【技术实现步骤摘要】
本专利技术的实施例针对垂直腔(cavity)激光器,更具体来说,针对在面内 (in-plane)基于波导光子集成电路中使用的混合硅/III-V垂直腔激光器结构。
技术介绍
虽然硅是引导光线的优良材料并且能以高数据速率检测和调制光线,但它仍然不 能有效地生成大量的光线。硅由于称作间接带隙(bandgap)的基本限制而可能是低效发光 体。间接带隙阻止硅中原子在施加电荷时发射大量光子。硅反而趋向于发射热量。在硅材料上生成光线的一种方式是所谓的混合硅短暂(evanescent)平台。磷化 铟是包括砷化镓的几种特殊材料中之一,它在施加电压时发射作为光线光子的能量。两种 材料可用于制作激光二极管,并且在元素周期表上称作‘III-V材料’,因为它们享有相似特 性。混合硅短暂平台方式涉及使用晶圆(wafer)接合(bonding)来将能够在用于引导 光线的绝缘体上硅(SOI :silicon-on-insulator)晶圆上发射光线的III-V半导体材料固 定到位。采用适当的硅波导设计,通过电流注入在III-V材料中生成的光线被自动耦合到 硅波导中,并且激光被有效地耦合到硅波导 ...
【技术保护点】
1.一种设备,包括:绝缘体上硅(SOI)衬底;所述SOI衬底上的硅波导;在所述硅波导上制造的光栅耦合器;以及垂直III-V半导体装置,在所述光栅耦合器上方接合到所述SOI衬底,其中通过所述光栅耦合器将激光从所述垂直III-V半导体装置横向耦合到所述硅波导中。
【技术特征摘要】
2009.12.30 US 12/6498371.一种设备,包括 绝缘体上硅(SOI)衬底; 所述SOI衬底上的硅波导;在所述硅波导上制造的光栅耦合器;以及垂直III-V半导体装置,在所述光栅耦合器上方接合到所述SOI衬底,其中通过所述光 栅耦合器将激光从所述垂直III-V半导体装置横向耦合到所述硅波导中。2.如权利要求1所述的设备,所述垂直III-V半导体装置是激光器,并且包括 η接触层;量子阱层,包括所述η接触层之上的III-V半导体材料;以及 所述量子阱层之上的P接触层。3.如权利要求2所述的设备,其中,所述垂直III-V半导体激光器还包括 所述量子阱层与所述η接触层之间的超晶格层,在接合期间保护所述量子阱层。4.如权利要求2所述的设备,其中,所述η接触层包括分布式布拉格结构。5.如权利要求2所述的设备,其中,所述ρ接触层包括分布式布拉格结构。6.如权利要求1所述的设备,其中,所述垂直III-V半导体装置是激光器,并且发射波 长大于980nm的光线。7.如权利要求1所述的设备,其中,所述垂直III-V半导体装置是激光器,并且采用二 苯并环丁烯(BCB)接合与所述SOI衬底接合。8.如权利要求1所述的设备,其中,所述III-V半导体装置包括光检测器...
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