一种用于平面光源性能检测的检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种用于平面光源性能检测的检测装置，包括用于驱动所述平面光源的驱动电源，以及光检测仪和用于放置光检测仪的支架；所述光检测仪包括用于采集平面光源的光信号的光感传感器以及用于读取所述光感传感器的感测信号的控制器，所述光感传感器固定在所述支架上。本实用新型专利技术的平面光源性能检测的装置，通过设定的电源驱动来进行光源性能检测，检测的光电参数适用一般的平面光源，所述的平面光源主要指LCD中用LED背光源和新兴发展的OLED光源，检测参数包括亮度、色坐标、光谱等。本实用新型专利技术的检测装置结构简单、操作方便、价格便宜。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光源性能检测装置，更具体地说，涉及一种用于平面光源性能检测的检测装置。
技术介绍
半导体照明以其高效、环保、节能逐渐成为照明市场的主流，国内也已明确半导体照明目标及政策。半导体照明中的发光二极管(Light Emitting Diode, LED)渐趋成熟， 其市场应用正不断扩大；而尚未发展成熟的有机电致发光器件(Organic Light Emitting Display, OLED)照明产品虽仍处研发阶段，但其优势仍不胜枚举，未来的OLED相对于传统意义上的照明产品，具有非常明显的优势不但具备可弯曲、柔软等特性，而且在薄如糖果纸的OLED照明产品上任意打洞，也无损其维持正常发光，甚至可以任意裁切等等，因其这些独有的优势，OLED也逐渐成为照明新宠。一般的平面光源，例如OLED等都需要进行亮度、色坐标、光谱甚至是色温等性能的检测，以确保光源的发光品质。目前市场上这方面的设备，大多结构复杂、价格昂贵。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的平面光源性能检测设置的上述结构复杂、价格昂贵的缺陷，提供一种结构简单、价格低廉的用于平面光源性能检测的检测装置。本技术解决其本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种用于平面光源性能检测的检测装置，其特征在于，包括用于驱动所述平面光源的驱动电源，以及光检测仪和用于放置光检测仪的支架；所述光检测仪包括用于采集平面光源的光信号的光感传感器以及用于读取所述光感传感器的感测信号的控制器，所述光感传感器固定在所述支架上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：周明杰，王平，钟铁涛，冯小明，陈吉星，
申请(专利权)人：海洋王照明科技股份有限公司，深圳市海洋王照明技术有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94