一种搪玻璃搪烧缺陷修补用底面釉配方及其制备方法组成比例

技术编号:6682061 阅读:206 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种搪玻璃搪烧缺陷修补用底面釉配方,其特征是配方为A物料和B物料按1:1组合。使用本发明专利技术的优点是:使得铁胎制品在出现缺陷的地方涂覆上底面釉后,烧结一次即可完成对缺陷的修补,在保证瓷面的性能和强度的前提下,大大降低了修补工序,减少烧成时间,降低了生产成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种修补用底面釉配方及其制备方法,尤其涉及一种搪玻璃搪烧缺 陷修补用底面釉配方及其制备方法。
技术介绍
在传统的搪玻璃生产过程中,由于铁胎表面烧制搪玻璃过程中,在连续的瓷层结 构上不可避免的会产生局部的缺陷,常规的方法是把缺陷部位的瓷层磨掉,露出金属光泽, 先喷一遍底釉,进行一次烧成,一次烧成完成后,再喷一遍或两遍面釉,进行第二次烧成,最 终形成完整的瓷面。这种工艺比较耗时,经过两次烧成,工艺复杂,能耗较高。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供,在 产品出现缺陷的地方涂覆上底面修补釉料后,烧结一次即可完成对缺陷的修补工作,工艺 简单,减少烧成时间,大大节约了生产成本。经过修补后的整体搪瓷面具有一定的附着强 度、耐高温差变化和耐强酸、强碱等的腐蚀性能。本专利技术是这样来实现的,一种搪玻璃搪烧缺陷修补用底面釉的配方为A物料和B 物料按1:1组合使用,其中A物料的各种原料的质量百分比为SiO260 70B2O32 5Al2O30. 5 5TiO22 6Na2O10 15K2O0 6Li2O2 5MnO20 1CoO0 1· 5 ;其中B物料的各种原料的质量百分比为SiO2本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种搪玻璃搪烧缺陷修补用底面釉配方,其特征是配方为A物料和B物料按1:1组合使用,其中A物料的各种原料的质量百分比为:  SiO↓[2] 60~70  B↓[2]O↓[3] 2~5  Al↓[2]O↓[3] 0.5~5  TiO↓[2] 2~6  Na↓[2]O 10~15  K↓[2]O 0~6  Li↓[2]O 2~5  MnO↓[2] 0~1  CoO 0~1.5;  其中B物料的各种原料的质量百分比为:  SiO↓[2] 40~50  B↓[2]O↓[3] 10~20Al↓[2]O↓[3] 1~6  TiO↓[2] 2~5  CaO 2~5  Na↓[2]O 10~20  MnO↓[2...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:董永全杨柱强
申请(专利权)人:南昌航空大学
类型:发明
国别省市:36

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