本发明专利技术涉及数据存储装置测试仪。公开一种用于测试数据存储装置(DSD)的DSD测试仪。DSD测试仪包括可操作用于从所述DSD接收DSD日志的控制电路，其中DSD日志包括识别至少一个错误状况的至少一个条目。与所述错误状况关联的命令序列被执行以确定DSD是否有缺陷。
【技术实现步骤摘要】
技术介绍
诸如磁盘驱动器和固态驱动器的数据存储装置(data storage device, DSD)在 诸如计算机系统(例如桌上型、膝上型、便携型等)以及消费装置(例如音乐播放器、蜂窝 电话、相机等)的众多应用中采用。原始设备制造商(original equipment manufacture, OEM)将通常从DSD制造商批量购买DSD以便在OEM产品中使用。在安装DSD之前和/或 之后，OEM将进行多次测试以验证DSD没有缺陷。如果检测到问题，则OEM将会把有缺陷的 DSD返回制造商并且请求更换DSD。DSD制造商还可以进行多次生产线测试以在向OEM运送 DSD之前检测问题，以及当其被OEM或者消费者退回时测试DSD。图IA示出磁盘驱动器形式的现有技术DSD的部件，包括在磁盘4上方致动的磁头 2，磁盘4包括由嵌入的伺服扇区4- 限定的多个磁轨6。磁盘驱动器还包括控制电路10， 用于当读取伺服扇区 -8n时解调制读取信号12以及产生磁头2相对于目标磁轨6的位置 误差信号(PES)。用适当的补偿滤波器对PES滤波以产生向音圈电机16施加的控制信号 14，其使致动臂18转动以在降低PES的方向上在磁盘4上方径向地移动磁头2。磁盘驱动器可以包括多个日志，诸如存储磁盘驱动器制造数据的制造日志20、以 及存储用于故障预测的诊断信息的自监视、分析和报告技术(Self-Monitoringjnalysis， and Reporting Technology, S. Μ. A. R. Τ.)日志22。磁盘驱动器可以还包括由控制电路10 内部执行的驱动器自测试(DST) 24以迅速地验证磁盘驱动器是否正确工作。然而，DST 24 进行有限次数的基本测试，其可能不能准确地检测缺陷，导致有缺陷的磁盘驱动器安装到 OEM产品中。最终，有缺陷的磁盘驱动器在现场配置使用时将发生故障，导致OEM产品的昂 贵修理和/或返回。或者，DST M或者其它OEM生产线测试可能错误地检测有缺陷的磁盘 驱动器，该磁盘驱动器被不必要地返回到磁盘驱动器制造商。附图说明图IA示出磁盘驱动器形式的现有技术DSD，其包括在磁盘上方致动的磁头以及控 制电路；图IB例示现有技术的磁盘驱动器的控制电路如何可以保持制造日志以及 S. M. A. R. T.日志以及执行驱动器自测(DST)。图2A示出根据本专利技术的实施例的多个生产线，其均包括用于测试DSD的多个测试 台；图2B例示本专利技术的实施例，其中当测试台中的一个识别故障DSD时，在被返回到DSD制造商之前DSD测试仪对该DSD进行DSD测试，以验证是否其有缺陷；图3示出DSD测试仪，其包括三个舱和反映DSD测试仪状态的灯；图4A-4F示出根据本专利技术的实施例的图形用户界面(GUI)，其在DSD被插入、测试 以及接着从DSD测试仪移开时被自动更新；图5是根据本专利技术的实施例的用于自动测试DSD和更新⑶I以及DSD测试仪上的 状态灯的流程图；图6A示出本专利技术的实施例，其中为多个测试的DSD聚集故障数据和生产线数据并 且所聚集的数据发送到DSD的制造商；图6B示出本专利技术的实施例，其中将故障数据与生产线数据相关，以及所相关的数 据在显示屏上显示以便分析；图7A是根据本专利技术的实施例的流程图，其中生产线数据经过条码读取器输入；图7B是根据本专利技术的实施例的流程图，其中在显示屏上显示与生产线数据相关 的故障数据；图8是根据本专利技术的实施例的流程图，其中使用从DSD读取的一个或者更多个DSD 日志以测试DSD ；图9是根据本专利技术的实施例的流程图，其中使用识别与读取错误关联的命令序列 的DSD错误日志来测试DSD ；图10是根据本专利技术的实施例的流程图，其中执行读取错误之前和读取错误之后 的命令序列以尝试再现该错误；图11是根据本专利技术的实施例的流程图，其中在DSD测试期间当执行命令序列时 DSD的通道参数被边缘化；图12是根据本专利技术的实施例的流程图，其中命令序列包括在重试操作期间执行 的命令；图13示出本专利技术的实施例，其中在DSD测试期间执行的命令序列通过聚集全局命 令序列的子集而产生；图14A示出本专利技术的实施例，其中DSD测试仪包括与显示屏接口的机箱；图14B示出本专利技术的实施例，其中DSD测试仪使用适当的电缆连接(例如通用串 行总线(USB))与DSD相接；图14C示出本专利技术的实施例，其中DSD测试仪包括插入到OEM产品中以进行DSD 测试的USB钥匙；图15示出本专利技术的实施例，其中DSD包括磁盘驱动器；以及图16示出本专利技术的实施例，其中DSD包括固态驱动器。具体实施例方式图2A和图2B示出用于测试DSD 28B2的数据存储装置(DSD)测试仪26。DSD测试 仪沈包括可操作用于执行图7A的流程图的控制电路，其中通过接口接收生产线数据(步 骤30)，并且该生产线数据和DSD 28B2相关。控制电路对DSD 28B2执行DSD测试(步骤 32)，以及将DSD测试产生的故障数据以及生产线数据发送到DSD ^ 的制造商(步骤34)。 可以使用任何合适的测试来确定适当的故障数据。例如，一些实施例包括进行以下将更详细描述的测试。在图2A的实施例中，若干生产线以装配线模式处理DSD，其中每个生产线包括用 于对DSD进行特定操作的多个测试台。例如，OEM可以将磁盘驱动器或者固态驱动器形式 的DSD安装到诸如桌上型或者膝上型计算机的合适的消费装置中。在将DSD安装到消费装 置之前和/或之后，在各个测试台对DSD进行大量生产线测试。例如，第一测试台可以将测 试图像复制到DSD上，第二测试台可以使用测试图像进行各种诊断，第三测试台可以在DSD 上安装操作系统，而第四测试台可以配置操作系统，例如基于消费装置将被销售的国家。当 在每个生产线测试台时，可以检测DSD具有的问题，诸如被DSD的控制电路内部识别的问 题(例如写入/读取错误、伺服错误、电压调整错误、时序错误等)，或者操作员识别的错误 (例如DSD的声学噪声过高、DSD完全不响应等)。DSD可能因为众多原因而发生故障，诸如DSD的部件中的缺陷或者消费装置的部 件中的缺陷、制造DSD时的缺陷或者生产线中的缺陷。例如，DSD可以用有缺陷的存储介质 (例如有缺陷的磁盘)制造，其妨碍用户数据的适当存储和检索。在另一示例中，消费装置 可以被制造为具有带缺陷的部件(例如风扇)，其可能干扰DSD的适当操作。在又一示例 中，生产线可以包括有缺陷的装配工具(例如有缺陷的扭矩驱动器)，当安装在消费装置的 机箱中时其损坏DSD。在再一示例中，生产线可以包括有缺陷的电源，其在测试期间向DSD {共 ο当DSD在生产线测试台上发生故障时，不将其立即返回到DSD制造商或者作为缺 陷物丢弃，而是在DSD测试仪沈上测试DSD。如果DSD通过DSD测试，则其可以重插入到生 产线中(例如在生产线的起点)。如果DSD没有通过DSD测试，则其可以被丢弃或者返回到 制造商进行修理。在任何情况下，可以将故障数据和关联的生产线数据聚集，并且接着进行 评估以识别和纠正与生产线或DSD的制造工艺关联的问题。例如，可能需要更换特定生产 线的测试台处的有缺陷的装配工具或者电源以解决该问题。在另一示例中，可以修改制造 DSD的部件(本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种用于测试数据存储装置即ＤＳＤ的ＤＳＤ测试仪，所述ＤＳＤ测试仪包括控制电路，所述控制电路可操作用于：从所述ＤＳＤ接收ＤＳＤ日志，其中所述ＤＳＤ日志包括识别至少一个错误状况的至少一个条目；执行与所述错误状况关联的命令序列；以及响应于所执行的命令序列确定所述ＤＳＤ是否有缺陷。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：L·J·达菲，C·E·斯蒂芬斯，D·K·布莱克布恩，
申请(专利权)人：西部数据技术公司，
类型：发明
国别省市：US
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。