上的氧化层，形成光洁平面，从而保证了分析结果的准确性。同时，还避免了重熔所造成的熔融损失和环境污染。本实用新型专利技术结构简单、设计合理，可在各类金属板材、箔材的实物分析中使用，添补了此类分析样品的空白，值得广泛的推广应用。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种片状检测样品。二
技术介绍
光谱分析是常用的一种能够快速准确的分析出材料中元素组成的方法，通常通过光谱分析仪来完成。但光谱分析仪对样品的规格有特殊的要求。例如GB/T7999-2007对样品要求是长38 42mm，宽33 37mm，高2(T30mm的方柱体样品或直径35 60mm，高2(T30mm 的圆柱体样品。为了确保检测结果的准确，一般还要先用车床将待测面上的氧化层去掉，形成光洁平面后，再用光谱仪分析。但一些带、片状的样品，例如只有广2mm厚的母线软带或薄铝板等铝材，由于无法满足上述规格要求，不能直接用光谱仪分析，只能通过重熔后，塑成上述规格后再分析，而重熔不但会造成熔融损失和环境污染，一些沸点较低的元素也会发生损失，直接影响分析结果的准确性。三、
技术实现思路
本技术的目的是提供一种结构简单、设计合理，可以直接用光谱分析仪进行分析，无需重熔的片状检测样品。为实现上述目的，本技术采用的技术方案为该样品包括片状样品，其特点是在片状样品的下面粘接有符合光谱仪规格要求的底座。由于本技术采用了符合光谱仪规格要求的底座，使得片状样品可以直接放入光谱分析仪中进行分析，并可以如方柱体或圆柱体样品一样用车床对待测面进行加工，去除待测面上的氧化层，形成光洁平面，从而保证了分析结果的准确性。同时，还避免了重熔所造成的熔融损失和环境污染。本技术结构简单、设计合理，可在各类板材、箔材的实物分析中使用，添补了此类分析样品的空白，值得广泛的推广应用。四附图说明图1为本技术的结构示意图；图2为图1俯视图。五具体实施方式如图所示，本技术包括片状样品1，该片状样品1可为母线软带或薄铝板等薄片状铝材。在片状试样1的下面粘接有底座2，该底座2完全符合光谱仪规格要求，可以是长38 42mm，宽33 37mm，高2(T30mm的方柱体；也可以是直径35^60mm,高2(T30mm的圆柱体。本实施方式中采用的是圆柱体底座2。试样1的上面为可用转速为700左右的车床进行加工的待测面3。本技术的制作过程为先将片状样品剪切成40mm左右的小片，然后用台钳子压平，再用502胶粘接在底座2上，待完全干透即可。权利要求1.一种片状检测样品，包括片状样品(1 )，其特征是在片状样品(1)的下面粘接有符合光谱仪规格要求的底座(2 )。2.根据权利要求1所述的一种片状检测样品，其特征是所述的底座(2)为长 38 42mm，宽33 37mm，高20 30mm的方柱体。3.根据权利要求1所述的一种片状检测样品，其特征是所述的底座(2)为直径 35"60mm,高 2(T30mm 的圆柱体。专利摘要本技术公开了一种片状检测样品，包括片状样品，在片状样品的下面粘接有符合光谱仪规格要求的底座。由于本技术采用了符合光谱仪规格要求的底座，使得片状样品可以直接放入光谱分析仪中进行分析，并可以如方柱体或圆柱体样品一样用车床对待测面进行加工，去除待测面上的氧化层，形成光洁平面，从而保证了分析结果的准确性。同时，还避免了重熔所造成的熔融损失和环境污染。本技术结构简单、设计合理，可在各类金属板材、箔材的实物分析中使用，添补了此类分析样品的空白，值得广泛的推广应用。文档编号G01N21/01GK202033281SQ20112006056公开日2011年11月9日 申请日期2011年3月10日 优先权日2011年3月10日专利技术者吴玉春, 段云龙, 汤振明, 计春雷, 金正哲 申请人:抚顺铝业有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种片状检测样品，包括片状样品（１），其特征是：在片状样品（１）的下面粘接有符合光谱仪规格要求的底座（２）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴玉春，段云龙，金正哲，计春雷，汤振明，
申请(专利权)人：抚顺铝业有限公司，
类型：实用新型
国别省市：21