一种新型测试级精密转接器制造技术

本发明专利技术提供一种新型测试级精密转接器，包括可调谐同轴段、壳体、螺套，所述壳体包括壳体一、壳体二，所述壳体一、壳体二通过螺纹配合，所述螺套包括螺套一、螺套二，所述壳体一、壳体二分别固定于螺套一、螺套二内，所述可调谐同轴段固定于壳体一、壳体二内。所述可调谐同轴段包括内导体、绝缘体、外导体、调节件，所述内导体贯穿固定于绝缘体内，所述绝缘体固定于外导体内，在所述外导体表面至少有一个螺纹孔，所述调节件与螺纹孔螺纹配合。本发明专利技术结构简单，具有优异的回波损耗特性，最大限度降低了能量的反射与转接器的叠加效应，消除了转接器由于理论设计和制造公差引起的残余反射，达到了测试级的要求。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种新型测试级精密转接器，在射频同轴转接器范畴内，属微波同轴元件。
技术介绍
射频同轴转接器是微波测试系统中必不可少的同轴元件，其电压驻波比性能对测试系统的测量精度有很直接的影响，也就是说，由它所引起的测试误差往往是不能清除的。 因此，测试系统对测试转接器的驻波比要求是很苛刻的，通常要求在整个测试频率范围内， 测试转接器的驻波比应不大于1.02。目前国内市场上的转接器虽然很多，但其电压驻波比最小只能做到在1. 10到1. 20之间，远远达不到测试级的要求，只能在工程上实用。所以直到现在，国内需求的测试级同轴转器主要还是依赖进口。解决微波测试急需的各种不同形式和规格的测试级同轴转接器，正是本专利技术的技术背景。
技术实现思路
本专利技术为解决上述问题提供一种新型测试级精密转接器，该装置结构简单，消除了转接器由于理论设计和制造公差引起的残余反射，达到了测试级的要求。为达到上述目的，本专利技术所采用的技术方案为一种新型测试级精密转接器，包括可调谐同轴段、壳体、螺套，所述壳体包括壳体一、壳体二，所述壳体一、壳体二通过螺纹配合，所述螺套包括螺套一、螺套二，所述壳体一、壳体二分别固定于螺套一、螺套二内，所述可调谐同轴段固定于壳体一、壳体二内。本专利技术进一步的改进为所述可调谐同轴段包括内导体、绝缘体、外导体、调节件， 所述内导体贯穿固定于绝缘体内，所述绝缘体固定于外导体内，在所述外导体表面至少有一个螺纹孔，所述调节件与螺纹孔螺纹配合。所述内导体包括同轴的内导体一、内导体二、内导体三，所述内导体二通过其两端的凸起嵌入内导体一、内导体三的端面孔中连接固定；所述绝缘体包括同轴的绝缘体一、绝缘体二，所述绝缘体一、绝缘体二分别固定于外导体内孔中的两端，且绝缘体一、绝缘体二的一端面与外导体的两侧端面分别平齐，另一端面分别抵于外导体内孔中台阶面上。所述内导体一、内导体二、内导体三、绝缘体一、绝缘体二、外导体皆呈圆柱形，所述内导体二两端的凸起皆呈圆柱形。为了最大限度地利用同轴段的调节范围，达到调节有最佳响应的结果，在所述外导体表面有三个螺纹孔，所述螺纹孔的轴线与外导体的轴线垂直。所述调节件为螺钉。本专利技术设置了可调谐的同轴段，在同轴段外导体的侧壁上，配置几个可调节深度的螺钉组成调谐组。通过适当调整螺钉的深度，消除转接器由于理论设计和制造公差引起的残余反射，最终使转接器的电压驻波比达到1.01左右，从而达到测试级的要求。本专利技术结构简单，具有优异的回波损耗特性，最大限度降低了能量的反射与转接器的叠加效应，消除了转接器由于理论设计和制造公差引起的残余反射，达到了测试级的要求。附图说明图1为本专利技术的分解结构示意图。图2为可调谐同轴段的剖视结构示意图。图中内导体二 1、凸起1-1、内导体一 2、端面孔21、内导体三3、端面孔31、绝缘体一 4、绝缘体二 5、外导体6、内孔61、台阶面62、螺纹孔63、调节件7、壳体一 8、壳体二 9、螺套一 10、螺套二 11。具体实施例方式下面结合附图与具体实施例对本专利技术作进一步说明。参见图1、图2，一种新型测试级精密转接器，包括可调谐同轴段、壳体、螺套。壳体包括通过螺纹配合的壳体一 8、壳体二 9 ；螺套包括螺套一 10、螺套二 11，壳体一 8、壳体二 9分别固定于螺套一 10、螺套二 11内；可调谐同轴段固定于壳体一 8、壳体二 9 内。可调谐同轴段包括内导体、绝缘体、外导体6、调节件7，内导体包括呈圆柱形、同轴的内导体一 2、内导体二 1、内导体三3，内导体二 1通过其两端的圆柱形凸起1-1嵌入内导体一 2、内导体三3的端面孔21、31中连接固定；绝缘体包括呈圆柱形、同轴的绝缘体一 4、绝缘体二 5，绝缘体一 4、绝缘体二 5分别固定于外导体6内孔61中的两端，且绝缘体一 4、绝缘体二 5的一端面与外导体6的两侧端面分别平齐，另一端面分别抵于外导体6内孔 61中台阶面62上；内导体贯穿固定于绝缘体内。在外导体6表面有三个在同一直线上的螺纹孔63，该三个螺纹孔63的轴向位置选择在外导体6的轴向两端各一个，中部一个，这样设置可最大限度地利用同轴段的调节范围，达到调节最佳响应的结果；本实施例调节件 7为螺钉，螺钉的长度可根据测试频率、抗耐压等电性能确定，一般要略长于螺纹孔63。本专利技术在工作时通过螺套一 10、螺套二 11与测试仪器对应的连接器接口配对连接；将三个螺钉分别旋入三个螺纹孔63，通过调节螺钉的深度，直接改变可调谐同轴段内径向阻抗，引起可调谐同轴段内电感、电容的变化，可以达到消除转接器由于理论设计和制造公差引起的残余反射的目的。由于三个螺钉组成了调谐组，在现场调试时可以兼顾电性能在低频到高频整个频段内的调谐变化，在4GHz以下频率范围其电压驻波比会因其调谐组的交互作用而明显变化并直观体现在仪器上。通过调节三个螺钉的不同深度，最终可以得到一个最优化的电压驻波比曲线。然后可在三个螺纹孔63内注胶密封，使调试的最佳性能状态得到保持固化。将可调谐同轴段装入壳体一 8、壳体二 9内连接固定，再卡接上螺套一 10、螺套二 11后即可作精密测试转接用。其优异的回波损耗特性，最大限度降低了能量的反射与转接器的叠加效应。此测试级精密转接器单件采用对称结构设计，作为其同系列一组测试级精密转接器来考虑，其有效电长度可取一致，在同样的频段、波长一致的情况下，可有效确保其相位的一致性。这点在实际应用中更具实效，可以避免因转接器的介入而引起反射系数矢量特性的改变，其测试值尽可能体现被测件的真实状态。本专利技术辯躺单，消除了織器由預搬i懒崎么葡丨趣嫩励，綱了灘細腰农权利要求1.一种新型测试级精密转接器，其特征在于包括可调谐同轴段、壳体、螺套，所述壳体包括壳体一、壳体二，所述壳体一、壳体二通过螺纹配合，所述螺套包括螺套一、螺套二， 所述壳体一、壳体二分别固定于螺套一、螺套二内，所述可调谐同轴段固定于壳体一、壳体二内。2.根据权利要求1所述的新型测试级精密转接器，其特征在于所述可调谐同轴段包括内导体、绝缘体、外导体、调节件，所述内导体贯穿固定于绝缘体内，所述绝缘体固定于外导体内，在所述外导体表面至少有一个螺纹孔，所述调节件与螺纹孔螺纹配合。3.根据权利要求2所述的新型测试级精密转接器，其特征在于所述内导体包括同轴的内导体一、内导体二、内导体三，所述内导体二通过其两端的凸起嵌入内导体一、内导体三的端面孔中连接固定；所述绝缘体包括同轴的绝缘体一、绝缘体二，所述绝缘体一、绝缘体二分别固定于外导体内孔中的两端，且绝缘体一、绝缘体二的一端面与外导体的两侧端面分别平齐，另一端面分别抵于外导体内孔中台阶面上。4.根据权利要求3所述的新型测试级精密转接器，其特征在于所述内导体一、内导体二、内导体三、绝缘体一、绝缘体二、外导体皆呈圆柱形，所述内导体二两端的凸起皆呈圆柱形。5.根据权利要求2或3或4所述的新型测试级精密转接器，其特征在于在所述外导体表面有三个螺纹孔，所述螺纹孔的轴线与外导体的轴线垂直。6.根据权利要求2所述的新型测试级精密转接器，其特征在于所述调节件为螺钉。全文摘要本专利技术提供一种新型测试级精密转接器，包括可调谐同轴段、壳体、螺套，所述壳体包括壳体一、壳体二，所述壳体一、壳体二通过螺纹配合，所述螺套包括螺套一、螺套二，所述壳体一、壳本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种新型测试级精密转接器，其特征在于：包括可调谐同轴段、壳体、螺套，所述壳体包括壳体一、壳体二，所述壳体一、壳体二通过螺纹配合，所述螺套包括螺套一、螺套二，所述壳体一、壳体二分别固定于螺套一、螺套二内，所述可调谐同轴段固定于壳体一、壳体二内。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邹华安，吴振峰，
申请(专利权)人：常州市武进凤市通信设备有限公司，
类型：发明
国别省市：32