电容检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种电容检测装置，能够谋求增加在规定时间内的取入次数来改善检测灵敏度，并回避由于电荷平均化而引起的电压变动量的减少来改善检测精度。该电容检测装置具备：开关(SW21、SW23)，在第1区间将被检测电容(C21)以及参照电容(C22)充电为Vdd，并且将参照电容(C23)以及(C24)充电为地，在第2区间，将被检测电容(C21)以及参照电容(C22)充电为地，并且将参照电容(C23)以及(C24)充电为Vdd；开关(SW22、SW24)，在充电期间，切断被检测电容(C21)以及参照电容(C22)、和参照电容(C23)以及(C24)之间，在电容分配时刻，连接被检测电容(C21)以及参照电容(C22)、和参照电容(C23)以及(C24)；和差动放大器(AMP1)，其差动输入被电荷平均化而保持在参照电容(C23)以及(C24)中的电压。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测微小的静电电容的变化的电容检测装置。
技术介绍
在现有的电容检测装置中，有谋求使检测电压差动化来提高抗噪声性(例如参照专利文献1)。图7是专利文献1记载的电容检测电路的构成图，图8是该电容检测电路的时序图。图7所示的电容检测电路在第1阶段(stage)，仅有开关SWl接通，将第1电容 Cll充电为电压Vdd，将第2电容C12充电为地(ground)，然后，通过断开开关SW1，接通开关SW2，获得在电容C11、C12、C13中将第1电容Cll的电荷量平均化后的电压Vo (+)。通过在电容C13中对该电压Vo(+)进行采样保持，使其成为差动输出的(+)电压。接着，在第2阶段，断开开关SW2，接通开关SW3来将第1电容Cll充电为地，将第 2电容C12充电为电压Vdd，然后，通过接通开关SW4，获得在电容C11、C12、C14中将第2电容12的电荷量平均化后的电压Vo(-)。通过在电容C14中对该电压Vo(-)进行采样保持， 使其成为差动输出的(_)电压。最后，使开关SW5成为接通，通过同时将差动输出的(+)侧和(_)侧送出给差动放大器AMP，能够谋求检测电压的差动化本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种电容检测装置，其特征在于，具备：第１电容，其为检测对象，且包括固定存在的基础电容和可变的电容；第２电容，利用与所述基础电容对应的基础电荷对该第２电容进行充电；第３以及第４电容，从所述第１或第２电容接受电容分配；第１开关单元，其在第１区间，将所述第１以及第２电容充电为第１固定电压，并且将所述第３以及第４电容充电为第２固定电压，在第２区间，将所述第１以及第２电容充电为第２固定电压，并且将所述第３以及第４电容充电为第１固定电压；第２开关单元，其在所述第１区间以及第２区间中的充电期间，切断所述第１以及第２电容、和所述第３以及第４电容之间，在所述第１区间以及第２区间中的电容分配时刻，１对１地连接...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：泽田石智之，尾屋隼一郎，
申请(专利权)人：阿尔卑斯电气株式会社，
类型：发明
国别省市：JP