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一种多测点浮动定位表面不平顺测量方法技术

技术编号:6818124 阅读:337 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种多测点浮动定位表面不平顺测量方法,其包括安装基准,支承定位机构,多个测量(点)机构,供电系统,数据采集分析系统及与所述供电系统和数据采集分析系统连接的测量传感器,所述测量安装基准上安置有多个具有确定位置关系的测量机构,每个所述测量机构上安装有位移测量传感器,通过多个测点与被测物体表面的相对位置关系而获得被测体的基本不平顺数据,并进而推算得出不同波长的被测体表面不平顺数据。本发明专利技术灵活方便,结构简单,可完全消除测量定位的系统误差,有效提高测量精度,可对被测物体表面不平顺进行测量,在物体表面平顺度的测量上具有重要应用价值,尤其在轨道不平顺检测上有广阔应用前景。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种物体表面不平顺测量方法,特别是。
技术介绍
我国表面不平顺的检测近几年有所发展,从国外也借鉴了一些检测技术,基 本采用是传统的单点测量方法,单点测量方法是通过计算支撑点的高度与测量传感器的测量值的差值来确定平面的不平顺度,该方法由于支撑点的形位误差难以缩小,导致整个测量过程产生不可避免的系统误差,同时在测量过程中测量机构也会对被测物体表面造成一定的损伤。这些因素在一定程度上这很难满足对表面平顺性测量精度要求高、对表面损伤小的要求。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种测量精度高,结构简单,便于维护,可消除测量的定位误差,对被侧表面损伤极小的表面不平顺测量方法。本专利技术是通过以下技术方案实现的, 包括以下步骤(1)定位采用至少3个传感器线性或曲线排布靠近被测表面,采用定位装置使得排布后各传感器的相对位置关系以及传感器与被测物体表面的距离确定;(2)采集数据利用跟传感器连接的采集分析系统将每个传感器与被测表面的距离进行采集以及分析;(3)连续移动测量将传感器在定位装置的控制下在被测表面移动,采集分析系统同步采集分析数据。本专利技术中,所述步骤(1)中所述传感器为直本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多测点浮动定位表面不平顺测量方法,其特征在于包括以下步骤:(1)定位:采用至少三个传感器线性或曲线排布靠近被测表面,采用定位装置使得排布后各传感器的相对位置关系以及传感器与被测物体表面的距离确定;(2)采集数据:利用跟传感器连接的采集分析系统将每个传感器与被测表面的距离进行采集以及分析;(3)连续移动测量:将传感器在定位装置的控制下在被测表面移动,采集分析系统同步采集分析数据。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:吴湘华曹宏宇应立军彭彪孔德宇吴志祥吴铮何恩腾付艺超
申请(专利权)人:中南大学
类型:发明
国别省市:43

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